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絕緣材料測試儀器

表麵電(diàn)位(wèi)衰減(jiǎn)測試(shì)係(xì)統(tǒng)/測試(shì)儀絕緣材料(liào)電(diàn)阻評價(jià)平台(tái) 導通(tōng)電阻測(cè)試係(xì)統電熱(rè)老化(huà)罐真(zhēn)空(kōng)電(diàn)熱老(lǎo)化(huà)測試(shì)係統高阻計擊(jī)穿電壓(yā)測定儀表(biǎo)麵(miàn)體積電(diàn)阻(zǔ)率(shuài)測試(shì)儀(yí) 耐(nài)電弧(hú)測試(shì)儀高(gāo)壓(yā)/漏(lòu)電起(qǐ)痕試(shì)驗儀(yí) 低(dī)壓(yā)/漏電起(qǐ)痕(hén)試(shì)驗(yàn)儀(yí) 導(dǎo)電與防靜電材料電阻(zǔ)率介(jiè)電常數與(yǔ)介質損(sǔn)耗測試儀(yí) 高溫(wēn)直流(liú)測試(shì)係統

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高(gāo)溫(wēn)四(sì)探針(zhēn)測(cè)量(liáng)係(xì)統Huace-600測(cè)試(shì)儀器(qì)

更(gēng)新時間(jiān)：2023-12-01

型號：

瀏(liú)覽量(liáng)：2660

操控(kòng)性好(hǎo)高溫四(sì)探針測量係(xì)統Huace-600測試儀器(qì)，該係統可(kě)以測(cè)量矽，鍺(zhě)單(dān)晶（棒(bàng)料，晶片）電阻率(shuài)，測定矽(guī)外延層(céng)，擴散(sàn)層(céng)和離(lí)子注(zhù)入層(céng)的方(fāng)塊電阻(zǔ) 以及(jí)測量(liáng)導(dǎo)電玻(bō)璃(lí)（ITO）和其(qí)它導電(diàn)薄膜的方塊(kuài)電阻(zǔ)，該(gāi)設備(bèi)按照單晶(jīng)矽(guī)物理(lǐ)測試方法(fǎ)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的(dí)。
了解(jiě)詳(xiáng)情(qíng)
高溫直流電阻率(shuài)測試係(xì)統(tǒng)

更新時間：2025-09-18

型(xíng)號(hào)：

瀏覽(lǎn)量：3394

高溫直流(liú)電阻率測試係統HCGR-12KV： 1，采(cǎi)用(yòng)超低(dī)紋(wén)波係(xì)數高(gāo)壓直(zhí)流(liú)電(diàn)源，保證(zhèng)測試電(diàn)壓的穩定度(dù)。 2，采用(yòng)保障(zhàng)試(shì)驗(yàn)人員(yuán)及試(shì)驗設備(bèi)的； 3，采用(yòng)吉(jí)時(shí)利6585皮安表采(cǎi)集電流，采集精度高，量程自動跟隨(suí)與(yǔ)切換(huàn)，可(kě)以實時(shí)采集(jí)電(diàn)壓(yā)，電流(liú)，電阻曲(qū)綫(xiàn)； 4，具(jù)備(bèi)升(shēng)壓，恒壓(yā)等(děng)功(gōng)能於一(yī)體，對於(yú)研(yán)究常(cháng)溫與高溫(wēn)下材料的(dí)電阻率(shuài)極為方便
了(liǎo)解詳情
高溫直流電阻率測試(shì)係(xì)統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測(cè)

更新時間(jiān)：2023-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：3465

高(gāo)溫(wēn)直(zhí)流電(diàn)阻率(shuài)測試(shì)係統HCGR-12KV-北(běi)京華測(cè)采集範圍(wéi)： ●GB/T 10581-2006 絕(jué)緣材料在高溫(wēn)下(xià)電阻和(hé)電(diàn)阻率的試(shì)驗(yàn)方(fāng)法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直(zhí)流(liú)棒形懸式復合絕緣(yuán)子技術條(tiáo)件(jiàn)
了(liǎo)解(jiě)詳情
時間自由設定高溫直流(liú)電(diàn)阻(zǔ)率測試(shì)係統

更(gēng)新(xīn)時(shí)間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：3247

時(shí)間(jiān)自由設(shè)定高(gāo)溫(wēn)直流(liú)電(diàn)阻(zǔ)率測試(shì)係(xì)統(tǒng)設備優勢(shì)： 1，采(cǎi)用超低(dī)紋波係數高(gāo)壓(yā)直流(liú)電源，保證測試(shì)電(diàn)壓的(dí)穩定度(dù)。 2，保障試(shì)驗(yàn)人(rén)員及(jí)試驗設(shè)備(bèi)的(dí)； 3，采用吉(jí)時(shí)利(lì)6585皮安表采(cǎi)集(jí)電(diàn)流(liú)，采(cǎi)集精(jīng)度高，量程自動跟隨與切(qiē)換，可以(yǐ)實時采(cǎi)集電壓(yā)，電流，電(diàn)阻曲綫； 4，具備升(shēng)壓(yā)，恒(héng)壓等(děng)功能(néng)於一體(tǐ)，對於(yú)研究常溫與(yǔ)高溫下(xià)材(cái)料(liào)的(dí)電阻率極為(wéi)方(fāng)便；
了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
自動歸(guī)零(líng)高(gāo)溫直流電(diàn)阻(zǔ)率測試係統(tǒng)

更新(xīn)時間(jiān)：2024-06-13

型(xíng)號：

瀏覽(lǎn)量(liáng)：3286

自(zì)動歸(guī)零高溫直流(liú)電阻率測試(shì)係統(tǒng)適合範圍(wéi)： ●GB/T 10581-2006 絕緣(yuán)材料在高溫(wēn)下(xià)電阻(zǔ)和電阻率的試驗方(fāng)法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直(zhí)流棒形懸式復合(hé)絕(jué)緣子技術條件(jiàn)
了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
自動生成(chéng)報(bào)表(biǎo)高(gāo)溫直流(liú)電阻(zǔ)率(shuài)測(cè)試係(xì)統

更新時間(jiān)：2023-08-29

型號(hào)：

瀏(liú)覽量：2435

自動(dòng)生(shēng)成報表(biǎo)高溫直(zhí)流電阻率(shuài)測試係統設(shè)備優勢(shì)： 1，采用超(chāo)低紋(wén)波係(xì)數高壓直(zhí)流電(diàn)源，保證(zhèng)測試電壓(yā)的穩定(dìng)度。 2，保障試驗人員及試驗(yàn)設(shè)備(bèi)的(dí)； 3，采(cǎi)用吉時利6585皮(pí)安表采(cǎi)集電流，采(cǎi)集(jí)精度(dù)高，量程自動(dòng)跟隨與切(qiē)換，可以實(shí)時采(cǎi)集電壓，電流(liú)，電阻(zǔ)曲(qū)綫(xiàn)； 4，具(jù)備升壓，恒壓等(děng)功能於(yú)一體，對於研究常(cháng)溫與(yǔ)高溫下(xià)材料的電(diàn)阻率極為方便(biàn)
了(liǎo)解詳情(qíng)
HC2661型(xíng)手(shǒu)持(chí)式四(sì)探針(zhēn)測試儀器

更新時間(jiān)：2024-06-13

型(xíng)號：

瀏覽(lǎn)量：2506

HC2661型(xíng)手(shǒu)持式四探針測(cè)試儀(yí)器可(kě)測量(liáng)片(piàn)狀，塊狀半(bàn)導(dǎo)體材料(liào)的徑(jìng)向和軸向電阻率及擴散(sàn)層(céng)的薄(báo)層電(diàn)阻，適(shì)用於(yú)半導體和(hé)太陽能材料測試的(dí)要(yào)求，也可對分(fēn)立電(diàn)阻進(jìn)行測量(liáng)，USB接(jiē)口可(kě)為(wéi)用戶(hù)提供(gōng)遠程控(kòng)製(zhì)及(jí)測(cè)試數據的(dí)統計和分(fēn)析。由於(yú)采用(yòng)了(liǎo)電(diàn)池(chí)和(hé)外接電源兩種(zhǒng)供電方(fāng)式，既能(néng)適應固定場(cháng)合對元器件進(jìn)行檢(jiǎn)測(cè)，又(yòu)可(kě)隨(suí)身攜(xié)帶(dài)以(yǐ)滿(mǎn)足測試人員的(dí)現(xiàn)場測試要求(qiú)。
了(liǎo)解詳情(qíng)
HC2810B型LCR數(shù)字電(diàn)橋檢測(cè)儀(yí)器

更新(xīn)時(shí)間：2023-08-29

型號：

瀏(liú)覽量：2346

HC2810B型LCR數字(zì)電橋(qiáo)檢測(cè)儀(yí)器是(shì)一(yī)種(zhǒng)測試速度快，精度高，測試範圍(wéi)寬的通用(yòng)阻(zǔ)抗(kàng)測(cè)量儀(yí)器。四(sì)個測試(shì)頻率(shuài)點，Z高(gāo)至(zhì)10kHz, 30Ω ，100Ω兩種(zhǒng)不同信號(hào)源輸出阻(zǔ)抗可使儀器測量結(jié)果與眾多(duō)LCR結(jié)果(guǒ)相，同時也能適(shì)應陶(táo)瓷(cí)電容(róng)器(qì)對(duì)測量(liáng)電(diàn)平的(dí)要(yào)求。
了(liǎo)解詳情

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