產品名(míng)稱：華測四(sì)探針測試儀

產品型(xíng)號：HCTZ-2S

品(pǐn)牌(pái)：北京華測

一，產品介紹(shào)

HCTZ-2S華(huá)測(cè)四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀是(shì)運用(yòng)四(sì)探(tàn)針測量原理(lǐ)的多(duō)用途(tú)綜合(hé)測量(liáng)設(shè)備(bèi)。儀(yí)器由主機，測(cè)試台，四探針探頭，計(jì)算機等部分(fēn)組成，測量數(shù)據既可由主(zhǔ)機(jī)直接顯示，亦(yì)可由計(jì)算機控製(zhì)測試(shì)采(cǎi)集(jí)測試(shì)數(shù)據到計(jì)算(suàn)機(jī)中(zhōng)加(jiā)以分(fēn)析(xī)，然後以(yǐ)表格(gé)，圖形方式統計分析(xī)顯示(shì)測(cè)試結果。

HCTZ-2S雙電測數(shù)字(zì)式四(sì)探(tàn)針試驗(yàn)儀是運用(yòng)直綫(xiàn)或方(fāng)形四探針雙(shuāng)位測(cè)量。利用電流(liú)探針(zhēn)，電壓探(tàn)針(zhēn)的(dí)變換，采用兩次(cì)電(diàn)測量，對數據進行(háng)雙電測分析，自(zì)動消(xiāo)除樣品幾何尺(chǐ)寸(cùn)，邊(biān)界效(xiào)應以及探針(zhēn)不(bù)等距和(hé)機械遊(yóu)移等因素對(duì)測量(liáng)結果(guǒ)的影(yǐng)響，它與單電測直綫或方形(xíng)四探(tàn)針相比(bǐ)，大大提高精(jīng)確度，也(yě)可應用於(yú)產(chǎn)品檢測以及新(xīn)材料電學研究等(děng)用途。

四(sì)探針軟(ruǎn)件測試係統是(shì)一(yī)個運行在計(jì)算機(jī)上(shàng)擁有(yǒu)友(yǒu)好測(cè)試界麵的用戶程序(xù)，通過此(cǐ)測試程(chéng)序輔(fǔ)助(zhù)使用戶(hù)簡(jiǎn)便(biàn)地(dì)進(jìn)行各(gè)項測試(shì)及獲(huò)得(dé)測試(shì)數(shù)據(jù)並對測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統計分(fēn)析。

測(cè)試程(chéng)序(xù)控製四(sì)探針(zhēn)試(shì)驗儀進(jìn)行(háng)測量並采(cǎi)集測(cè)試數據(jù)，把(bǎ)采(cǎi)集到(dào)的(dí)數據在(zài)計算(suàn)機(jī)中加(jiā)以(yǐ)分析，然後(hòu)把測(cè)試(shì)數(shù)據(jù)以表(biǎo)格，圖形直觀地記錄，顯示出來(lái)。用戶(hù)可(kě)對采集到(dào)的數據(jù)在電腦中保存或(huò)者打(dǎ)印(yìn)以備(bèi)日(rì)後(hòu)參考和查看，還(huán)可以把采集到(dào)的(dí)數(shù)據輸(shū)出到(dào)Excel中，讓(ràng)用(yòng)戶對(duì)數(shù)據進(jìn)行各(gè)種數據分析。

二(èr)，四探針(zhēn)測試(shì)探頭

1，使(shǐ)用(yòng)幾(jī)何尺寸(cùn)十分精確的(dí)紅(hóng)寶石軸承，量具(jù)精度的(dí)硬質合金探針，在寶石(shí)導(dǎo)孔內運動，持久耐(nài)磨(mó)，測(cè)量精度(dù)高，重(zhòng)復性好。

A.探頭(tóu)間距1.00㎜

B.探針(zhēn)機械遊率：±0.3%

C.探(tàn)針直徑(jìng)0.5㎜

D.探針材料(liào)：碳化鎢(wū)，常溫不生(shēng)鏽

E探針(zhēn)間及探(tàn)針與其(qí)他部分之間的(dí)絕(jué)緣電阻大於(yú)109歐(ōu)姆(mǔ)。

2，手(shǒu)動(dòng)測(cè)試架(jià)

手(shǒu)動測(cè)試架探頭上(shàng)下由(yóu)手動(dòng)操(cāo)作，可以(yǐ)用(yòng)作(zuò)斷(duàn)麵單(dān)晶(jīng)棒和矽片測(cè)試(shì)，探針(zhēn)頭可上(shàng)下(xià)移動(dòng)距離(lí)：120mm，測試(shì)台麵200x200(mm)。

三，產(chǎn)品應用(yòng)

HCTZ-2S四探針(zhēn)試驗(yàn)儀采用四(sì)探針雙(shuāng)電(diàn)測量方法(fǎ)，適(shì)用於生(shēng)產(chǎn)企業(yè)，高等院(yuàn)校，科研部(bù)門，是檢(jiǎn)驗和分(fēn)析導(dǎo)體材料和(hé)半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料在高溫，真(zhēn)空及(jí)氣(qì)氛條(tiáo)件(jiàn)下測量(liáng)的一(yī)種(zhǒng)重(zhòng)要(yào)的工具(jù)。本(běn)儀(yí)器(qì)配置各(gè)類測(cè)量(liáng)裝置(zhì)可以(yǐ)測(cè)試不(bù)同(tóng)材(cái)料。液(yè)晶顯(xiǎn)示(shì)，無需(xū)人工計(jì)算(suàn)，並帶有溫(wēn)度補償(cháng)功(gōng)能(néng)。采用芯(xīn)片控(kòng)製，恒(héng)流輸出(chū)，結構合(hé)理，質(zhì)量(liáng)輕便(biàn)，配備10英寸觸(chù)摸屏(píng)，軟件(jiàn)可保(bǎo)存(cún)和(hé)打(dǎ)印數據(jù)，自動(dòng)生(shēng)成(chéng)報表；本儀器(qì)可顯示電阻，電阻率，方(fāng)阻(zǔ)，溫度(dù)，單(dān)位換算，溫度係數，電流，電壓(yā)，探(tàn)針形狀，探針間距，厚(hòu)度，電導(dǎo)率，配備不(bù)同(tóng)的測(cè)試(shì)治(zhì)具可(kě)以滿(mǎn)足(zú)不同(tóng)材(cái)料的測(cè)試要求。測試治具可以(yǐ)根(gēn)據產(chǎn)品及測(cè)試項目(mù)要(yào)求選購。

四(sì)，產(chǎn)品特(tè)點

    2.本儀器的特點(diǎn)是主(zhǔ)機(jī)配置三個數字(zì)表，在測量電阻(zǔ)率的同(tóng)時，一塊(kuài)數字表(biǎo)適時(shí)監測全程(chéng)的(dí)電(diàn)流變(biàn)化，及時掌(zhǎng)控測(cè)量電(diàn)流(liú)，一(yī)塊(kuài)顯(xiǎn)示2，3探針間的(dí)測量電壓(yā)，另一塊是顯示當前1，4探針(zhēn)測量使用的電壓，可(kě)以適當調(tiáo)整測(cè)量電壓(yā)避免(miǎn)材料耐壓(yā)不(bù)夠(gòu)而(ér)電(diàn)壓(yā)擊(jī)穿被測材(cái)料。

3.主機(jī)還提供精(jīng)度為0.05%的恒流(liú)源(yuán)，使測量電流高(gāo)度(dù)穩(wěn)定。本(běn)機配有恒流(liú)源開關，在測(cè)量某些薄層材(cái)料時(shí)，可(kě)免除探針尖與(yǔ)被測材(cái)料之(zhī)間接(jiē)觸火(huǒ)花的(dí)發生，好(hǎo)地保(bǎo)護薄膜。采(cǎi)用(yòng)低(dī)通濾波電流檢測(cè)技(jì)術以(yǐ)保(bǎo)證采(cǎi)集(jí)電流的有效值 ，以及(jí)電(diàn)流(liú)抗(kàng)幹擾的屏(píng)蔽。
    4.探(tàn)針(zhēn)采(cǎi)用碳化鎢硬(yìng)質(zhì)合(hé)金，硬度(dù)高(gāo)，常溫不(bù)生(shēng)鏽(xiù)，探針遊移率(shuài)在0.1～0.2%。保證(zhèng)了(liǎo)儀(yí)器測量(liáng)電(diàn)阻率的重復(fù)性(xìng)和準確度(dù)。本機(jī)如加配測量(liáng)軟件(jiàn)，測量(liáng)矽片(piàn)時(shí)可自動進行厚(hòu)度(dù)，直徑，探(tàn)針(zhēn)間(jiān)距(jù)的(dí)修正，並計算(suàn)，打(dǎ)印出矽片(piàn)電阻率，徑向(xiàng)電(diàn)阻率的大(dà)百(bǎi)分變化，平(píng)均百(bǎi)分變化，徑(jìng)向電阻(zǔ)率不均(jūn)匀度，給(gěi)測(cè)量帶來很大方便。軟件(jiàn)平(píng)台

5.HCTZ-800係統(tǒng)搭配Labview係統(tǒng)開發(fā)的(dí)hcpro軟(ruǎn)件，具備(bèi)彈性的(dí)自定義功能(néng)，可(kě)進行(háng)電(diàn)壓(yā)，電流。

6.儀器(qì)通(tōng)過(guò)USB轉RS232連接綫與(yǔ)電腦連(lián)接，軟件(jiàn)可(kě)對(duì)四(sì)探(tàn)針電阻(zǔ)率(shuài)測量(liáng)數(shù)據(jù)進行(háng)處(chǔ)理並修正測量數據，特定數(shù)據存(cún)儲格(gé)式，顯(xiǎn)示變化(huà)曲綫，兼容性(xìng)：適用(yòng)於通用電腦

7.測試(shì)係(xì)統(tǒng)的軟件平台(tái)hcpro，符(fú)合導體(tǐ)，半導體材料(liào)的(dí)各項測(cè)試(shì)需(xū)求，具備(bèi)穩定性(xìng)和安(ān)an全性(xìng)，並具備(bèi)斷電資料(liào)的(dí)保存功(gōng)能，圖像資料(liào)可保存(cún)恢復(fù)。兼容XP，win7，win10係統。

五，軟件(jiàn)功能

具(jù)有(yǒu)試驗(yàn)電(diàn)壓(yā)設置(zhì)功(gōng)能；

可(kě)選擇(zé)試驗標準

可選擇是否自(zì)定義或自(zì)動(dòng)試(shì)驗

截止(zhǐ)條件：時間/電壓/電流;

語音(yīn)提示:可選擇是否(fǒu)語音提示功能。

統(tǒng)計報告(gào)：可(kě)自(zì)定報表格(gé)式(shì)

可(kě)生出PDF，CSV，XLS文件(jiàn)格式

分析功(gōng)能：可對(duì)測(cè)試的(dí)數據進行統計。大/小(xiǎo)值(zhí)，平(píng)均(jūn)值(zhí)等(děng)。

六，技術參數

測(cè)量範(fàn)圍

電(diàn)  阻：1×10-4~2×105Ω，     分辨(biàn)率：1×10-5~1×102Ω

電阻(zǔ)率：1×10-4~2×105Ω-cm，  分辨(biàn)率：1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻：5×10-4~2×105Ω/□，  分(fēn)辨率：5×10-5~1×102Ω/□

數(shù)字(zì)電壓(yā)表

量程(chéng)：20.00mV~2000mV

誤差：±0.1%讀數±2字

數控恒(héng)流(liú)源(yuán)

量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤(wù)差：±0.1%讀數±2字(zì)

四(sì)探針探頭(tóu)

碳(tàn)化(huà)鎢(wū)探針：Ф0.5mm，直(zhí)流探針(zhēn)間距1.0mm，探(tàn)針壓力(lì)：0~2kg可調

薄膜方阻探針(zhēn)：Ф0.7mm，直流或(huò)方形(xíng)探針間距2.0mm，探(tàn)針壓力：0~0.6kg可調(tiáo)

七(qī)，注(zhù)意(yì)事項(xiàng)

1，儀器操(cāo)作前(qián)請(qǐng)您仔細閱讀使用說明(míng)書，規(guī)範操作

2，輕拿輕(qīng)放，避(bì)免(miǎn)儀器(qì)震動(dòng)，水平放置，垂直(zhí)測(cè)量(liáng)

3，儀(yí)器不(bù)使用(yòng)時(shí)請(qǐng)切斷(duàn)電源，連接綫無(wú)需經常拔下，避免灰塵進入航(háng)空插引(yǐn)起短接(jiē)等(děng)現象

4，探針(zhēn)筆(bǐ)測(cè)試結束，套(tào)好護(hù)套，避(bì)免(miǎn)人(rén)為斷(duàn)針(zhēn)