*    服(fú)務好(hǎo)

華(huá)測生產的電(diàn)弱(ruò)點測試(shì)儀(yí)經(jīng)過實(shí)踐(jiàn)驗證(zhèng)，穩(wěn)定可(kě)靠(kào)，目(mù)前(qián)廣泛應(yīng)用(yòng)於(yú)電氣絕(jué)緣(yuán)材(cái)料(liào)的電弱點測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

 該(gāi)儀(yí)器是(shì)根據GB/T 13542-92，IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標

準(zhǔn)要(yào)求(qiú)設(shè)計的(dí)高(gāo)壓(yā)試(shì)驗(yàn)裝置(zhì)。主(zhǔ)要用於電氣用聚氨(ān)脂(zhī)薄(báo)膜(mó)，塑(sù)料(liào)薄

膜(mó)，聚丙稀薄膜等絕(jué)緣(yuán)材(cái)料(liào)在(zài)給(gěi)定直(zhí)流電壓下(xià)每(měi)平方米(mǐ)的擊穿點(diǎn)數。

采(cǎi)用計算機控製，通過人機(jī)對話方式(shì)可對試驗過(guò)程中的(dí)各種(zhǒng)數據(jù)進行

快(kuài)速，準(zhǔn)確(què)的采集(jí)，處理，並可(kě)存(cún)取，顯示(shì)，打印。

產(chǎn)品用途：

 據標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電(diàn)氣用塑料薄膜(mó)試驗方法(fǎ)》，電(diàn)氣用塑

料薄(báo)膜要求(qiú)進(jìn)行電(diàn)弱點測(cè)試(shì)，在(zài)給(gěi)定直流電壓(yā)下(xià)每(měi)平方(fāng)米的(dí)擊穿點

（電弱點(diǎn)）數成(chéng)為衡量(liáng)薄(báo)膜成量的(dí)重(zhòng)要指(zhǐ)標(biāo)。電氣(qì)用塑(sù)料(liào)薄(báo)膜電(diàn)弱(ruò)點(diǎn)

測試儀(yí)，無(wú)須將膜卷分切(qiē)成小(xiǎo)卷(juàn)，根(gēn)據(jù)薄膜(mó)的使(shǐ)用寬度(dù)直(zhí)接(jiē)進行(háng)電(diàn)弱(ruò)

點測(cè)試。由於薄(báo)膜(mó)在生過(guò)程(chéng)中極易引起縱向劃(huá)傷(shāng)，該(gāi)儀器(qì)*引

用“電 弱綫"概念，即(jí)在(zài)規定(dìng)的時(shí)間內(nèi)檢測到(dào)的(dí)試樣(yàng)漏電 流均(jūn)超過

1mA時(shí)，認定為該薄(báo)膜試(shì)樣在生(shēng)產過(guò) 程中存在縱向(xiàng)劃(huá)痕，從而產

生(shēng)“電(diàn)弱綫"，測試儀(yí)統(tǒng)計的(dí)電(diàn)弱點總數(shù)為電(diàn)弱點(diǎn)數與(yǔ)電(diàn)弱綫(xiàn)數(shù)之

和，這(zhè) 樣(yàng)的測試數據(jù)史能真實地反映(yìng)薄膜的質(zhì)顯(xiǎn)水(shuǐ)平， 且(qiě)有助於分(fēn)

析生產過程中存在(zài)的(dí)問(wèn)題(tí)，從而有(yǒu)針對(duì)地提(tí)出(chū)解決問題的(dí)方案。

儀(yí)器結構：

 薄膜電(diàn)弱點測(cè)試(shì)儀(yí)外(wài)形(xíng)為櫃(guì)狀(zhuàng)一體(tǐ)化設(shè)計，左側為走膜及(jí)加(jiā)壓(yā)裝置，

右側(cè)為控製(zhì)係統及操作(zuò)麵板。走(zǒu)膜(mó)裝置，絕緣(yuán)導向輥(gǔn)，速度(dù)檢測輥等

構成(chéng)麵積(jī)檢測係統(tǒng)；加(jiā)壓(yā)裝置，漏(lòu)電流(liú)采樣(yàng)電(diàn)阻等構成電弱點檢(jiǎn)測係

統。

主(zhǔ)要特(tè)點(diǎn):

1，能根(gēn)據薄膜的使用(yòng)寬度(dù)進行(háng)電弱點的測試(shì)，測試(shì)寬度(dù)可(kě)根(gēn)據(jù)用(yòng)戶的

要求而設定，無須將膜(mó)分(fēn)切成(chéng)小卷，免除(chú)了許(xǔ)多(duō)外來因素(sù)對測試結(jié)果(guǒ)

的(dí)影響(xiǎng)。

2，測(cè)試數據能真實(shí)地反映(yìng)薄膜的(dí)質(zhì)量(liáng)水(shuǐ)平。

3，主(zhǔ)要元(yuán)器(qì)件均選用品牌（如(rú)歐姆龍(lóng)，美(měi)信，ABB等），有(yǒu)效(xiào)地

保證了設備(bèi)的(dí)可靠性，耐(nài)用(yòng)性和(hé)穩(wěn)定性(xìng)。

4，測量準(zhǔn)確(què)，復(fù)現性好。

5，測(cè)試過(guò)程采(cǎi)用(yòng)電(diàn)子(zǐ)技術(shù)全(quán)自(zì)動(dòng)控製，遇到(dào)電(diàn)弱(ruò)點(diǎn)時電壓(yā)切斷動(dòng)作迅(xùn)

速(sù)。

6，擊(jī)穿(chuān)電流(liú)在(zài)0～40mA連續(xù)可調(tiáo)，復(fù)現性好。

7，多(duō)重保(bǎo)護(hù)功(gōng)能，充分考慮(lǜ)了操(cāo)作(zuò)人(rén)員及設(shè)備的性(xìng)。

8，過壓，過流，接地保護(hù)，試(shì)驗平台(tái)門開啟(qǐ)保護。

工作(zuò)原理：

     本測試(shì)儀試(shì)驗電壓是0－20kV交(jiāo)直流(liú)電壓，其(qí)波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在(zài)試樣弱點(diǎn)擊穿(chuān)後約0.1s內(nèi)使電(diàn)壓回(huí)升到原來(lái)設定(dìng)的電壓。銅輥(gǔn)為(wéi)下電極，導電橡(xiàng)膠(jiāo)為上(shàng)電極。薄膜以3m/min的速度移(yí)動(dòng)。遇弱點(diǎn)時擊穿，擊穿(chuān)點自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜(mó)移(yí)動(dòng)以(yǐ)平方數自動(dòng)計數

符合標(biāo)準：

GB/T 13542-2009《電氣(qì)用塑(sù)料(liào)薄膜試驗方法(fǎ)》

IEC 60674-2:1988《電氣(qì)用(yòng)塑(sù)料(liào)薄(báo)膜標準要求設(shè)計的(dí)高壓試驗裝置》

JB 3282《固體(tǐ)絕緣材料(liào)相(xiāng)對耐表麵放電擊(jī)穿(chuān)試驗(yàn)方法(fǎ)》

儀器參數：

保(bǎo)護設(shè)計(jì)：

1，電源(yuán)間斷(duàn)保(bǎo)護：如果(guǒ)發生電(diàn)源(yuán)間斷，主控電器馬上跳閘(zhá)，再次來電

時係統(tǒng)自動復位(wèi)。

2，高(gāo)壓倉開(kāi)門(mén)跳閘：無論在(zài)任何(hé)狀(zhuàng)態，隻要(yào)打(dǎ)開高壓倉(cāng)門(mén)，將使主控

繼電(diàn)器的(dí)綫(xiàn)圈失(shī)電而(ér)跳閘。

3，電(diàn)源(yuán)保險綫：當機(jī)內故障或試(shì)品(pǐn)擊穿後(hòu)電(diàn)子(zǐ)開關未能及時動(dòng)作(zuò)時(shí)，

該熔絲(sī)自動(dòng)燒斷，切斷(duàn)電源(yuán)。

4，接地(dì)保護（主機(jī)後(hòu)外板）：本機(jī)接地可防(fáng)止(zhǐ)機殼感應(yīng)高(gāo)壓，保護設(shè)

備和(hé)人身。沒有接地不(bù)允許通電(diàn)。

主要(yào)配件生(shēng)產廠(chǎng)家(jiā)：

變壓器：武(wǔ)高所(suǒ)監製(zhì)

控(kòng)製係(xì)統(tǒng)：PLC

升(shēng)壓(yā)係統:spwm華測

繼電器：施(shī)耐德

電流傳感器：華(huá)測開(kāi)發(fā)

電壓(yā)傳感器：鬆(sōng)野(yě)

過(guò)壓(yā)，過流(liú)係統： 華測(cè)開發(fā)

TVS防護：華(huá)測開發

主(zhǔ)要配置：

1，測試(shì)主機(jī)一台

2，導電橡(xiàng)膠(jiāo)電極兩(liǎng)對

3，品(pǐn)牌計算機一台

4，品(pǐn)牌(pái)打印(yìn)機(jī)一台

5，放電(diàn)裝置一套(tào)

6，產(chǎn)品說明書一份(fèn)

7，產(chǎn)品(pǐn)合(hé)格(gé)證(zhèng)一(yī)份

試驗方便   一機(jī)多用(yòng)

高試驗(yàn)儀器可(kě)以測量交(jiāo)流電壓(yā)，直流電(diàn)壓(yā)下的(dí)材(cái)料電弱(ruò)點

保證(zhèng)

薄(báo)膜電(diàn)弱點(diǎn)測試儀(yí)器

薄膜(mó)電(diàn)弱點測試(shì)儀器