高溫鐵(tiě)電測試儀(yí)-

產(chǎn)品(pǐn)名(míng)稱(chēng)：高(gāo)溫(wēn)鐵電測(cè)試儀-

產(chǎn)品型號：HCTD-800

品牌：北京華(huá)測

產(chǎn)品介(jiè)紹(shào)

本測(cè)試(shì)儀用於鐵電(diàn)體(tǐ)的(dí)鐵(tiě)電測(cè)量(liáng)，。本(běn)測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)主要(yào)包(bāo)括(kuò)可(kě)編(biān)程信(xìn)號(hào)源(yuán)，微電流(liú)放(fàng)大器，積分(fēn)器，放大倍數(shù)可編(biān)程(chéng)放大(dà)器，模(mó)/數轉換(huàn)器(qì)數/模(mó)轉(zhuǎn)化器(qì)，微機(jī)接口部分(fēn)，微機和(hé)應用(yòng)軟(ruǎn)件等部分(fēn)組(zǔ)成(chéng)。

本(běn)測(cè)試(shì)係統(tǒng)采(cǎi)用虛地模(mó)式測量(liáng)電路，與傳統的Sawyer-Tower模(mó)式相(xiāng)比(bǐ)，此電路取(qǔ)消了外(wài)接(jiē)電容(róng)，可(kě)減小(xiǎo)寄生元件(jiàn)的影響。此電(diàn)路(lù)的測(cè)試(shì)精度(dù)僅(jǐn)取決(jué)於積分器積分電(diàn)容的精(jīng)度(dù)，減(jiǎn)少(shǎo)了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節，比(bǐ)較容易(yì)定標(biāo)和(hé)，並且能(néng)實現(xiàn)較高的測(cè)量(liáng)準(zhǔn)確度，它(tā)不僅(jǐn)能畫(huà)出(chū)鐵電薄(báo)膜的電滯(zhì)回綫，還可以(yǐ)定量(liáng)得到(dào)鐵(tiě)電薄(báo)膜材料的飽(bǎo)和(hé)極化(huà)ps，剩餘(yú)極化(huà)Pr，矯頑(wán)場(cháng)Ec，漏電流(liú)Ik等參數(shù)，以及對鐵電(diàn)薄膜材(cái)料(liào)鐵(tiě)電疲(pí)勞，鐵(tiě)電保持的測試。能(néng)夠(gòu)較全麵準確地測量鐵(tiě)電薄膜的鐵(tiě)電。儀器(qì)采(cǎi)用(yòng)一(yī)體(tǐ)化(huà)設(shè)計(jì)，實現測(cè)試結(jié)果全(quán)數字(zì)化(huà)，操作(zuò)簡(jiǎn)單方便。

鐵電(diàn)材料參(cān)數測試儀主(zhǔ)要是由正弦(xián)波，三角波，間(jiān)歇(xiē)三角波(bō)，梯(tī)形(xíng)波發(fā)生(shēng)器及(jí)正，負矩形脈(mài)衝(chōng)和(hé)雙極性雙(shuāng)脈衝發(fā)生(shēng)器外加(jiā)鐵電(diàn)材(cái)料(liào)電(diàn)滯回(huí)綫，I-V特(tè)性(xìng)及開關(guān)特性測量(liáng)電(diàn)路構(gòu)成(chéng)。適用於(yú)鐵(tiě)電(diàn)薄(báo)膜，鐵(tiě)電體材料的(dí)電(diàn)測(cè)量，可測量鐵(tiě)電(diàn)薄膜電(diàn)滯回(huí)綫，I-V特性(xìng)及開(kāi)關特性，可準確(què)地測(cè)出具有(yǒu)非(fēi)對稱電滯回綫鐵電薄膜的(dí)Pr值。可(kě)測鐵電體(tǐ)材料(liào)的電(diàn)滯(zhì)回綫及(jí)IV特(tè)性(xìng)。同時也(yě)可(kě)作(zuò)為(wéi)一(yī)台(tái)通用信號發(fā)生(shēng)器(qì)，高(gāo)壓信(xìn)號(hào)發(fā)生器使(shǐ)用。

產品特點

• 電(diàn)滯回綫測(cè)量，鐵(tiě)電(diàn)材料(liào)的(dí)飽和(hé)極(jí)化±Ps，剩餘極(jí)化±Pr，矯(jiǎo)頑場±Ec，電容量(liáng)C等參數(shù)

• 鐵電(diàn)疲勞測(cè)量

• 鐵(tiě)電(diàn)保持測量(liáng)

• 電阻(zǔ)測量

• 漏電(diàn)流測量(liáng)

• 精(jīng)度高的三維(wéi)移動平(píng)台

軟件功(gōng)能(néng)

HC5000係列測試(shì)係統(tǒng)的(dí)軟件(jiàn)平台(tái)hacepro,采(cǎi)用labview係統開發(fā)，符合導體，半導(dǎo)體(tǐ)材料的(dí)各項測試需(xū)求(qiú)，具備穩(wěn)定性(xìng)與(yǔ)an全(quán)性，並(bìng)具(jù)備斷電資(zī)料的保(bǎo)存(cún)功能，圖(tú)像(xiàng)資(zī)料可(kě)保(bǎo)存恢復(fù)。兼(jiān)容(róng)，XP，win7，win10係統。

友(yǒu)善的使用(yòng)界麵(miàn)

多語(yǔ)界麵：支持中文/英文(wén) 兩(liǎng)種語(yǔ)言界麵(miàn)；

即(jí)時監控：係統(tǒng)測(cè)試(shì)狀態(tài)即(jí)時(shí)瀏(liú)覽，無(wú)需(xū)等(děng)待；

圖(tú)例(lì)管(guǎn)理(lǐ)：通過(guò)軟(ruǎn)件(jiàn)中(zhōng)的(dí)狀態圖示，一(yī)目(mù)了然(rán)，立(lì)即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了(liǎo)解測試(shì)狀態；

使用權限(xiàn)：可(kě)設定使(shǐ)用(yòng)者(zhě)的權限(xiàn)，方便管理(lǐ)；

故障狀(zhuàng)態(tài)：軟(ruǎn)件(jiàn)具(jù)有設備的故障報(bào)警功能。

硬(yìng)件支(zhī)持(chí)

• 集成(chéng)[email protected]雙核(hé)處(chǔ)理器(qì)

• 集(jí)成打印(yìn)機接口(kǒu)，可擴(kuò)充(chōng)8個USB接(jiē)口

• 支持(chí)16G內(nèi)存(cún)，60G固(gù)體硬(yìng)盤(pán)，讓(ràng)係統運行流(liú)暢。

應(yīng)用(yòng)領域

• 鐵電材料的(dí)電滯回綫(xiàn)（動(dòng)態與靜態），漏(lòu)電流等(děng)特(tè)性。

• 測(cè)量記錄(lù)在(zài)薄膜樣(yàng)品上施加階(jiē)躍電壓(yā)時的電流響(xiǎng)應。

• 超(chāo)晶格材料(liào)在方波脈(mài)衝(chōng)電壓激勵下的(dí)自(zì)漏(lòu)電(diàn)特性。

技(jì)術(shù)參數

1，電壓範圍(wéi)：±30V（可擴展(zhǎn)至±4KV）

2，輸出電(diàn)流(liú)峰值：±1A

3，負荷電容max：1μF

4，動(dòng)態電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)測試頻率：0.001Hx～100kHz

5，鐵電材(cái)料(liào)漏(lòu)電(diàn)流(liú)的測試(shì)：10pA～100mA

6，脈(mài)衝(chōng)寬(kuān)度(dù)min：25ns

7，上升(shēng)時間：7ns

8，極化測試精準(zhǔn)到：10fC

9，塊體(tǐ)材料樣品(pǐn)盒可進(jìn)行室溫(wēn)～1200℃電(diàn)滯回綫測(cè)定

HCTD高溫(wēn)鐵電測試儀(yí)/參(cān)數(shù)分(fēn)析(xī)儀(yí)

HCTD高溫鐵(tiě)電測(cè)試(shì)儀/參(cān)數分析(xī)儀