產品名(míng)稱：北京華測試驗儀器四探針(zhēn)測(cè)試儀

產品型號：HCTZ-2S

品(pǐn)牌：北京華測

一，產品(pǐn)介紹

HCTZ-2S北京華(huá)測試(shì)驗儀(yí)器四探針測試儀(yí)是運(yùn)用(yòng)四探針(zhēn)測量(liáng)原理的(dí)多(duō)用途綜合測(cè)量設備(bèi)。儀器(qì)由主(zhǔ)機，測試台，四探針探頭，計算(suàn)機(jī)等(děng)部分組(zǔ)成，測量(liáng)數(shù)據既可由(yóu)主機(jī)直(zhí)接顯示，亦(yì)可由(yóu)計算機(jī)控製測(cè)試采集(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)到(dào)計算(suàn)機中(zhōng)加以分(fēn)析(xī)，然後(hòu)以表格，圖形方(fāng)式(shì)統(tǒng)計(jì)分析顯(xiǎn)示(shì)測試(shì)結果(guǒ)。

HCTZ-2S雙電測數(shù)字式(shì)四探針試驗儀是(shì)運用直綫(xiàn)或方(fāng)形四探針(zhēn)雙位(wèi)測(cè)量。利(lì)用電流探針(zhēn)，電壓探針的(dí)變(biàn)換，采用兩(liǎng)次(cì)電測量，對數據進行雙電測(cè)分(fēn)析，自動消(xiāo)除樣(yàng)品幾(jī)何尺(chǐ)寸(cùn)，邊界(jiè)效應以及探(tàn)針(zhēn)不等距(jù)和機械遊(yóu)移(yí)等(děng)因(yīn)素對測量結果的影響，它(tā)與(yǔ)單(dān)電測直綫(xiàn)或方(fāng)形(xíng)四探針(zhēn)相比，大大提(tí)高(gāo)精(jīng)確(què)度，也可應用(yòng)於產品檢測(cè)以及新(xīn)材料(liào)電學研(yán)究(jiū)等(děng)用途。

四探針(zhēn)軟(ruǎn)件(jiàn)測試(shì)係統是一個運(yùn)行(háng)在(zài)計(jì)算機上(shàng)擁(yōng)有(yǒu)友好測試(shì)界(jiè)麵(miàn)的(dí)用戶程序，通(tōng)過此(cǐ)測(cè)試(shì)程序輔助(zhù)使用戶(hù)簡便(biàn)地進行各項(xiàng)測試及(jí)獲(huò)得(dé)測(cè)試數(shù)據並(bìng)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。

測試程(chéng)序控製四探(tàn)針試驗(yàn)儀(yí)進行測(cè)量並采集(jí)測(cè)試數據，把(bǎ)采集到(dào)的(dí)數(shù)據在(zài)計算機中加(jiā)以分(fēn)析，然(rán)後把(bǎ)測(cè)試數據以表格(gé)，圖(tú)形直(zhí)觀(guān)地(dì)記錄，顯示(shì)出來(lái)。用戶(hù)可(kě)對采(cǎi)集(jí)到(dào)的數據在電(diàn)腦中保(bǎo)存或(huò)者打印(yìn)以備日(rì)後(hòu)參考和查(chá)看(kàn)，還(huán)可以把采(cǎi)集到(dào)的(dí)數據輸出到(dào)Excel中，讓(ràng)用戶(hù)對(duì)數據進(jìn)行(háng)各種(zhǒng)數據分析。

二(èr)，四(sì)探針測試探頭(tóu)

1，使用幾(jī)何(hé)尺寸(cùn)十分精(jīng)確的紅寶石軸承(chéng)，量(liáng)具(jù)精(jīng)度(dù)的(dí)硬質合(hé)金探針，在寶石導孔(kǒng)內(nèi)運(yùn)動，持久耐(nài)磨，測量精(jīng)度高(gāo)，重(zhòng)復(fù)性好。

A.探(tàn)頭(tóu)間距1.00㎜

B.探針機(jī)械遊率：±0.3%

C.探(tàn)針直徑0.5㎜

D.探針(zhēn)材(cái)料：碳(tàn)化鎢，常(cháng)溫(wēn)不生鏽

E探針間(jiān)及(jí)探針(zhēn)與其(qí)他部(bù)分(fēn)之間的絕(jué)緣(yuán)電阻大(dà)於(yú)109歐姆(mǔ)。

2，手動測(cè)試架

手動測(cè)試(shì)架(jià)探(tàn)頭(tóu)上(shàng)下(xià)由手動操作(zuò)，可以用(yòng)作(zuò)斷麵(miàn)單(dān)晶棒和矽片測(cè)試，探(tàn)針頭可上下(xià)移動距離(lí)：120mm，測試台麵200x200(mm)。

三，產品(pǐn)應(yīng)用

HCTZ-2S四探針試(shì)驗儀采用四探(tàn)針(zhēn)雙(shuāng)電(diàn)測量方(fāng)法，適用(yòng)於(yú)生產(chǎn)企業，高等(děng)院校(xiào)，科(kē)研部(bù)門(mén)，是檢驗(yàn)和(hé)分(fēn)析導體材料(liào)和半(bàn)導體材(cái)料在高溫(wēn)，真空(kōng)及(jí)氣(qì)氛(fēn)條(tiáo)件下測量(liáng)的(dí)一種(zhǒng)重要的工具。本(běn)儀(yí)器(qì)配(pèi)置(zhì)各類測(cè)量裝(zhuāng)置可(kě)以測(cè)試(shì)不同材料。液(yè)晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)，無需(xū)人(rén)工計算(suàn)，並帶有溫(wēn)度補(bǔ)償功(gōng)能(néng)。采用芯(xīn)片控製(zhì)，恒流輸出(chū)，結(jié)構合理(lǐ)，質量(liáng)輕(qīng)便，配(pèi)備(bèi)10英寸觸摸屏，軟件可保(bǎo)存和打(dǎ)印數據，自(zì)動(dòng)生(shēng)成(chéng)報(bào)表(biǎo)；本儀(yí)器(qì)可顯示電(diàn)阻，電(diàn)阻率(shuài)，方阻(zǔ)，溫度(dù)，單(dān)位換(huàn)算，溫(wēn)度係數，電流(liú)，電壓(yā)，探針(zhēn)形狀，探(tàn)針(zhēn)間距，厚度，電導(dǎo)率，配(pèi)備不(bù)同的測(cè)試治具可以滿足(zú)不同(tóng)材料(liào)的(dí)測(cè)試(shì)要求。測試治具可以根據產品及測試(shì)項目(mù)要(yào)求選(xuǎn)購。

四(sì)，產品特(tè)點(diǎn)
   
    2.本(běn)儀(yí)器(qì)的特點(diǎn)是主(zhǔ)機(jī)配置三(sān)個數字表(biǎo)，在測(cè)量電(diàn)阻率的同(tóng)時，一塊數(shù)字表適(shì)時監(jiān)測(cè)全(quán)程的(dí)電流變化(huà)，及時(shí)掌(zhǎng)控測(cè)量(liáng)電流，一(yī)塊顯示2，3探針間(jiān)的(dí)測(cè)量電(diàn)壓(yā)，另(lìng)一塊是顯(xiǎn)示(shì)當(dāng)前1，4探針測(cè)量(liáng)使(shǐ)用的電壓，可以適當調整測量(liáng)電壓避(bì)免(miǎn)材料(liào)耐壓不夠而電(diàn)壓擊(jī)穿(chuān)被測材料(liào)。

3.主機還提供(gōng)精度(dù)為0.05%的(dí)恒流源，使測量(liáng)電(diàn)流高度穩(wěn)定。本機配有(yǒu)恒流源開關，在測(cè)量某些薄(báo)層材(cái)料(liào)時，可(kě)免除(chú)探(tàn)針尖(jiān)與(yǔ)被(bèi)測(cè)材料之間接(jiē)觸火(huǒ)花(huā)的發生，好(hǎo)地保護薄(báo)膜(mó)。采(cǎi)用低(dī)通濾波電(diàn)流(liú)檢(jiǎn)測(cè)技(jì)術(shù)以保證(zhèng)采集電(diàn)流(liú)的有效值 ，以及(jí)電流抗(kàng)幹擾的(dí)屏蔽。
    4.探針采用(yòng)碳化鎢(wū)硬質合金，硬度高，常(cháng)溫(wēn)不生鏽，探針(zhēn)遊移(yí)率在(zài)0.1～0.2%。保證了儀器(qì)測(cè)量電阻(zǔ)率(shuài)的重復性和(hé)準確(què)度。本機如加配(pèi)測量軟件，測(cè)量矽(guī)片時(shí)可自(zì)動進(jìn)行厚(hòu)度，直徑，探針間(jiān)距的(dí)修正(zhèng)，並計算，打印出(chū)矽片電(diàn)阻(zǔ)率，徑(jìng)向(xiàng)電阻(zǔ)率的大百分變化，平(píng)均(jūn)百(bǎi)分(fēn)變化(huà)，徑向電(diàn)阻率不均匀度(dù)，給(gěi)測量帶來很(hěn)大方便。軟(ruǎn)件(jiàn)平(píng)台(tái)

5.HCTZ-800係統搭配Labview係(xì)統開發(fā)的hcpro軟(ruǎn)件(jiàn)，具備(bèi)彈性(xìng)的(dí)自(zì)定義功能(néng)，可進行電壓，電(diàn)流(liú)。

6.儀器(qì)通(tōng)過(guò)USB轉RS232連(lián)接綫(xiàn)與電腦(nǎo)連(lián)接，軟件(jiàn)可(kě)對四(sì)探針電阻(zǔ)率測量數據進行處理並修正測量(liáng)數據，特定數據存(cún)儲格(gé)式，顯示變化曲綫，兼容性：適用於(yú)通用電腦(nǎo)

7.測試係統的軟件平台(tái)hcpro，采(cǎi)用labview係統(tǒng)開發，符合導體，半導(dǎo)體(tǐ)材料(liào)的(dí)各項(xiàng)測(cè)試需求，具(jù)備穩定(dìng)性(xìng)和性(xìng)，並具備斷電(diàn)資料的(dí)保(bǎo)存(cún)功(gōng)能，圖像(xiàng)資料(liào)可保(bǎo)存恢復，兼容(róng)XP，win7，win10係統。

五(wǔ)，軟件功(gōng)能

具有試驗(yàn)電壓(yā)設置功能；

可選擇(zé)試驗標(biāo)準(zhǔn)

可選擇(zé)是否自(zì)定(dìng)義或自動試(shì)驗

截(jié)止條(tiáo)件：時間/電(diàn)壓/電流;

語(yǔ)音提(tí)示(shì):可(kě)選(xuǎn)擇是(shì)否(fǒu)語音(yīn)提(tí)示(shì)功能。

統(tǒng)計報告：可自定報(bào)表格式

可(kě)生(shēng)出PDF，CSV，XLS文件格式(shì)

分(fēn)析功能：可(kě)對測試的數據進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。大(dà)/小(xiǎo)值，平(píng)均(jūn)值等(děng)。

六(liù)，技術(shù)參(cān)數

測(cè)量範(fàn)圍(wéi)

電  阻：1×10-4~2×105Ω，     分辨率：1×10-5~1×102Ω

電阻率(shuài)：1×10-4~2×105Ω-cm，  分(fēn)辨(biàn)率(shuài)：1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻(zǔ)：5×10-4~2×105Ω/□，  分辨率(shuài)：5×10-5~1×102Ω/□

數字電壓(yā)表

量程(chéng)：20.00mV~2000mV

誤差(chà)：±0.1%讀數±2字(zì)

數(shù)控恒(héng)流源(yuán)

量(liáng)程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A

誤(wù)差：±0.1%讀數(shù)±2字

四探針(zhēn)探(tàn)頭

碳化(huà)鎢(wū)探(tàn)針(zhēn)：Ф0.5mm，直(zhí)流(liú)探針(zhēn)間距1.0mm，探針壓(yā)力：0~2kg可調

薄(báo)膜(mó)方阻探針：Ф0.7mm，直(zhí)流或(huò)方形探針間(jiān)距2.0mm，探針(zhēn)壓(yā)力：0~0.6kg可(kě)調(tiáo)

七(qī)，注意(yì)事(shì)項

1，儀(yí)器操(cāo)作(zuò)前(qián)請您仔(zī)細閱(yuè)讀使用(yòng)說明(míng)書(shū)，規(guī)範(fàn)操作

2，輕(qīng)拿(ná)輕放，避(bì)免(miǎn)儀器震(zhèn)動，水平放置(zhì)，垂直(zhí)測(cè)量

3，儀器(qì)不使(shǐ)用時請切斷電源(yuán)，連接(jiē)綫(xiàn)無需經(jīng)常(cháng)拔下(xià)，避免(miǎn)灰塵進(jìn)入航(háng)空(kōng)插(chā)引起(qǐ)短(duǎn)接等(děng)現(xiàn)象

4，探(tàn)針(zhēn)筆測(cè)試結(jié)束，套好護套，避(bì)免人(rén)為(wéi)斷(duàn)針