華測鐵(tiě)電分析儀 國(guó)產(chǎn)可定(dìng)製
華測(cè)鐵電分(fēn)析儀(yí) 國產可定(dìng)製應用領域:
鐵(tiě)電(diàn)存(cún)儲器的生(shēng)產
生(shēng)產過程中的(dí)質量控製,以便不會(huì)影響(xiǎng)到CMOS生(shēng)產(chǎn)過(guò)程(chéng)
在(zài)MHz的(dí)操作速度下,單(dān)級電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫數據(jù)
優點:
生產(chǎn)過程(chéng)的(dí)工(gōng)藝(yì)優化(huà)
在MHz範圍(wéi)的時間(jiān)影響測(cè)試
適用於2T-2C 設計和1T-1C設計
從模擬測(cè)試(shì)數據得出(chū)內(nèi)存(cún)窗口(kǒu)信(xìn)息(xī)
客(kè)戶可定(dìng)製測(cè)試(shì)環(huán)境
升級(jí)服(fú)務
客(kè)戶(hù)支持
程序(xù)功(gōng)能:
可(kě)以(yǐ)在單一器(qì)件上進行(háng)電(diàn)滯回綫(xiàn),PUND脈衝(chōng)測(cè)試等測試過程(chéng)。
上升時(shí)間(jiān)Z低可實現1μm,自定(dìng)義的測(cè)試(shì)脈(mài)衝(chōng)可(kě)以用(yòng)於測(cè)試(shì)不同類型的(dí)失效(xiào)機製。預極化脈(mài)衝參(cān)數(shù)可以在測(cè)試(shì)序(xù)列(liè)裏單(dān)獨(dú)設(shè)置。
可以(yǐ)使(shǐ)用Access Time程(chéng)序進行相同脈衝強度(dù)下不同幅值相同脈衝(chōng)寬度(dù)或相同脈衝(chōng)幅值(zhí)不同脈(mài)衝(chōng)寬度(dù)的測(cè)試(shì)。
這(zhè)些(xiē)測試是基(jī)於技(jì)術:原位寄生電容(róng)補償。
特(tè)點:
FeRAM測試儀是(shì)用來記錄(lù)測(cè)試單元電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)的(dí),測試(shì)儀生成所(suǒ)需(xū)要的時間(jiān)。
如果芯(xīn)片的(dí)布局發生變(biàn)化(huà),可以(yǐ)自(zì)動獲(huò)取材料(liào)特性(xìng)較大的陣(zhèn)列(liè)。這(zhè)種情(qíng)況下,測試(shì)儀(yí)是(shì)用(yòng)一個開(kāi)關(guān)盒(hé)和一個探針(zhēn)台工(gōng)作的。軟件可(kě)以自動(dòng)調(tiáo)整設置的參數。
參(cān)數的(dí)統計(jì)評價是(shì)通過(guò)aixPlorer完成(chéng)的(dí)。
FeRAM測(cè)試儀的(dí)優(yōu)點(diǎn)就(jiù)是(shì)可(kě)以使(shǐ)重(zhòng)要信(xìn)息流程(chéng)化,從而提高產量(liáng),降(jiàng)低(dī)了(liǎo)成本,從(cóng)而減少(shǎo)了產品上(shàng)市的時間。相關(guān)的數字結果(guǒ)和(hé)模(mó)擬實(shí)驗提供(gōng)了重要(yào)信(xìn)息。
FeRAM測試儀(yí)擁有高分辨測(cè)量(liáng)和速度到(dào)微秒的(dí)測量功能。


