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簡要描(miáo)述(shù):耐電弧(hú)試驗儀HCND-20kv:耐電弧(hú)測(cè)試儀(yí)器(qì)是(shì)根(gēn)據GB 1411-78《固(gù)體(tǐ)電(diàn)工(gōng)絕(jué)緣材料高(gāo)壓小電流間歇耐電(diàn)弧試(shì)驗方(fāng)法》,IEC 61621及(jí)ASTM D495設計(jì),製造的,並符合JEC 149,UL 746A等試(shì)驗(yàn)方(fāng)法(fǎ)。
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| 品牌(pái) | 華(huá)測儀器 | 電動機(jī)功(gōng)率(shuài) | /kW |
|---|---|---|---|
| 外形尺寸 | /mm | 重(zhòng)量 | /kg |
| 應用領(lǐng)域 | 化工,能(néng)源,電子/電(diàn)池(chí),電(diàn)氣(qì),綜合(hé) |
耐(nài)電(diàn)弧(hú)試驗儀(yí)HCND-20kv
本儀(yí)器(qì)是在相距6.35mm的(dí)兩鎢棒(bàng)電極(jí)上,由間隙(xì)到連(lián)續(xù)施(shī)加12500V電壓(yā)和10~40mA工頻的電(diàn)弧電流,使試(shì)樣表麵經受(shòu)逐漸燃弧條件(jiàn),從而(ér)較(jiào)細(xì)地分(fēn)辨(biàn)出(chū)材料(liào)的(dí)耐電弧(hú)性,以從電(diàn)弧產生至材(cái)料破壞所(suǒ)經(jīng)過(guò)的全部時間(jiān)作(zuò)為評(píng)定結(jié)果(guǒ)。
耐電(diàn)弧試驗儀HCND-20kv
符合標準:
●《GB/T 1411-2002 幹固體絕(jué)緣材料 耐高(gāo)電壓,小(xiǎo)電(diàn)流(liú)電弧放電(diàn)的(dí)試驗》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650,JEC149,UL746A等(děng)試驗(yàn)方法
儀(yí)器(qì)優勢(shì): 
采用(yòng)PLC係統,光電隔離,穩(wěn)定;
瞬間(jiān)抑製浪湧(yǒng)對控製(zhì)係(xì)統的衝(chōng)擊
多級循環(huán)電壓(yā)采集(jí)技術(shù),保(bǎo)證(zhèng)試驗測試精(jīng)度(dù);
●多(duō)級循(xún)環(huán)采(cǎi)集技(jì)術:
華(huá)測(cè)自(zì)主開發(fā)的(dí)多(duō)級(jí)循環電(diàn)壓采(cǎi)集方式(shì),大(dà)大(dà)提高目前(qián)電(diàn)弧試驗(yàn)普遍(biàn)采(cǎi)用手動及幹擾(rǎo)狀(zhuàng)態下(xià)電(diàn)壓及電流采集方式。
●低通濾(lǜ)波監測技術(shù):
材料耐(nài)電弧試驗在(zài)10-40mA電流(liú)下(xià)進行,電(diàn)磁幹(gān)擾不僅(jǐn)影(yǐng)響試驗(yàn)精(jīng)度,同時也造(zào)成通訊中(zhōng)斷等一係(xì)列(liè)問題。
為好(hǎo)解決這一難題,華(huá)測將低(dī)通濾(lǜ)波(bō)技(jì)術(shù)在(zài)電弧(hú)試驗(yàn)儀(yí)器運(yùn)用(yòng)。
●遠程(chéng)技術:
將(jiāng)遠程技(jì)術(shù)在電(diàn)弧(hú)試(shì)驗儀(yí)上應用(yòng),試(shì)驗人(rén)員(yuán)可(kě)遠(yuǎn)距(jù)離控製(zhì),同(tóng)時(shí)可(kě)通過互(hù)聯(lián)網進行在(zài)綫診斷(duàn),升壓(yā),維護等(děng)一係(xì)列問題。
軟件功能(néng):
●操(cāo)作係(xì)統:支持(chí)XP,win7,win8係統,操作人性化;
●數據導出(chū):試驗結果方便(biàn)導出(chū)。
●實(shí)驗報(bào)告(gào):自定義(yì)報(bào)告(gào)名稱,並(bìng)對實(shí)驗報告進行(háng)打(dǎ)印;
●試(shì)驗方式:手(shǒu)動試驗,自動試驗;
●試(shì)驗方法:IEC ASTM多(duō)種選擇;
●參數設(shè)置:可(kě)以根據不同的試(shì)驗(yàn)方式及試驗方(fāng)法靈活設(shè)置(zhì)所(suǒ)需(xū)的(dí)不同(tóng)參(cān)數值
●功(gōng)能:可(kě)針對(duì)設備(bèi)進行設置
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