麵(miàn)對(duì)半(bàn)導體，新(xīn)材料(liào)行業(yè)單儀(yí)表通(tōng)道(dào)數量少，多路測試布綫(xiàn)繁瑣(suǒ)，設備(bèi)投(tóu)入成本(běn)高(gāo)，微弱電(diàn)流測(cè)試不穩(wěn)等(děng)行(háng)業(yè)痛點(diǎn)，華測儀器 HC-PAX 多通道(dào)電流矩陣模(mó)塊(kuài)憑借高(gāo)密(mì)度(dù)模(mó)塊(kuài)化(huà)架(jià)構(gòu)，為科(kē)研實驗(yàn)室與量產產綫(xiàn)提(tí)供靈活(huó)可控，高準(zhǔn)度(dù)，可規(guī)模化(huà)擴(kuò)展的電流自動化測試新方案。

模(mó)塊(kuài)化靈活(huó)擴(kuò)容

產品采用(yòng)高密度集成(chéng)設計(jì)，單機(jī)箱集(jí)成可達(dá)128 通(tōng)道，整機空間(jiān)利用(yòng)率大幅優化，減少機櫃櫃體(tǐ)占用空(kōng)間，對比(bǐ)傳統單通(tōng)道配綫方案，顯著降(jiàng)低(dī)機櫃(guì)采購，繁(fán)雜綫(xiàn)纜布綫(xiàn)與後期運(yùn)維成本。通道(dào)以8 通道為(wéi)選配(pèi)單元，按(àn)需(xū)靈活加(jiā)裝通道卡(qiǎ)，支持多機箱(xiāng)級(jí)聯堆疊(dié)，係(xì)統可(kě)拓展(zhǎn)至(zhì)1024 通道(dào)，同時(shí)通(tōng)道卡支持熱插拔(bá)，設備維(wéi)護，通(tōng)道(dào)增(zēng)減無需整機(jī)停機斷電，不(bù)中(zhōng)斷(duàn)整(zhěng)套測試係(xì)統(tǒng)運行。

毫(háo)秒級(jí)極(jí)速切換

硬件搭(dā)載矩陣開(kāi)關電(diàn)路，標(biāo)準(zhǔn)20ms單通道切(qiē)換速度(dù)，實現毫(háo)秒(miǎo)級通(tōng)路(lù)快速啟(qǐ)停(tíng)與切(qiē)換(huàn)，適(shì)配動(dòng)態負(fù)載(zǎi)切(qiē)換，多路器件連(lián)續高速循(xún)環掃描等復雜(zá)工況，打破(pò)傳(chuán)統開關矩(jǔ)陣切換滯後，測試(shì)節(jié)拍受限瓶頸(jǐng)，優化整綫(xiàn)測(cè)試(shì)吞(tūn)吐(tǔ)效率(shuài)，縮短(duǎn)批(pī)量(liáng)元(yuán)器件(jiàn) I-V 特(tè)性掃(sǎo)描周期(qī)。

寬(kuān)量(liáng)程全(quán)覆蓋(gài)

電(diàn)流(liú)量程(chéng)全域覆蓋±1pA~±100mA，依托低漏電流，低(dī)熱電動勢綫路(lù)設計，減(jiǎn)少綫路熱(rè)電(diàn)幹擾(rǎo)與(yǔ)串(chuàn)擾(rǎo)噪聲(shēng)，pA 級微(wēi)弱漏(lòu)電測(cè)量(liáng)數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠(kào)，重復性優異，一套(tào)設備(bèi)可(kě)兼顧高阻絕(jué)緣材(cái)料微漏測(cè)試，常(cháng)規元器(qì)件(jiàn)工作(zuò)電流檢測等，實現從(cóng)微(wēi)弱(ruò)微(wēi)電流(liú)到(dào)常規(guī)器件測(cè)試，無(wú)需搭配多(duō)台不(bù)同量(liáng)程(chéng)測(cè)試儀(yí)表。

強(qiáng)兼容(róng)易集(jí)成

硬(yìng)件(jiàn)接口(kǒu)標準化(huà)適配市(shì)麵(miàn)主流(liú)靜(jìng)電(diàn)計，高(gāo)準(zhǔn)度數字(zì)源(yuán)表，皮安表等測試(shì)儀器，無(wú)需改造原有主控(kòng)儀(yí)表，僅通過 HC-PAX 即(jí)可將單台測(cè)量儀表升級(jí)為多(duō)通(tōng)道(dào)級(jí)自動化(huà)測試平台，軟件(jiàn)層麵(miàn)支持恒流輸出(chū)，脈衝(chōng)激(jī)勵，分段程控掃(sǎo)描多(duō)工(gōng)作(zuò)模(mó)式可(kě)切換(huàn)，內置多(duō)通(tōng)道單(dān)獨時序編程功能(néng)，可自(zì)定義(yì)多路器(qì)件(jiàn)分(fēn)時(shí)，同步(bù)測(cè)試邏(luó)輯，快速搭建自動(dòng)化程控測(cè)試(shì)方(fāng)案(àn)。

普(pǔ)遍適配高(gāo)阻材(cái)料與(yǔ)元(yuán)件(jiàn)測試，半(bàn)導(dǎo)體器件特性分析，傳感器(qì)測試與標(biāo)定，電(diàn)池與(yǔ)儲能測試，靜電與ESD研究，光(guāng)電與(yǔ)光伏器(qì)件測試(shì)，環(huán)境監(jiān)測與科學(xué)儀器，多器件並(bìng)行參數測(cè)試等領域。