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高溫鐵電測試儀(yí)/分析儀

簡(jiǎn)要(yào)描(miáo)述:高溫(wēn)鐵電測試(shì)儀(yí)/分(fēn)析儀用(yòng)於鐵電體的(dí)鐵電(diàn)測(cè)量(liáng),本測(cè)試係統(tǒng)主要包括(kuò)可編程信號源,微電(diàn)流放大(dà)器,積分(fēn)器(qì),放(fàng)大倍數可編程(chéng)放大(dà)器,模(mó)/數(shù)轉換(huàn)器數(shù)/模轉(zhuǎn)化(huà)器,微(wēi)機接口(kǒu)部分(fēn),微(wēi)機(jī)和(hé)應用軟件(jiàn)等(děng)部分組(zǔ)成。

  • 產(chǎn)品型(xíng)號(hào):HCTD-800
  • 廠商性(xìng)質(zhì):生(shēng)產(chǎn)廠家
  • 更(gēng)新時(shí)間(jiān):2024-12-12
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量(liáng):3189

詳細介紹(shào)

品牌(pái)華(huá)測儀器應用(yòng)領域(yù)化(huà)工(gōng),能(néng)源(yuán),電子/電池,電(diàn)氣(qì),綜合

高(gāo)溫鐵(tiě)電測(cè)試儀(yí)

產品名(míng)稱:高溫鐵(tiě)電測試儀(yí)

產品型號:HCTD-800高溫鐵電測試(shì)儀/分析(xī)儀(yí)

品牌:北京(jīng)華測


產(chǎn)品介紹

本測(cè)試(shì)儀(yí)用於鐵電(diàn)體的鐵電測量,本測試(shì)係統(tǒng)主要包(bāo)括(kuò)可編程信號源,微(wēi)電流(liú)放(fàng)大器(qì),積(jī)分器,放(fàng)大倍數可編(biān)程放大器(qì),模(mó)/數轉(zhuǎn)換(huàn)器(qì)數/模(mó)轉化(huà)器(qì),微機接(jiē)口部(bù)分(fēn),微機和應用軟件(jiàn)等(děng)部分組(zǔ)成。

本測(cè)試係統(tǒng)采用(yòng)虛地(dì)模式測量電(diàn)路,與傳(chuán)統的(dí)Sawyer-Tower模(mó)式(shì)相比,此電路取消(xiāo)了外接電容(róng),可(kě)減小(xiǎo)寄(jì)生(shēng)元件的影響。此(cǐ)電(diàn)路(lù)的測(cè)試(shì)精度僅(jǐn)取(qǔ)決於積(jī)分器積(jī)分(fēn)電容的(dí)精(jīng)度(dù),減(jiǎn)少了(liǎo)對(duì)測試的影響(xiǎng)環(huán)節,比較(jiào)容易(yì)定標(biāo)和(hé),並且(qiě)能實現(xiàn)較(jiào)高的測量(liáng)準確度(dù),它不僅(jǐn)能畫出鐵(tiě)電薄膜(mó)的電滯(zhì)回綫,還(huán)可以(yǐ)定(dìng)量(liáng)得(dé)到鐵(tiě)電(diàn)薄膜材料的(dí)飽(bǎo)和極化ps,剩餘(yú)極(jí)化(huà)Pr,矯頑場Ec,漏電流(liú)Ik等(děng)參(cān)數,以(yǐ)及對鐵電(diàn)薄膜材料鐵電(diàn)疲(pí)勞(láo),鐵電(diàn)保持(chí)的(dí)測試。能(néng)夠較全(quán)麵(miàn)準(zhǔn)確地(dì)測(cè)量(liáng)鐵電薄膜的(dí)鐵電。儀(yí)器(qì)采(cǎi)用(yòng)一體(tǐ)化(huà)設計,實(shí)現(xiàn)測試(shì)結果全(quán)數(shù)字化,操(cāo)作簡單方便。

鐵(tiě)電材料(liào)參(cān)數(shù)測(cè)試儀主要是由(yóu)正(zhèng)弦波,三(sān)角波(bō),間歇(xiē)三角波,梯形(xíng)波(bō)發生器(qì)及正,負矩形(xíng)脈(mài)衝和(hé)雙(shuāng)極(jí)性(xìng)雙(shuāng)脈(mài)衝發(fā)生器(qì)外加鐵(tiě)電材料電滯回綫,I-V特性及(jí)開關特性測量電路(lù)構(gòu)成。適用於鐵電薄(báo)膜,鐵電體材(cái)料(liào)的電測(cè)量(liáng),可(kě)測(cè)量(liáng)鐵電(diàn)薄(báo)膜(mó)電滯回綫(xiàn),I-V特性及(jí)開(kāi)關(guān)特(tè)性,可(kě)準確(què)地測(cè)出具有(yǒu)非對稱(chēng)電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)鐵電薄膜的(dí)Pr值。可測鐵(tiě)電體材(cái)料的電滯(zhì)回(huí)綫及IV特性(xìng)。同(tóng)時也可作為(wéi)一(yī)台通用信號發生器,高(gāo)壓(yā)信(xìn)號(hào)發生(shēng)器使用。



產(chǎn)品特(tè)點(diǎn)

  • 電滯回綫測量(liáng),鐵(tiě)電材料的飽和(hé)極(jí)化(huà)±Ps,剩餘(yú)極化±Pr,矯頑場(cháng)±Ec,電容(róng)量(liáng)C等(děng)參數

  • 鐵(tiě)電疲勞測(cè)量

  • 鐵電保持(chí)測量(liáng)

  • 電阻測(cè)量

  • 漏電流(liú)測量

  • 精度高的三維移動(dòng)平台



軟件功能

HC5000係列(liè)測(cè)試係(xì)統的軟(ruǎn)件(jiàn)平(píng)台(tái)hacepro,采(cǎi)用labview係統開(kāi)發(fā),符合導(dǎo)體,半導(dǎo)體材(cái)料的各項測試需(xū)求,具(jù)備(bèi)穩(wěn)定(dìng)性與an全性,並具備(bèi)斷電資料(liào)的保(bǎo)存功能(néng),圖像(xiàng)資(zī)料可保存恢復(fù),。兼(jiān)容,XP,win7,win10係統(tǒng)。

友善(shàn)的(dí)使(shǐ)用(yòng)界(jiè)麵

多語界麵:支(zhī)持中文/英(yīng)文 兩種語言界麵;

即(jí)時(shí)監(jiān)控(kòng):係統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無(wú)需等待(dài);

圖例管理:通過(guò)軟(ruǎn)件中的狀態(tài)圖(tú)示(shì),一(yī)目了(liǎo)然(rán),立即(jí)對狀(zhuàng)態說明,了(liǎo)解測(cè)試(shì)狀(zhuàng)態;

使(shǐ)用(yòng)權限(xiàn):可設定(dìng)使(shǐ)用(yòng)者(zhě)的權(quán)限,方(fāng)便(biàn)管理(lǐ);

故(gù)障(zhàng)狀(zhuàng)態(tài):軟件(jiàn)具(jù)有設備的故(gù)障報警功(gōng)能(néng)。



硬(yìng)件支(zhī)持(chí)

  • 集(jí)成[email protected]雙(shuāng)核(hé)處(chǔ)理器(qì)

  • 集(jí)成打印機接(jiē)口(kǒu),可(kě)擴(kuò)充8個(gè)USB接口(kǒu)

  • 支持16G內存,60G固體硬盤,讓(ràng)係統(tǒng)運(yùn)行流暢。



應用(yòng)領(lǐng)域

  • 鐵電材(cái)料(liào)的電(diàn)滯回(huí)綫(動(dòng)態與靜態),漏電流(liú)等(děng)特性(xìng)。

  • 測量記錄在(zài)薄(báo)膜樣品(pǐn)上施(shī)加階(jiē)躍電(diàn)壓時的電流響應。

  • 超(chāo)晶(jīng)格(gé)材料(liào)在方(fāng)波(bō)脈(mài)衝電壓(yā)激勵(lì)下(xià)的自漏(lòu)電特性(xìng)。



技(jì)術(shù)參(cān)數

1,電壓範(fàn)圍:±30V(可(kě)擴展(zhǎn)至(zhì)±4KV)

2,輸出電(diàn)流(liú)峰值:±1A

3,負(fù)荷(hé)電(diàn)容(róng)max:1μF

4,動態(tài)電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測(cè)試(shì)頻率(shuài):0.001Hx~100kHz

5,鐵電材料漏電(diàn)流(liú)的(dí)測試:10pA~100mA

6,脈衝(chōng)寬度min:25ns

7,上升(shēng)時(shí)間:7ns

8,極化(huà)測(cè)試到:10fC

9,塊體材料樣(yàng)品盒(hé)可進行(háng)室(shì)溫~1200℃電(diàn)滯回(huí)綫測定(dìng)



高溫鐵(tiě)電測試(shì)儀(yí)/分(fēn)析儀(yí)





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