儲能新(xīn)材料電學綜(zōng)合測(cè)試(shì)係統

隨著能源需(xū)求的不(bù)斷(duàn)增加以及對(duì)環(huán)境(jìng)友(yǒu)好能(néng)源(yuán)的需求
，新型(xíng)能源儲能材料(liào)的研究成為(wéi)了(liǎo)當(dāng)前(qián)的熱(rè)門(mén)領域之(zhī)一(yī)
。在開發(fā)新一代的(dí)儲(chǔ)能(néng)新材料(liào)時
，對其性(xìng)能的(dí)測(cè)試與(yǔ)分(fēn)析(xī)是(shì)至(zhì)關(guān)重要(yào)的一(yī)環
，儲(chǔ)能新材(cái)料電(diàn)學(xué)綜(zōng)合測(cè)試(shì)係統可以通(tōng)過(guò)各功(gōng)能(néng)測(cè)試模塊
，係(xì)統的(dí)幫組科研(yán)人員從能(néng)量密(mì)度，功率(shuài)密(mì)度，循環(huán)壽(shòu)命，安(ān)全(quán)性(xìng)四個方麵對新材(cái)料性(xìng)能(néng)進行分析檢(jiǎn)測(cè)
，評估材(cái)料的性能(néng)指標(biāo)
，判斷(duàn)是(shì)否(fǒu)符合應用要求
。

係(xì)統配(pèi)置

測試模(mó)塊(kuài)

01.電(diàn)壓擊(jī)穿（介(jiè)電(diàn)場強(qiáng)）

由(yóu)能(néng)量密(mì)度可(kě)知
，擊穿(chuān)場(cháng)強(qiáng)相對(duì)於介電(diàn)常數對於材(cái)料能(néng)量密度(dù)的影響更為突(tū)出(chū)
，獲(huò)得高能量密度(dù)對復合(hé)材料(liào)擊穿場強(qiáng)提(tí)出了更(gēng)高的(dí)要(yào)求(qiú)
。

通(tōng)過上位機係(xì)統控製(zhì)高(gāo)壓擊(jī)穿測(cè)試(shì)模塊
，可(kě)以安(ān)全(quán)，便捷，準(zhǔn)確(què)的對測試(shì)樣(yàng)品進行(háng)工(gōng)頻下(xià)的交流，高(gāo)壓直(zhí)流(liú)擊(jī)穿試驗(yàn)
，測(cè)試出(chū)擊穿(chuān)場(cháng)強
。甚(shèn)至可(kě)以通(tōng)過測(cè)試軟(ruǎn)件(jiàn)設置(zhì)直流(liú)輸(shū)出(chū)時間
，以(yǐ)完(wán)成樣品的極化過(guò)程
。

02.高(gāo)低(dī)頻(pín)介(jiè)電頻(pín)譜(pǔ)，溫譜(pǔ)

用(yòng)於(yú)分(fēn)析寬頻，高低溫(wēn)環境(jìng)下(xià)儲(chǔ)能新(xīn)材(cái)料的阻(zǔ)抗Z，電抗X，導(dǎo)納(nà)Y，電(diàn)導(dǎo)G，電(diàn)納B，電感L，介電損耗D，品質(zhì)因數Q等(děng)物理(lǐ)量(liáng)
，同時還(huán)可以分(fēn)析被測(cè)樣品(pǐn)隨溫度，頻(pín)率，時間(jiān)，偏壓變(biàn)化的(dí)曲綫
。

03.高溫(wēn)絕緣(yuán)電阻(zǔ)

高精(jīng)度(dù)的電壓(yā)輸出與(yǔ)電流(liú)測(cè)量(liáng)
，即使(shǐ)在(zài)高低(dī)溫(wēn)環(huán)境下(xià)可能(néng)很(hěn)好(hǎo)的(dí)屏(píng)蔽(bì)背(bèi)景電(diàn)流
，保(bǎo)障(zhàng)測試品質
，適(shì)用與儲(chǔ)能新材料在(zài)不(bù)同環境(jìng)溫度下(xià)絕緣性(xìng)能的檢測
。

04.熱釋電(diàn)測試

不論(lùn)是(shì)薄(báo)膜(mó)還是(shì)塊體形式的儲能材(cái)料
，都(dū)可(kě)對其(qí)進行熱釋(shì)電性能測試(shì)
。采用電流(liú)法(fǎ)進(jìn)行測量
，材料的(dí)熱釋(shì)電(diàn)電流，熱(rè)釋電(diàn)係數(shù)，剩餘極(jí)化強(qiáng)度對(duì)溫度和(hé)時(shí)間的曲綫(xiàn)
。

05.TSDC熱刺(cì)激極化(huà)電流

熱刺激(jī)電流（TSC）是研(yán)究(jiū)熱釋電材料(liào)中(zhōng)陷(xiàn)阱(jǐng)結(jié)構(gòu)和陷(xiàn)阱(jǐng)結構所(suǒ)控製(zhì)的空(kōng)間電荷存貯及運輸(shū)特性的工(gōng)具
，同時也(yě)是(shì)研究(jiū)熱點(diǎn)材料(liào)結構(gòu)轉變和分(fēn)子運(yùn)動的重(zhòng)要手(shǒu)段
。諸如：分(fēn)子(zǐ)弛豫(yù)，相(xiāng)轉(zhuǎn)變，玻璃化(huà)溫度等(děng)等
，通(tōng)過TSDC技術(shù)也(yě)可(kě)以直(zhí)觀(guān)的(dí)研究(jiū)材(cái)料的(dí)弛(chí)豫時間(jiān)，活(huó)化能等相關(guān)介電特性(xìng)，

06.充(chōng)放電(diàn)儲(chǔ)能(néng)密(mì)度測試

用於(yú)研究介電儲能材料(liào)高電壓放(fàng)電性能
，同目前常見的方法(fǎ)是(shì)通(tōng)過電滯(zhì)回(huí)綫計(jì)算高(gāo)壓下(xià)電(diàn)介質能量密度(dù)
，測試(shì)時
，樣品的電荷(hé)釋(shì)放(fàng)至高(gāo)壓源(yuán)上(shàng)
，而(ér)非(fēi)釋放(fàng)至負載(zǎi)上
，也(yě)就是(shì)說(shuō)
，通(tōng)過電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測得(dé)的能(néng)量(liáng)密(mì)度會大與樣品(pǐn)實(shí)際釋放的能(néng)量(liáng)密(mì)度(dù)
，不(bù)能正確評估儲能材(cái)料的正(zhèng)常放電(diàn)性能(néng)
。華(huá)測充(chōng)放電(diàn)測(cè)試具(jù)有(yǒu)專(zhuān)門(mén)設計的電(diàn)容放電電路(lù)來(lái)測量
，首(shǒu)先將測(cè)試(shì)材料充(chōng)電(diàn)到給定電(diàn)壓
，之後通過閉合高速MOS高壓開關
，將存(cún)儲在(zài)儲(chǔ)能(néng)材料中的能(néng)量釋放(fàng)到電(diàn)阻器(qì)負(fù)載(zǎi)中
，更(gēng)符合(hé)電(diàn)介質充放(fàng)電原(yuán)理(lǐ)
。

07.電聲(shēng)脈衝(chōng)法(fǎ)空(kōng)間(jiān)電荷測(cè)量

空間電荷(hé)是指在材(cái)料(liào)特(tè)定區域內電荷分(fēn)布不均匀(yún)的現象
。該現象(xiàng)是由(yóu)於載流子(zǐ)的(dí)擴散和(hé)漂(piāo)移運動所(suǒ)導(dǎo)致(zhì)的
，在(zài)材料的局(jú)部區(qū)域產生了電(diàn)荷(hé)累(léi)積
，從而(ér)使材料改(gǎi)變了原本的電(diàn)中性(xìng)狀態
。空間(jiān)電荷的(dí)存(cún)在(zài)對材(cái)料(liào)的(dí)電(diàn)學性(xìng)能有(yǒu)著(zhuó)重要(yào)的影(yǐng)響(xiǎng)
，可(kě)能導致(zhì)電場(cháng)畸(jī)變(biàn)，絕緣(yuán)性(xìng)能下(xià)降等問題
。

電(diàn)聲脈衝法（PEA）空間電荷測(cè)試可(kě)以(yǐ)便捷準(zhǔn)確地測量固(gù)體(tǐ)儲能材(cái)料內部(bù)空間電(diàn)荷(hé)分(fēn)布(bù),電聲脈衝(chōng)法可以(yǐ)測量較厚的(dí)介質
，可以(yǐ)在帶電狀態下(xià)直(zhí)接(jiē)測(cè)量絕(jué)緣(yuán)測試樣品中(zhōng)的(dí)空間電荷(hé)分(fēn)布
，最(zuì)小(xiǎo)可測(cè)空間電(diàn)荷(hé)密度(dù)為(wéi)4μC·cm^-3,最小(xiǎo)可測試樣厚度(dù)為(wéi)0.2mm
。

08.靜電電(diàn)壓(yā)

靜電(diàn)是一種處(chǔ)於(yú)靜止狀態(tài)的電荷
，雖(suī)然(rán)其總(zǒng)電(diàn)荷量(liáng)不(bù)大
，但其瞬間釋(shì)放所(suǒ)產(chǎn)生(shēng)的高電(diàn)壓與大(dà)電(diàn)流(liú)非常(cháng)容易(yì)對周邊電(diàn)路(lù)，設備(bèi)乃至人(rén)員造(zào)成損害
。對(duì)儲能材料的靜電(diàn)性(xìng)能（包(bāo)括(kuò)麵電(diàn)荷密(mì)度與(yǔ)電阻）進行(háng)測試
，可以對後期防靜電(diàn)工程(chéng)設(shè)計(jì)和(hé)改善(shàn)儲能(néng)係(xì)統的(dí)抗(kàng)靜(jìng)電性能設(shè)計提(tí)供數據(jù)支持(chí)
，對周圍電路的靜(jìng)電敏感(gǎn)電子(zǐ)元器件選型提供(gōng)參考依(yī)據(jù)
。

配置(zhì)模(mó)塊(kuài)

儲(chǔ)能新材料電(diàn)學綜合測(cè)試係(xì)統(tǒng)可進行電壓(yā)擊穿(chuān)（介電(diàn)場(cháng)強(qiáng)），高低頻(pín)介(jiè)電(diàn)頻譜，溫譜，高(gāo)溫絕緣電阻，熱(rè)釋(shì)電(diàn)測(cè)試，TSDC熱刺激(jī)極化電(diàn)流(liú)，充放電(diàn)儲能(néng)密度(dù)測試，電(diàn)聲脈(mài)衝(chōng)法(fǎ)空間電(diàn)荷(hé)測(cè)量(liáng)，靜(jìng)電電壓等
。

儲(chǔ)能(néng)新材料電學綜合測(cè)試(shì)係統/熱(rè)釋電(diàn)測試(shì)

儲能新材(cái)料電(diàn)學(xué)綜合測試係(xì)統/熱(rè)釋(shì)電(diàn)測試