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  • 華(huá)測高(gāo)溫四探(tàn)針測(cè)試儀器
    華測高(gāo)溫四探針(zhēn)測試(shì)儀器(qì)

    更新時(shí)間：2024-06-06

    型號：

    瀏(liú)覽量：3841

    HGTZ-800華(huá)測高溫(wēn)四探(tàn)針測(cè)試儀器器(qì)係統搭配Labview係統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟(ruǎn)件，具備彈性(xìng)的自定義功能(néng)，可(kě)進行電壓，電流，溫(wēn)度(dù)，時(shí)間等設(shè)置(zhì)，符合導(dǎo)體(tǐ)，半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材料與(yǔ)其(qí)它新材料測試多(duō)樣(yàng)化(huà)的需求(qiú)。
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  • HGTZ-800華(huá)測高(gāo)溫四探(tàn)針(zhēn)測試儀器
    HGTZ-800華(huá)測(cè)高溫(wēn)四探針(zhēn)測試(shì)儀器

    更(gēng)新(xīn)時(shí)間：2023-08-09

    型號：HGTZ-800

    瀏(liú)覽量：3025

    華測(cè)高(gāo)溫四(sì)探針(zhēn)測試儀器(qì)——高溫(wēn)四探針測試儀采用四(sì)探針雙電測(cè)量(liáng)方(fāng)法(fǎ)，適用於生產企業(yè)，高(gāo)等院(yuàn)校，科研部門(mén)，是檢驗和分析(xī)導(dǎo)體材(cái)料(liào)和半導(dǎo)體材(cái)料在高(gāo)溫(wēn)，真空(kōng)及氣氛(fēn)條件下測(cè)量的一(yī)種(zhǒng)重(zhòng)要的(dí)工(gōng)具。本(běn)儀器(qì)配置各類測量(liáng)裝(zhuāng)置可(kě)以(yǐ)測試(shì)不同材(cái)料(liào)。液晶(jīng)顯示，無需人(rén)工計算(suàn)，並帶(dài)有溫(wēn)度補(bǔ)償功能。采(cǎi)用芯(xīn)片控(kòng)製(zhì)，恒流(liú)輸(shū)出，結構合(hé)理，質(zhì)量(liáng)輕便，配備10英寸觸(chù)摸(mō)屏(píng)，軟(ruǎn)件(jiàn)可保存(cún)和(hé)打(dǎ)印(yìn)數(shù)據(jù)，自動生成(chéng)報(bào)表。
    了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
  • 華測高溫(wēn)四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)器(qì) 居(jū)裏溫(wēn)度(dù)
    華測高溫四探針測試(shì)儀器(qì) 居裏溫(wēn)度

    更(gēng)新(xīn)時(shí)間(jiān)：2024-06-12

    型(xíng)號(hào)：

    瀏覽量：3351

    華(huá)測(cè)高溫四(sì)探針測(cè)試儀(yí)器 居裏溫度(dù)采用四探針雙電(diàn)測(cè)量方法，適(shì)用(yòng)於(yú)生(shēng)產(chǎn)企(qǐ)業，高(gāo)等(děng)院(yuàn)校(xiào)，科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和(hé)分析(xī)導體材料(liào)和半(bàn)導體材料在高溫，真空及(jí)氣(qì)氛(fēn)條(tiáo)件(jiàn)下測(cè)量的一種重要的(dí)工具。本儀(yí)器(qì)配置(zhì)各類測(cè)量裝置可以(yǐ)測(cè)試不同材料。液(yè)晶(jīng)顯(xiǎn)示，無需人工(gōng)計(jì)算(suàn)，並帶(dài)有溫度補償功能。
    了(liǎo)解(jiě)詳情(qíng)
  • HCTZ-2四探針測試(shì)儀器
    HCTZ-2四探針測試儀(yí)器(qì)

    更新(xīn)時間：2023-08-29

    型號：HCTZ-2

    瀏(liú)覽量(liáng)：3034

    HCTZ-2型(xíng)數字式(shì)四探(tàn)針測試儀(yí)器(qì)是(shì)運用(yòng)四探針測(cè)量(liáng)原理的多(duō)用途綜(zōng)合(hé)測(cè)量(liáng)設(shè)備。儀(yí)器采用(yòng)了(liǎo)電子技術進行設計(jì)，裝(zhuāng)配。具有功能(néng)選擇直(zhí)觀，測(cè)量取數(shù)快(kuài)，精(jīng)度(dù)高，測量(liáng)範(fàn)圍寬(kuān)，穩(wěn)定(dìng)性(xìng)好，結構(gòu)緊(jǐn)湊(còu)，易操(cāo)作(zuò)等特(tè)點(diǎn)。
    了解(jiě)詳(xiáng)情
  • HCTZ-2S北京華測*四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀(yí)
    HCTZ-2S北(běi)京(jīng)華(huá)測(cè)*四(sì)探針測(cè)試儀(yí)

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型(xíng)號：HCTZ-2S

    瀏(liú)覽量：3976

    HCTZ-2S北京(jīng)華(huá)測(cè)*四探針測試儀(yí)器(qì)是運(yùn)用(yòng)四探針測量原理的多用途綜合測量(liáng)設(shè)備。儀(yí)器由(yóu)主機(jī)，測試台(tái)，四(sì)探針(zhēn)探(tàn)頭(tóu)，計(jì)算機等(děng)部(bù)分組(zǔ)成(chéng)，測量數(shù)據既可(kě)由(yóu)主(zhǔ)機(jī)直(zhí)接顯示，亦可由計(jì)算(suàn)機(jī)控(kòng)製測試(shì)采(cǎi)集測(cè)試(shì)數(shù)據到計(jì)算(suàn)機(jī)中(zhōng)加以分析(xī)，然後(hòu)以表(biǎo)格(gé)，圖(tú)形方式(shì)統計分析顯示測(cè)試(shì)結果。
    了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
  • HCTZ-2S北(běi)京(jīng)華測試(shì)驗儀器四探針(zhēn)測試儀
    HCTZ-2S北京(jīng)華測(cè)試驗儀器四探針測(cè)試(shì)儀

    更(gēng)新(xīn)時(shí)間：2023-08-29

    型(xíng)號：HCTZ-2S

    瀏覽(lǎn)量：3194

    HCTZ-2S北(běi)京華測(cè)試驗儀器(qì)四探(tàn)針測試儀器是運用(yòng)四(sì)探針(zhēn)測(cè)量(liáng)原理(lǐ)的多(duō)用(yòng)途綜(zōng)合(hé)測量(liáng)設備。該(gāi)儀(yí)器(qì)按(àn)照單晶矽(guī)物(wù)理(lǐ)測(cè)試方法(fǎ)標準並參(cān)考(kǎo)美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而(ér)設(shè)計的(dí)，於(yú)測(cè)試半(bàn)導體材料(liào)電阻率及(jí)方塊電阻（薄層電阻）的(dí)儀(yí)器。儀(yí)器(qì)由主(zhǔ)機，測(cè)試(shì)台，四探(tàn)針探(tàn)頭(tóu)，計算(suàn)機等部(bù)分組成，測(cè)量數(shù)據既可由主(zhǔ)機直(zhí)接(jiē)顯(xiǎn)示，亦(yì)可由計算(suàn)機控製(zhì)測試采集(jí)測試(shì)數據(jù)到計算機(jī)中加(jiā)以分(fēn)析(xī)，然(rán)後(hòu)以表格(gé)，圖(tú)形方(fāng)式統計(jì)分(fēn)析顯示測試結(jié)果(guǒ)。
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  • HCTZ-2S華測四探(tàn)針測試儀(yí)
    HCTZ-2S華測四(sì)探(tàn)針測試(shì)儀

    更(gēng)新時間：2024-06-13

    型(xíng)號(hào)：HCTZ-2S

    瀏(liú)覽量(liáng)：3489

    HCTZ-2S華測(cè)四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試(shì)儀器(qì)是(shì)運用四探(tàn)針(zhēn)測量原理(lǐ)的(dí)多(duō)用途(tú)綜(zōng)合測(cè)量設(shè)備(bèi)。該儀(yí)器(qì)按照單晶矽(guī)物理測試方(fāng)法標(biāo)準(zhǔn)並參(cān)考美(měi)國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設計(jì)的，於(yú)測試半(bàn)導體材料(liào)電(diàn)阻率及方(fāng)塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)（薄(báo)層電(diàn)阻）的(dí)儀(yí)器。儀器(qì)由主機(jī)，測試台，四探(tàn)針(zhēn)探(tàn)頭，計算(suàn)機(jī)等部(bù)分(fēn)組(zǔ)成，測量(liáng)數(shù)據既(jì)可(kě)由主機直接顯(xiǎn)示，亦可由計算機控製(zhì)測試(shì)采(cǎi)集(jí)測試數(shù)據到(dào)計(jì)算機(jī)中(zhōng)加(jiā)以(yǐ)分析，然(rán)後(hòu)以(yǐ)表格(gé)，圖形(xíng)方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
    了(liǎo)解(jiě)詳情
  • HCTZ-2S北京(jīng)華(huá)測四探針(zhēn)測試儀
    HCTZ-2S北(běi)京華測四探針(zhēn)測(cè)試儀

    更(gēng)新時(shí)間(jiān)：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

    瀏覽(lǎn)量：3407

    HCTZ-2S北京華測四探針(zhēn)測試儀(yí)器(qì)是運用四探(tàn)針測(cè)量原理(lǐ)的多用(yòng)途(tú)綜(zōng)合(hé)測量設備。儀器(qì)由(yóu)主機，測(cè)試台，四(sì)探針探頭，計算機(jī)等部(bù)分(fēn)組(zǔ)成(chéng)，測量數(shù)據既(jì)可由主(zhǔ)機直(zhí)接(jiē)顯(xiǎn)示(shì)，亦可由(yóu)計算機(jī)控製(zhì)測(cè)試(shì)采集測試(shì)數據(jù)到(dào)計算(suàn)機中加以分(fēn)析，然後(hòu)以(yǐ)表格(gé)，圖形方(fāng)式(shì)統(tǒng)計分(fēn)析顯示測試結果。
    了(liǎo)解詳(xiáng)情(qíng)
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