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華測(cè)儀器 HCLD-2 低壓漏電起痕試(shì)驗儀用於檢測(cè)固(gù)體(tǐ)絕緣材料(liào)表麵(miàn)耐漏(lòu)電(diàn)蝕損(sǔn)性(xìng)能(néng),準確測(cè)定(dìng)相比(bǐ)電痕化指(zhǐ)數(shù) (CTI),耐(nài)電痕化(huà)指(zhǐ)數 (PTI),為(wéi)材(cái)料絕(jué)緣(yuán)可靠性驗證,產品(pǐn)安規認(rèn)證(zhèng)提(tí)供準確試驗依(yī)據(jù)。
設(shè)備配備低通濾波電流監(jiān)測單(dān)元(yuán),濾(lǜ)除測(cè)試(shì)雜波(bō)幹擾,穩(wěn)定采集(jí)漏電電流(liú)信(xìn)號,保障(zhàng)檢測(cè)數據重(zhòng)復性(xìng);搭(dā)載(zǎi)過壓,過流,門限(xiàn)多(duō)重(zhòng)防(fáng)護功能,出(chū)現(xiàn)擊穿,電(diàn)壓(yā)電(diàn)流異(yì)常(cháng)時切斷回路,多角(jiǎo)度(dù)守護設備與(yǔ)人(rén)員(yuán)操作穩定。
配套自(zì)研 Huace Pro 智能測(cè)試(shì)軟件(jiàn),具備(bèi)斷(duàn)電自動存檔(dàng)功(gōng)能(néng),試驗數據(jù),實(shí)時曲(qū)綫(xiàn)與試(shì)樣圖像(xiàng)均(jūn)可完整留(liú)存,重啟後(hòu)一鍵(jiàn)恢(huī)復測(cè)試(shì)記(jì)錄;內(nèi)置(zhì)多套(tào)主流(liú)檢(jiǎn)測標準,可直(zhí)接調用,同時(shí)支持(chí)自(zì)定義(yì)試驗(yàn)參(cān)數(shù)。
整(zhěng)機(jī)可調參數覆蓋(gài)多(duō)元測(cè)試需求:試驗電(diàn)壓 100V~1000V 可按需定製(zhì),滴(dī)液(yè)高度 30~40mm 連續(xù)調(tiáo)節,滴液間隔 1s~999s 可設置(zhì)。設(shè)備(bèi)支(zhī)持(chí)兩種試驗(yàn)終止(zhǐ)邏(luó)輯(jí),可設定(dìng)50滴(dī),100滴(dī)定量停機(jī);若(ruò)檢測到漏電流≥0.5A 並持續 2s,將自動(dòng)判定試樣(yàng)電痕擊(jī)穿並結束(shù)試驗(yàn),判定(dìng)邏(luó)輯(jí)符合標準。
儀器(qì)普(pǔ)遍應用於電(diàn)工(gōng)電子元器件,半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)封裝基(jī)材,改性工程(chéng)塑料,家(jiā)電絕緣(yuán)零(líng)部(bù)件,新(xīn)能(néng)源(yuán)絕緣墊片(piàn)等(děng)行(háng)業(yè),滿(mǎn)足研發(fā)性(xìng)能測試,來(lái)料質(zhì)檢,第三方(fāng)實驗室認(rèn)證檢(jiǎn)測等多種場景(jǐng)使(shǐ)用(yòng)。

微(wēi)信(xìn)掃(sǎo)一(yī)掃