還在(zài)被導(dǎo)通 / 絕緣(yuán)電阻(zǔ)測(cè)試難題困(kùn)擾(rǎo)？阻值數(shù)據漂移不(bù)準(zhǔn)，單(dān)機單測效(xiào)率低(dī)下，現場電磁(cí)與溫(wēn)場幹(gān)擾(rǎo)偏(piān)大，多批次(cì)樣(yàng)品檢(jiǎn)測(cè)耗(hào)時長(cháng)？華測儀器 Huace DT-L3 導(dǎo)通絕緣電阻測試係統提(tí)供測試新方(fāng)案。

設(shè)備標(biāo)配(pèi)四(sì)端(duān)子(zǐ)測(cè)試(shì)架構
，減少測試引(yǐn)綫(xiàn)損耗(hào)，端子(zǐ)接(jiē)觸(chù)電阻(zǔ)帶(dài)來(lái)的測(cè)量(liáng)偏差
；導(dǎo)通(tōng)測微歐(ōu)級(jí)高(gāo)準(zhǔn)度
，分(fēn)辨率(shuài)可達100μΩ
，絕(jué)緣(yuán)端(duān)可準(zhǔn)確(què)捕(bǔ)獲(huò) pA~fA 量級微弱(ruò)漏(lòu)電(diàn)流(liú)
，直流(liú)測試(shì)架構抗工頻(pín)，空間(jiān)雜波(bō)幹擾能(néng)力(lì)出眾
，惡劣工(gōng)況數據(jù)依(yī)舊(jiù)穩定可靠。硬件搭載(zǎi)標準128通道並行測(cè)試
，通道(dào)數(shù)量按需(xū)靈活擴容
，大批(pī)量試樣(yàng)同步導通(tōng) + 絕(jué)緣一(yī)站式並行檢(jiǎn)測
，減少測試工時(shí)
；配(pèi)套(tào)自研 Huacepro 智能(néng)測(cè)控(kòng)軟件
，全流程自(zì)定義(yì)測(cè)試方案，參(cān)數閾值(zhí)，判定(dìng)標(biāo)準
，測(cè)試(shì)數據(jù)自(zì)動歸檔(dàng)存儲
，意外斷電數(shù)據(jù)完(wán)整留存不丟失。 可搭(dā)配高低溫(wēn)試驗(yàn)箱(xiāng)
，準(zhǔn)確控溫(wēn)模(mó)擬(nǐ)
，從(cóng)低(dī)溫至(zhì)高溫全(quán)工況服役(yì)環境(jìng)
，減少(shǎo)溫度(dù)變(biàn)化對阻值的影(yǐng)響
，實現溫變環(huán)境下導(dǎo)通，絕(jué)緣特(tè)性連續溯源(yuán)測(cè)試。

普遍(biàn)適配印刷(shuā)電路(lù)板通孔(kǒng)導通(tōng)評估，BGA焊料連接性評(píng)估(gū)，開關(guān)，繼(jì)電(diàn)器等各(gè)種接觸(chù)電(diàn)阻(zǔ)評(píng)估，芯(xīn)片(piàn)電容器接合可靠性評(píng)估(gū)等多(duō)領域品(pǐn)質(zhì)檢測(cè)需求(qiú)。