
當前位置:首頁(yè) > 產品中(zhōng)心 > 新品推(tuī)薦 > 儲能新材(cái)料(liào)電(diàn)學綜(zōng)合測(cè)試係(xì)統(tǒng) > 儲能新(xīn)材料電學(xué)綜合(hé)測(cè)試(shì)係統/介電(diàn)場(cháng)強簡(jiǎn)要(yào)描述(shù):儲能新材(cái)料電學綜合測(cè)試(shì)係(xì)統/介(jiè)電(diàn)場強,可進行(háng)電壓擊(jī)穿(介電場(cháng)強),高低頻介電頻譜(pǔ),溫譜,高(gāo)溫絕(jué)緣電阻(zǔ),熱(rè)釋(shì)電測(cè)試,TSDC熱刺激極化(huà)電流(liú),充放電(diàn)儲(chǔ)能(néng)密(mì)度(dù)測(cè)試(shì),電聲脈(mài)衝法空(kōng)間電荷測量,靜電電(diàn)壓(yā)等(děng)。
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| 品(pǐn)牌 | 華測儀(yí)器(qì) | 價格(gé)區間(jiān) | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別(bié) | 國(guó)產(chǎn) | 應用(yòng)領域(yù) | 環保(bǎo),電(diàn)子/電(diàn)池(chí),製藥/生物(wù)製(zhì)藥(yào),電氣,綜(zōng)合(hé) |
隨著能源(yuán)需(xū)求(qiú)的不斷(duàn)增(zēng)加以及對(duì)環境(jìng)友好(hǎo)能源(yuán)的需求,新(xīn)型能(néng)源儲能(néng)材(cái)料的研(yán)究(jiū)成為(wéi)了(liǎo)當前(qián)的熱門(mén)領(lǐng)域(yù)之(zhī)一。在開發(fā)新一代的儲能(néng)新材料時,對(duì)其(qí)性能的測試與分(fēn)析(xī)是至(zhì)關重(zhòng)要(yào)的一(yī)環(huán),儲(chǔ)能新材料(liào)電學(xué)綜合(hé)測試係統可以通過各(gè)功能測(cè)試模(mó)塊,係(xì)統的幫組科研人員從(cóng)能(néng)量密度(dù),功率(shuài)密度,循(xún)環壽命,安(ān)全性(xìng)四個(gè)方(fāng)麵對新材(cái)料(liào)性能進行分析(xī)檢測(cè),評估(gū)材(cái)料(liào)的性能指標,判斷(duàn)是否符合(hé)應用(yòng)要求(qiú)。
係(xì)統(tǒng)配(pèi)置(zhì)01.電壓擊(jī)穿(介電場強)
由能量(liáng)密度可知(zhī),擊穿場強相對(duì)於(yú)介(jiè)電(diàn)常數對(duì)於材(cái)料能量(liáng)密(mì)度的(dí)影響更(gēng)為突出,獲(huò)得高能量密(mì)度對(duì)復(fù)合材(cái)料擊(jī)穿(chuān)場強提(tí)出(chū)了(liǎo)更(gēng)高(gāo)的(dí)要求。
通過(guò)上(shàng)位(wèi)機係統控(kòng)製(zhì)高壓擊穿測試模塊(kuài),可以(yǐ)安(ān)全(quán),便(biàn)捷,準(zhǔn)確(què)的對測(cè)試樣品(pǐn)進(jìn)行工頻(pín)下(xià)的(dí)交(jiāo)流,高(gāo)壓直流(liú)擊穿試驗,測(cè)試(shì)出(chū)擊(jī)穿場強(qiáng)。甚至(zhì)可以通(tōng)過測試軟件設置(zhì)直流(liú)輸(shū)出(chū)時間,以(yǐ)完(wán)成(chéng)樣品的(dí)極化過程(chéng)。
02.高低頻介電頻(pín)譜,溫(wēn)譜
用(yòng)於(yú)分析寬頻,高低溫(wēn)環境下儲能(néng)新(xīn)材(cái)料的阻抗Z,電抗X,導納(nà)Y,電導G,電(diàn)納B,電感L,介電損耗D,品(pǐn)質(zhì)因數Q等(děng)物理量,同時還可(kě)以分(fēn)析(xī)被測(cè)樣(yàng)品(pǐn)隨溫度,頻率,時間(jiān),偏壓變(biàn)化的曲綫(xiàn)。
03.高溫(wēn)絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)
高(gāo)精(jīng)度(dù)的(dí)電壓(yā)輸出(chū)與電流測量,即(jí)使在高低溫環境下可(kě)能很好的屏蔽(bì)背景電流(liú),保障(zhàng)測(cè)試品質,適用與儲能新(xīn)材料(liào)在(zài)不同(tóng)環境溫度下絕緣性能的檢測。
04.熱釋電測(cè)試
不論是薄膜還(huán)是塊(kuài)體形式的(dí)儲能(néng)材料,都可對(duì)其(qí)進行熱(rè)釋(shì)電(diàn)性能測(cè)試。采用電(diàn)流法(fǎ)進行(háng)測(cè)量(liáng),材料(liào)的(dí)熱(rè)釋電電流(liú),熱釋電係數(shù),剩餘(yú)極(jí)化(huà)強度對溫(wēn)度(dù)和(hé)時間的曲綫。
05.TSDC熱刺激極(jí)化(huà)電(diàn)流(liú)
熱刺激(jī)電流(TSC)是(shì)研究熱釋電材料中(zhōng)陷阱結(jié)構和(hé)陷(xiàn)阱結(jié)構所控製的(dí)空(kōng)間(jiān)電(diàn)荷(hé)存貯及(jí)運(yùn)輸(shū)特性(xìng)的工(gōng)具(jù),同時也(yě)是研(yán)究(jiū)熱點(diǎn)材料(liào)結構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子(zǐ)運動(dòng)的重要手段(duàn)。諸如(rú):分子弛豫,相轉變,玻璃(lí)化(huà)溫度等等,通(tōng)過(guò)TSDC技(jì)術也(yě)可(kě)以直觀的(dí)研究材料的弛豫(yù)時間,活化(huà)能等相關(guān)介(jiè)電(diàn)特性(xìng),
06.充(chōng)放(fàng)電(diàn)儲能密度測(cè)試(shì)
用(yòng)於研究介(jiè)電儲能材料高電(diàn)壓放(fàng)電性能,同目(mù)前常見的方法是通過電(diàn)滯回(huí)綫(xiàn)計(jì)算(suàn)高壓下電介(jiè)質能量密(mì)度,測試(shì)時(shí),樣品(pǐn)的(dí)電荷釋(shì)放至高(gāo)壓源(yuán)上(shàng),而非釋(shì)放至(zhì)負載(zǎi)上,也(yě)就(jiù)是(shì)說,通(tōng)過電滯(zhì)回綫(xiàn)測得(dé)的能量密(mì)度會大(dà)與樣(yàng)品實(shí)際釋(shì)放的能量(liáng)密(mì)度,不(bù)能正確(què)評估儲能(néng)材(cái)料的(dí)正常(cháng)放電(diàn)性能。華測(cè)充放(fàng)電測試(shì)具有(yǒu)專門設計(jì)的電容放(fàng)電電路來測(cè)量,首先將測試(shì)材料(liào)充電到給定(dìng)電(diàn)壓,之(zhī)後通過(guò)閉合(hé)高速(sù)MOS高壓開關,將(jiāng)存儲(chǔ)在儲能(néng)材料中(zhōng)的能量(liáng)釋放到電阻器負載中,更符(fú)合(hé)電介質充放(fàng)電(diàn)原理。
07.電聲脈(mài)衝法空(kōng)間(jiān)電荷測量(liáng)
空(kōng)間電(diàn)荷(hé)是指在(zài)材(cái)料特定(dìng)區域內(nèi)電(diàn)荷分(fēn)布不均匀(yún)的現象(xiàng)。該(gāi)現(xiàn)象是由(yóu)於(yú)載流子的(dí)擴散和漂(piāo)移(yí)運動所導致的,在(zài)材料的(dí)局(jú)部(bù)區(qū)域(yù)產(chǎn)生了(liǎo)電荷累(léi)積(jī),從而使材料(liào)改變(biàn)了原本(běn)的電中性狀(zhuàng)態。空(kōng)間電荷的(dí)存(cún)在對材料的(dí)電(diàn)學性(xìng)能(néng)有著(zhuó)重要的(dí)影響(xiǎng),可(kě)能導(dǎo)致(zhì)電(diàn)場(cháng)畸變(biàn),絕緣(yuán)性能(néng)下降等問題。
電聲(shēng)脈衝(chōng)法(PEA)空間電荷(hé)測試可以(yǐ)便捷(jié)準確地測(cè)量固(gù)體儲能(néng)材(cái)料內(nèi)部空間電荷分布(bù),電聲(shēng)脈衝法可以測量(liáng)較厚的介(jiè)質(zhì),可以在(zài)帶電(diàn)狀態下直接(jiē)測量絕緣(yuán)測試樣品中的(dí)空間電荷(hé)分布,最小可測空間電荷密(mì)度(dù)為4μC·cm-3,最(zuì)小(xiǎo)可測(cè)試(shì)樣厚度(dù)為0.2mm。
08.靜(jìng)電(diàn)電壓
靜(jìng)電(diàn)是(shì)一(yī)種(zhǒng)處(chǔ)於(yú)靜止狀(zhuàng)態(tài)的電荷(hé),雖(suī)然其(qí)總電荷量不(bù)大,但(dàn)其(qí)瞬(shùn)間(jiān)釋放(fàng)所產(chǎn)生(shēng)的高電壓與大電(diàn)流非常容易(yì)對(duì)周邊(biān)電路,設備乃(nǎi)至(zhì)人員(yuán)造成(chéng)損害(hài)。對(duì)儲能(néng)材料的靜電(diàn)性(xìng)能(néng)(包括(kuò)麵電(diàn)荷密度(dù)與電(diàn)阻(zǔ))進行(háng)測試,可(kě)以(yǐ)對後期防(fáng)靜(jìng)電(diàn)工程設計和改善(shàn)儲能係(xì)統的(dí)抗靜電(diàn)性能(néng)設(shè)計(jì)提(tí)供(gōng)數據支(zhī)持,對(duì)周(zhōu)圍(wéi)電路(lù)的(dí)靜電(diàn)敏感電子(zǐ)元(yuán)器件選(xuǎn)型(xíng)提供參考(kǎo)依據。
功(gōng)能(néng) | 測(cè)試儀表 | 測試(shì)環境配件/夾(jiā)具 | ||
電壓擊穿(介電場強(qiáng)) | 高壓(yā)電源 | 變(biàn)溫(wēn)油浴槽 溫度範圍:RT~250℃(視(shì)絕緣(yuán)介質性能(néng)) | ||
高低頻介電(diàn)溫譜(pǔ) | 阻抗分(fēn)析儀(yí) | 高(gāo)低(dī)溫(wēn)冷(lěng)熱台(tái) 溫(wēn)度範圍(wéi):-185℃~600℃ | 高溫近(jìn)紅(hóng)外爐(lú) 溫(wēn)度範圍:RT~1450℃ | 高低溫環境(jìng)箱(xiāng) 溫度範(fàn)圍:-185℃~450℃ |
高溫(wēn)絕(jué)緣電阻測試 | 高(gāo)阻計(jì)/源表(biǎo) | 高低溫(wēn)冷熱台 溫(wēn)度範(fàn)圍:-185℃~600℃ | 高溫(wēn)近紅外爐 溫度範(fàn)圍:RT~1450℃ | 高低溫(wēn)環(huán)境箱 溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍(wéi):-185℃~450℃ |
熱(rè)釋(shì)電測試 | 高(gāo)阻計/靜電計 | 高低(dī)溫冷熱台 溫度範圍:-185℃~600℃ | 高(gāo)低(dī)溫環境箱 溫度範圍:-185℃~450℃ | |
TSDC熱刺激電流(liú)測試 | 高阻計/靜(jìng)電計(jì) | 高(gāo)低(dī)溫冷熱(rè)台(tái) 溫度範圍:-185℃~600℃ | 高低溫環境箱 溫度範圍(wéi):-185℃~450℃ | |
充放電儲(chǔ)能密度(dù)測試 | 充(chōng)放電測(cè)試模(mó)塊 | 變溫測(cè)試(shì)盒(hé) 溫度範圍(wéi):RT~250℃(視絕緣(yuán)介(jiè)質性能(néng)) | ||
靜(jìng)電電(diàn)壓 | 高阻計/靜電(diàn)計(jì) | 靜(jìng)電(diàn)變溫測(cè)試罐 溫度(dù)範圍: | ||
空間電(diàn)荷測(cè)試(shì) | 示波器(qì)+高(gāo)壓電(diàn)源+功率(shuài)放大(dà)器 | 電(diàn)聲脈衝(chōng)法空間(jiān)電(diàn)荷(hé)測試(shì)夾(jiā)具 | ||
儲(chǔ)能新材料電學綜合(hé)測試(shì)係統可進行電(diàn)壓(yā)擊穿(chuān)(介電(diàn)場強),高低頻介(jiè)電(diàn)頻譜(pǔ),溫(wēn)譜(pǔ),高(gāo)溫(wēn)絕緣電(diàn)阻(zǔ),熱(rè)釋電測(cè)試,TSDC熱(rè)刺激極化電流(liú),充(chōng)放電儲能密(mì)度(dù)測試,電聲(shēng)脈衝(chōng)法空(kōng)間(jiān)電荷測(cè)量(liáng),靜(jìng)電電壓(yā)等。







儲能新材料電(diàn)學綜(zōng)合測試係(xì)統(tǒng)/介(jiè)電場強
儲(chǔ)能新材料電(diàn)學綜(zōng)合測試係統/介電場強(qiáng)
產(chǎn)品(pǐn)咨(zī)詢(xún)

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