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簡(jiǎn)要描述:TSC熱刺(cì)激(jī)電流測(cè)試(shì)儀-熱激發電流(liú)分析儀(yí)器因為熱刺(cì)激電流(liú)與材料的這些參數(如(rú)h與τ)密(mì)切相(xiāng)關,故它是一種研(yán)究介電材料(liào),絕緣材料,半導體材(cái)料等(děng)的有效(xiào)手段。tsc是指(zhǐ)當(dāng)樣品受到(dào)電場極(jí)化後,去掉電場(cháng),熱(rè)激(jī)時(shí),樣(yàng)品(pǐn)從(cóng)極(jí)化態(tài)轉變到(dào)平衡態的過(guò)程(chéng)中(zhōng),在(zài)外電(diàn)路(lù)中得到的電(diàn)流(liú),稱為(wéi)熱(rè)激退極(jí)化(huà)電(diàn)流。
產(chǎn)品分(fēn)類(lèi)
Product Category相(xiāng)關文章(zhāng)
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| 品牌 | 華(huá)測儀器(qì) | 產地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域(yù) | 化工,能(néng)源(yuán),電子/電池,電(diàn)氣(qì),綜合(hé) |
TSC熱刺激電流測試儀-熱(rè)激發(fā)電(diàn)流分(fēn)析儀器(qì)
熱刺激理(lǐ)論是在介(jiè)質物理的(dí)基(jī)礎(chǔ)上發展(zhǎn)起(qǐ)來的,研究這一(yī)理(lǐ)論(lùn)的方法(fǎ)即熱刺(cì)激法(fǎ)比較簡(jiǎn)單實用而(ér)且又(yòu)能較(jiào)準確(què)地測量出(chū)某(mǒu)些(xiē)物質(如(rú)電介質,絕緣材(cái)料,半導(dǎo)體,駐極體等)的微(wēi)觀參(cān)數,熱刺激法是一(yī)麵對(duì)材料升溫一(yī)麵進(jìn)行測(cè)量,即(jí)非等(děng)溫(wēn)測量。由於(yú)材料(例如介電(diàn)材料)中的(dí)荷(hé)電粒(lì)子(zǐ)的(dí)微觀參數(如(rú)活(huó)化(huà)能(néng)h,鬆弛時(shí)間τ等(děng))不(bù)同(tóng),用(yòng)熱刺(cì)激(jī)法就很容易(yì)將(jiāng)材料(liào)中的各種(zhǒng)不(bù)同(tóng)h或(huò)τ的荷電粒子分離開來,從而求出(chū)各自的參數(shù)。因(yīn)為(wéi)熱刺激(jī)電流(liú)與(yǔ)材料(liào)的(dí)這(zhè)些參數(如h與τ)密切相關(guān),故它(tā)是(shì)一種(zhǒng)研究(jiū)介(jiè)電(diàn)材(cái)料(liào),絕緣材料,半導體材料等的有效手(shǒu)段。tsc是指當樣品受到電場極(jí)化後(hòu),去掉電(diàn)場(cháng),熱激時(shí),樣(yàng)品從極(jí)化態轉(zhuǎn)變到平(píng)衡態(tài)的過(guò)程(chéng)中,在(zài)外電路中(zhōng)得到的(dí)電流,稱為熱(rè)激退極化(huà)電流(liú)。
一(yī)個(gè)係統就可以(yǐ)進(jìn)行(háng)塊(kuài)體陶(táo)瓷(cí)材(cái)料的熱激發極(jí)化電流(liú)TSDC,電阻(zǔ)和鐵(tiě)電進行(háng)綜合(hé)評(píng)價,設(shè)備(bèi)可以(yǐ)遠(yuǎn)程接(jiē)入(rù)華測遠(yuǎn)程服務平台,可針對用戶應用和(hé)要(yào)求的硬(yìng)件(jiàn)升(shēng)級(jí)服(fú)務,對用戶遠程指(zhǐ)導(dǎo)及技(jì)術(shù)支持
特(tè)點(diǎn):
支持的硬件(jiàn):
內置或外置的高(gāo)壓放大器(qì)(+/-100V到(dào)+/-10 kV)
塊(kuài)體陶(táo)瓷(cí)樣(yàng)品(pǐn)夾(jiā)具(jù)
溫度控製(zhì)器(qì)和(hé)溫(wēn)度(dù)腔
測(cè)試功(gōng)能(néng):
熱釋(shì)電(diàn)測(cè)試
漏電流測(cè)試(shì)
疲(pí)勞測(cè)試(shì)
用(yòng)戶定義激(jī)勵(lì)波(bō)形
SDC/TSC-2000型熱(rè)激勵(lì)去(qù)極化電流(liú)測量(liáng)係統原(yuán)理(lǐ):
介(jiè)質材(cái)料(liào)在(zài)受熱(rè)過程中建(jiàn)立極化態或(huò)解除(chú)極化(huà)態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路(lù)電流。基本方(fāng)法(fǎ)是(shì)將試樣夾在兩(liǎng)電(diàn)極之間,加熱到一定溫度(dù)使(shǐ)樣品中的載流(liú)子激發,然後施加一個直(zhí)流(liú)的極(jí)化電壓,經(jīng)過(guò)一段(duàn)時間(jiān)使(shǐ)樣品充分(fēn)極化(huà),以便載流子向電(diàn)極漂移或偶(ǒu)極(jí)子(zǐ)充分(fēn)取(qǔ)向(xiàng),隨(suí)後立(lì)即降溫到低溫,使各(gè)類極化(huà)“凍(dòng)結",然後(hòu)以(yǐ)等(děng)速(sù)率(shuài)升(shēng)溫,同(tóng)時記(jì)錄試樣(yàng)經(jīng)檢流計短路(lù)的去極化(huà)電(diàn)流隨溫度(dù)的變(biàn)化(huà)關(guān)係,即得到TSDC譜“凍(dòng)結",然後以(yǐ)等(děng)速(sù)率(shuài)升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢(jiǎn)流計短路(lù)的去極化電流隨溫度的變化關係,即(jí)得(dé)到TSDC譜
TSDC/TSC-2000型(xíng)熱激(jī)勵(lì)去(qù)極化(huà)電流測(cè)量(liáng)係統應(yīng)用(yòng):
廣泛(fàn)應用於電力,絕緣,生物(wù)分子(zǐ)等領(lǐng)域(yù),用於研究材(cái)料的一(yī)些(xiē)關(guān)鍵因素,諸如(rú)分子弛(chí)豫,相轉(zhuǎn)變,玻(bō)璃(lí)化(huà)溫度等等,通(tōng)過TSDC技(jì)術(shù)也可以(yǐ)比(bǐ)較(jiào)直(zhí)觀(guān)的(dí)研究(jiū)材(cái)料的弛豫時(shí)間(jiān),活(huó)化(huà)能等相關的(dí)介電(diàn)特(tè)性。TSDC技術也可以比較直觀(guān)的研(yán)究材(cái)料的(dí)弛(chí)豫(yù)時間,活(huó)化(huà)能(néng)等相關(guān)的(dí)介(jiè)電(diàn)特性。
主要(yào)技術參數(shù):
極(jí)化電壓:±0-10kV(最大電壓)
極化(huà)電流(liú):10fA~20mA
控溫(wēn)精度:±0.5℃
測量精(jīng)度:0.05%
升降溫(wēn)速率快(kuài):0.01~ 30 ℃/min
溫(wēn)度範圍寬:- 185 ~ 500 ℃
升降(jiàng)溫速率快(kuài):(0.01 ~ 30)℃/min
多種獨立變量:溫度,極(jí)化(huà)電壓,極化時(shí)間(jiān),升降溫(wēn)速率等(děng)
多(duō)種測(cè)量(liáng)模(mó)式:
熱激勵(lì)去(qù)極化,熱激勵極化,等溫(wēn)極化(huà)時域(yù),等溫電導率時(shí)域(yù),等(děng)溫弛(chí)豫(yù)譜(pǔ)等(děng)
多(duō)種(zhǒng)測量參(cān)數:樣品(pǐn)電(diàn)流,電流(liú)密度,電荷(hé)變(biàn)化,介電常數(shù)變化(huà)等(děng)
通訊(xùn):USB接口

TSC熱刺(cì)激電流(liú)測(cè)試(shì)儀(yí)-熱(rè)激發電(diàn)流(liú)分(fēn)析儀(yí)器(qì)
TSC熱刺激電流測(cè)試儀(yí)-熱(rè)激發電(diàn)流(liú)分析(xī)儀器(qì)
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