離子遷(qiān)移失(shī)效(xiào)具備強隱(yǐn)蔽性，前期(qī)無明顯外(wài)觀(guān)變化，僅表(biǎo)現為(wéi)絕(jué)緣電(diàn)阻緩(huǎn)慢劣化(huà)，故(gù)障爆(bào)發(fā)無規律，電子(zǐ)組(zǔ)件長期可靠(kào)性(xìng)難以量(liáng)化(huà)管(guǎn)控。華測儀器(qì)絕緣電阻劣化(huà)（離(lí)子遷(qiān)移）評估(gū)係(xì)統采用集成架(jià)構：恒溫恒濕環(huán)境(jìng)倉 + 多(duō)通(tōng)道高(gāo)精(jīng)度電阻采集主機(jī)；工況(kuàng)準確復現(xiàn)：模擬(nǐ) 85℃/85% RH 濕(shī)熱疊(dié)加直(zhí)流(liú)偏壓等(děng)復(fù)雜(zá)服役(yì)環境；全過程動(dòng)態(tài)監測(cè)：長期持續(xù)加壓，實時存(cún)儲(chǔ)絕(jué)緣電(diàn)阻變(biàn)化數據(jù)，追溯(sù)失(shī)效演(yǎn)變過程(chéng)。

高性能(néng)測試配(pèi)置(zhì)

通(tōng)道能力：標(biāo)準 128 單獨(dú)通(tōng)道，可拓(tuò)展(zhǎn) 960 通道並行測試

測(cè)量量程(chéng)：10⁵~10¹⁵Ω 全區(qū)間覆(fù)蓋，高(gāo)低絕(jué)緣均可準(zhǔn)確檢測(cè)

電(diàn)壓(yā)定(dìng)製(zhì)：100V–1500V 直流(liú)測試電壓，適配多(duō)行業測(cè)試規(guī)範(fàn)

耐(nài)久測(cè)試：支持(chí)1~1000小時不間斷連續(xù)老(lǎo)化

高(gāo)速(sù)采(cǎi)集(jí)：2分鐘完(wán)成128 通道完(wán)整掃描(miáo)，批(pī)量測試效(xiào)率(shuài)得(dé)到(dào)優化

多方麵防護(hù)保(bǎo)障

搭載(zǎi)過壓，過流(liú)，過溫三重硬件(jiàn)保護，高(gāo)壓(yā)測(cè)試全程(chéng)逐通道實時監控；發生(shēng)短路(lù)，過(guò)溫，漏電異常(cháng)時(shí)係(xì)統自動切斷高(gāo)壓，留(liú)存故(gù)障溯源數據，保(bǎo)障(zhàng)長時(shí)間無人(rén)值(zhí)守(shǒu)老(lǎo)化(huà)測試(shì)過(guò)程(chéng)穩定(dìng)。

可(kě)完(wán)成絕緣材料(liào)，PCB 電路(lù)板，功率器(qì)件(jiàn)，封裝(zhuāng)組件離子遷移可靠(kào)性(xìng)驗證(zhèng)，縮短研發(fā)迭(dié)代(dài)周期(qī)，減少隱(yǐn)性(xìng)失效(xiào)，穩(wěn)定產(chǎn)品出廠(chǎng)可靠(kào)性(xìng)。