
當(dāng)前(qián)位置:首頁 > 產(chǎn)品(pǐn)中(zhōng)心(xīn) > 功(gōng)能材料測(cè)試(shì)儀器 > D33壓電係數(shù)測(cè)試儀 > 居裏(lǐ)溫度測(cè)試儀器

簡要(yào)描述:居裏溫度(dù)測試(shì)儀器運用三電極法設計原理(lǐ)測量。重(zhòng)復(fù)性(xìng)與穩定性好(hǎo),采用雙屏蔽高(gāo)頻測(cè)試(shì)綫(xiàn)纜,提(tí)高(gāo)測(cè)試(shì)參數的精(jīng)確度,同時抗擾能力強。本設備也可(kě)應用(yòng)於產品檢測(cè)以(yǐ)及(jí)新材料電(diàn)學(xué)研(yán)究等用途。
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| 品牌(pái) | 華測(cè)儀器(qì) | 產地(dì)類別 | 國(guó)產 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域(yù) | 電子/電池,電氣,綜合(hé) |
居(jū)裏(lǐ)溫度測試(shì)儀(yí)器(qì)運(yùn)用三電(diàn)極(jí)法(fǎ)設計(jì)原理測(cè)量重(zhòng)復性與穩(wěn)定(dìng)性好,采用雙屏蔽高頻(pín)測試綫纜,提高測試參數的(dí)精(jīng)確度(dù),同(tóng)時抗擾能力強。本(běn)設備(bèi)也可(kě)應(yīng)用於(yú)產(chǎn)品(pǐn)檢測以及新(xīn)材料電(diàn)學研究(jiū)等(děng)用途。
搭配(pèi)Labview係(xì)統開(kāi)發的Huacepro軟(ruǎn)件(jiàn),具備彈性的自定(dìng)義功(gōng)能(néng),可(kě)進行(háng)介(jiè)電(diàn)溫(wēn)譜,頻(pín)譜,升溫速度,測量參(cān)數等設置,符合壓電陶瓷與其它新材料(liào)測試(shì)多樣(yàng)化(huà)的需(xū)求。電(diàn)壓,過電流,超溫(wēn)等(děng)異(yì)常(cháng)情況(kuàng)以保(bǎo)證測(cè)試過(guò)程(chéng)的;資料保(bǎo)存(cún)機製(zhì),當遇到電腦異(yì)常(cháng)瞬(shùn)時斷電(diàn)可將資(zī)料保(bǎo)存於控製(zhì)器(qì)中,不丟(diū)失(shī)試(shì)驗(yàn)數據(jù),設備重新啟(qǐ)動後可恢復原有試驗數據。
目前電網中(zhōng)大量使用變頻器等(děng)高(gāo)頻,高(gāo)功率設備,將對(duì)電網(wǎng)造成(chéng)諧(xié)波(bō)幹擾。從而在(zài)高頻,弱(ruò)信號(hào)測(cè)量過(guò)程(chéng)中影響弱信(xìn)號(hào)的采集(jí),華(huá)測(cè)儀器公司(sī)推出的(dí)抗擾模塊(kuài)以及采(cǎi)用特殊(shū)參數分(fēn)析(xī)技術(shù),實現(xiàn)了(liǎo)高(gāo)達120MHz的高頻(pín)測量(liáng),從而滿足了(liǎo)很(hěn)多(duō)半導體,功(gōng)能材料(liào)和納米器件(jiàn)的測試(shì)需求.
設備測量參數(shù)

ε介電(diàn)常(cháng)數(shù),(ε',ε''介電常(cháng)數實(shí)部(bù)與虛部),C電(diàn)容(róng),(C’,C''電容實(shí)部(bù)與(yǔ)虛(xū)部,D損耗,R電阻,(R',R''電阻實(shí)部(bù)與(yǔ)虛部(bù)),Z,(Z',Z''阻(zǔ)抗實部(bù)與虛部),Y導(dǎo)納,Y’,Y''(導納實(shí)部(bù)與虛部),X電(diàn)抗,Q因數,cole-cole圖譜(pǔ),機(jī)電耦合係數(shù)Kp,等(děng)一係列測(cè)量參(cān)數及介電(diàn)溫(wēn)譜與頻(pín)譜等測(cè)試功(gōng)能。

華測係(xì)列(liè)阻抗(kàng)分(fēn)析儀是(shì)華測儀器(qì)電子事(shì)業(yè)部(bù)采用當(dāng)前(qián)自動(dòng)平衡(héng)電橋原理(lǐ)研製成功(gōng)的(dí)新一代(dài)阻抗測試儀(yí)器(qì)。得益(yì)於自(zì)動平衡(héng)電橋(qiáo)技術(shù),在10Hz-50MHz的(dí)頻率(shuài)範圍可以(yǐ)保證0.05%的基本(běn)精度。 快達5ms的測(cè)試(shì)速度及(jí)高(gāo)達50M的阻(zǔ)抗(kàng)測試(shì)範(fàn)圍可以滿足元件(jiàn)與材料(liào)的測量(liáng)要求(qiú),特別有(yǒu)利(lì)於(yú)低損耗(hào)(D)電容(róng)器和(hé)高(gāo)因(yīn)數(shù)(Q)電感器(qì)的測(cè)量(liáng)。四(sì)端對的端口配(pèi)置方式可有效消除(chú)測(cè)試(shì)綫(xiàn)電磁耦合的影響,將(jiāng)低(dī)阻抗測(cè)試(shì)能力(lì)的(dí)下限(xiàn)比常(cháng)規(guī)端配置(zhì)的儀器向下(xià)擴展了十(shí)倍(bèi)。
阻抗分(fēn)析儀測量&高溫爐基本(běn)參(cān)數

測(cè)試係統(tǒng)的(dí)軟(ruǎn)件平台 Huacepro ,采(cǎi)用labview係統(tǒng)開發(fā),符(fú)合功(gōng)能材(cái)料(liào)的各項測試需求(qiú),具備(bèi)穩(wěn)定(dìng)性(xìng)與操作(zuò)an全性,並具備斷(duàn)電(diàn)資料的保存功(gōng)能(néng),圖像資料也可(kě)保存恢復(fù)。
█ 多語(yǔ)介(jiè)麵:支持中(zhōng)文(wén)/英文 兩種(zhǒng)語言界(jiè)麵(miàn);
█ 即時監控:係(xì)統測試狀(zhuàng)態即(jí)時(shí)瀏覽,無須等待;
█ 圖(tú)例管(guǎn)理(lǐ):通(tōng)過軟件(jiàn)中的(dí)狀態(tài)圖示(shì),一目了(liǎo)然(rán),立即對狀態說明,了解測(cè)試狀(zhuàng)態(tài);
█ 使用(yòng)權(quán)限:可設(shè)定使用者的權限,方(fāng)便管理(lǐ);
█ 故(gù)障狀態:軟件具有(yǒu)設備的(dí)故(gù)障報警(jǐng)功(gōng)能。
█ 試驗報(bào)告:自(zì)定義(yì)報(bào)表格式(shì),一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告,可導出(chū)EXCEL,PDF格(gé)式報表。

居(jū)裏溫(wēn)度測試儀器(qì)
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