半導(dǎo)體研(yán)發
，新(xīn)材(cái)料(liào)表(biǎo)征(zhēng)
，產綫批量質檢
，微(wēi)弱電流測(cè)試場景中(zhōng)，你是(shì)否(fǒu)長期受到通(tōng)道數量(liáng)不(bù)足(zú)
，測(cè)試(shì)速率(shuài)緩慢(màn)
，測量(liáng)精度漂移(yí)
，數據穩定(dìng)性差等(děng)痛(tòng)點(diǎn)困擾？針對(duì)半(bàn)導體(tǐ)
，功能(néng)材(cái)料(liào)
，工業化(huà)量產批量(liáng)測試(shì)的關鍵(jiàn)難題(tí)，華(huá)測(cè)儀器 HC-PAX 多通道電流矩陣(zhèn)模塊(kuài)，一站式解(jiě)決(jué)多(duō)通(tōng)道微弱(ruò)信(xìn)號測(cè)試瓶(píng)頸。

設(shè)備(bèi)單機箱標配8~128 通道(dào)，支(zhī)持多機箱級聯(lián)擴(kuò)展，可(kě)拓展(zhǎn)至(zhì)1024 通道(dào)，適(shì)配(pèi)小(xiǎo)批(pī)量科研(yán)實驗與大(dà)規模(mó)產綫(xiàn)並行測試需求；測量(liáng)電流量程覆(fù)蓋 ±1 pA~±100 mA，全域(yù)兼(jiān)顧微弱電(diàn)流與中(zhōng)電流測試，滿足高(gāo)阻材料絕(jué)緣漏電
，半(bàn)導(dǎo)體元(yuán)器件(jiàn)
，電(diàn)子器(qì)件(jiàn)的電學表征需求。硬(yìng)件搭載電路設計，實現(xiàn) ＜1 μV 低(dī)熱電(diàn)動(dòng)勢
，＜1 fA 低漏電(diàn)流，搭配(pèi)電磁屏障優(yōu)化結構(gòu)與低(dī)串擾(rǎo)布綫(xiàn)工(gōng)藝，規避信號幹擾，保障微弱電流測量(liáng)準(zhǔn)確(què)度(dù)
，長期穩定(dìng)性與優(yōu)異(yì)的數據重復(fù)性。搭(dā)載20 ms 高速(sù)通道切(qiē)換能力，支持動態(tài)負載自適應切換與(yǔ)高速(sù)連續掃(sǎo)描測(cè)試，大(dà)幅優化批量(liáng)測(cè)試效(xiào)率，縮(suō)短研(yán)發迭(dié)代與產(chǎn)綫檢(jiǎn)測周期；采用(yòng)模塊(kuài)化(huà)集(jí)成(chéng)架構，通道(dào)卡(qiǎ)支持(chí)熱插拔設計，可根(gēn)據(jù)實驗
，量(liáng)產(chǎn)需求(qiú)靈活(huó)增減(jiǎn)配置(zhì)，拓(tuò)展(zhǎn)靈(líng)活(huó)
，維護便捷，無(wú)縫(féng)適配實(shí)驗室(shì)科研(yán)開(kāi)發與工業量(liáng)產質檢雙(shuāng)場景。

設(shè)備(bèi)兼容性強，可(kě)對接靜電計(jì)
，數(shù)字源(yuán)表(biǎo)等測試(shì)儀器，輕(qīng)鬆(sōng)將(jiāng)單台傳(chuán)統儀(yí)表(biǎo)升(shēng)級為多通道自(zì)動化集成(chéng)測試平台，降(jiàng)本(běn)增(zēng)效。普(pǔ)遍適用於半導體分(fēn)立器(qì)件(jiàn)
，薄(báo)膜(mó) / 陶瓷高阻功(gōng)能材(cái)料
，各(gè)類傳感(gǎn)器
，無(wú)源元(yuán)器(qì)件等(děng)領域的批量檢測與科學研究，是(shì)材料科研(yán)
，半(bàn)導體行業(yè)量產測試的(dí)理(lǐ)想測試(shì)配套方(fāng)案。

華測儀器(qì)的業(yè)務涵(hán)蓋從單台(tái)測試設備供(gōng)應(yīng)到整(zhěng)體(tǐ)實驗室規劃建(jiàn)設(shè)的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材料或(huò)功能材料電性(xìng)能(néng)檢測實驗室(shì)，華(huá)測儀(yí)器可(kě)提供從方案(àn)設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務。