熱(rè)電(diàn)材料(liào)科(kē)研測試中(zhōng)，頻(pín)繁遇到(dào)數據(jù)重(zhòng)復性差，溫(wēn)控上(shàng)限不(bù)足，多種(zhǒng)異型樣品(pǐn)無法裝(zhuāng)夾的(dí)難題(tí)
？華測(cè)儀器 HC-RD-1100 塞(sāi)貝(bèi)克係(xì)數(shù)電阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)，提供解決塞(sāi)貝克與電阻(zǔ)率測(cè)試新(xīn)方案(àn)。

儀器(qì)配(pèi)備(bèi)室溫(wēn)~1100℃寬(kuān)溫域(yù)溫控係(xì)統(tǒng)，溫區規(guī)格可(kě)按需(xū)選(xuǎn)配，搭(dā)配多(duō)氣氛氣路結構，提供惰性，氧(yǎng)化(huà)，還原(yuán)，真空(kōng)多氣氛環(huán)境(jìng)，準確模(mó)擬材料高(gāo)溫服(fú)役(yì)環境，避免樣品高(gāo)溫氧化變質，適(shì)配高溫(wēn)熱(rè)電陶瓷(cí)，多(duō)種(zhǒng)半導(dǎo)體(tǐ)，熱電(diàn)合(hé)金(jīn)等(děng)塊狀試樣性能表征(zhēng)。

設備可(kě)一(yī)鍵(jiàn)同步完(wán)成塞(sāi)貝(bèi)克係(xì)數，電(diàn)阻率(shuài)兩項(xiàng)關鍵參數(shù)采集，同工位同步測試(shì)省(shěng)去二次裝樣(yàng)誤(wù)差；采(cǎi)用靜(jìng)態(tài)直(zhí)流法測定(dìng)塞(sāi)貝(bèi)克(kè)，測量(liáng)範圍(wéi)為(wéi)1~2500μV/K；四端(duān)法測(cè)試(shì)電阻(zǔ)率，測(cè)量範圍覆(fù)蓋(gài) 0.01~2×10⁵S/cm，可(kě)減少(shǎo)引(yǐn)綫電阻(zǔ)，界(jiè)麵(miàn)接(jiē)觸電阻(zǔ)幹擾(rǎo)，數據穩定性更強(qiáng)。

自研三(sān)明治可調(tiáo)樣品(pǐn)支架，探針間(jiān)距(jù)支持(chí) 4/6/8mm 靈(líng)活切換，裝(zhuāng)夾鬆緊可(kě)控，可適配(pèi)圓(yuán)柱(zhù)形，棱柱(zhù)形(xíng)，圓盤狀(zhuàng)等多種外形尺寸(cùn)試樣(yàng)，保(bǎo)障樣品接觸(chù)穩(wěn)定性，減少測(cè)量誤差。

標(biāo)配 Huace pro 智(zhì)能(néng)測控(kòng)軟(ruǎn)件，支持測(cè)試參數設(shè)置(zhì)，激(jī)勵信號(hào)調控(kòng)，實時(shí)曲(qū)綫采集與(yǔ)數據自動(dòng)處(chǔ)理(lǐ)，全流程可視化(huà)操(cāo)作(zuò)，簡(jiǎn)化(huà)試驗步(bù)驟(zhòu)，大(dà)幅優化(huà)批量試樣的(dí)檢測效率，是(shì)高校(xiào)實驗(yàn)室(shì)，新材料(liào)企業熱電性(xìng)能評(píng)測(cè)設備。