儲能新材料(liào)電(diàn)學綜合(hé)測試係(xì)統

隨(suí)著能源(yuán)需求的(dí)不(bù)斷增加以及對環(huán)境(jìng)友(yǒu)好(hǎo)能源的需(xū)求
，新(xīn)型能源(yuán)儲(chǔ)能材料的研究(jiū)成為(wéi)了(liǎo)當(dāng)前(qián)的(dí)熱門(mén)領域之(zhī)一(yī)
。在(zài)開(kāi)發新一代(dài)的儲(chǔ)能新材(cái)料時(shí)
，對其(qí)性(xìng)能的測試與分(fēn)析是至關(guān)重(zhòng)要(yào)的(dí)一環
，儲能(néng)新材料(liào)電(diàn)學綜合測(cè)試(shì)係統可以通過各(gè)功(gōng)能(néng)測(cè)試(shì)模塊(kuài)
，係統的幫(bāng)組科研(yán)人員從能(néng)量密度(dù)，功(gōng)率密度，循環(huán)壽命，安(ān)全性(xìng)四(sì)個(gè)方麵(miàn)對新材(cái)料(liào)性能(néng)進行(háng)分(fēn)析(xī)檢測
，評估(gū)材(cái)料的性能(néng)指標(biāo)
，判(pàn)斷(duàn)是否符(fú)合應用(yòng)要(yào)求
。

係(xì)統(tǒng)配置

測試模塊(kuài)

01.電壓(yā)擊穿（介(jiè)電(diàn)場強(qiáng)）

由(yóu)能量(liáng)密(mì)度可知
，擊(jī)穿(chuān)場(cháng)強(qiáng)相對於(yú)介電常數對(duì)於(yú)材(cái)料能(néng)量(liáng)密度的影響(xiǎng)更為突(tū)出
，獲得高能(néng)量(liáng)密度對(duì)復合(hé)材(cái)料(liào)擊(jī)穿場強提出了(liǎo)更高的要求(qiú)
。

通過上(shàng)位(wèi)機(jī)係(xì)統控(kòng)製(zhì)高壓擊穿測(cè)試模塊
，可以安(ān)全，便(biàn)捷，準(zhǔn)確的對測(cè)試樣品進(jìn)行(háng)工(gōng)頻(pín)下(xià)的交流(liú)，高(gāo)壓(yā)直流(liú)擊(jī)穿(chuān)試(shì)驗(yàn)
，測試出擊穿場(cháng)強(qiáng)
。甚至(zhì)可以通過測試(shì)軟件(jiàn)設置直流輸(shū)出時間(jiān)
，以(yǐ)完(wán)成(chéng)樣品的(dí)極化(huà)過(guò)程
。

02.高(gāo)低頻介(jiè)電頻(pín)譜，溫譜(pǔ)

用於(yú)分析(xī)寬(kuān)頻，高低(dī)溫(wēn)環(huán)境下儲能新(xīn)材(cái)料的阻(zǔ)抗(kàng)Z，電抗X，導(dǎo)納Y，電(diàn)導G，電納B，電感L，介(jiè)電損(sǔn)耗(hào)D，品質因(yīn)數(shù)Q等物(wù)理量
，同時還可以分(fēn)析(xī)被(bèi)測樣品(pǐn)隨溫度，頻(pín)率，時間(jiān)，偏壓變(biàn)化的曲綫
。

03.高(gāo)溫(wēn)絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)

高精度的電壓輸(shū)出與(yǔ)電(diàn)流測(cè)量
，即使在高低(dī)溫(wēn)環(huán)境(jìng)下可能很(hěn)好的(dí)屏蔽(bì)背景電流(liú)
，保障測試(shì)品(pǐn)質(zhì)
，適用(yòng)與(yǔ)儲能新材料(liào)在不同(tóng)環境(jìng)溫度下絕緣(yuán)性(xìng)能的(dí)檢測
。

04.熱(rè)釋(shì)電測試(shì)

不論(lùn)是(shì)薄膜還是(shì)塊體形式(shì)的儲能(néng)材(cái)料
，都可對(duì)其進行熱釋(shì)電(diàn)性(xìng)能測(cè)試(shì)
。采用電(diàn)流(liú)法進行測量
，材(cái)料(liào)的熱(rè)釋(shì)電電流，熱(rè)釋電係(xì)數(shù)，剩餘(yú)極化強(qiáng)度對溫(wēn)度和(hé)時(shí)間(jiān)的曲(qū)綫
。

05.TSDC熱刺(cì)激極化電(diàn)流

熱(rè)刺激電(diàn)流(liú)（TSC）是(shì)研(yán)究(jiū)熱釋電材(cái)料中(zhōng)陷阱結構和陷(xiàn)阱結構所控製(zhì)的(dí)空(kōng)間電荷(hé)存貯及運輸特性的工具(jù)
，同(tóng)時也是研(yán)究熱(rè)點材料結構轉(zhuǎn)變和分子運動的重要手(shǒu)段
。諸(zhū)如：分子(zǐ)弛(chí)豫，相轉變，玻(bō)璃(lí)化溫度(dù)等(děng)等(děng)
，通過(guò)TSDC技(jì)術也可(kě)以直(zhí)觀的研究材料的弛(chí)豫時(shí)間(jiān)，活化(huà)能等相(xiāng)關介電特(tè)性，

06.充放(fàng)電(diàn)儲(chǔ)能密(mì)度測試

用(yòng)於研(yán)究(jiū)介電儲(chǔ)能材料高(gāo)電(diàn)壓放電性能
，同目(mù)前常(cháng)見(jiàn)的(dí)方法是(shì)通(tōng)過(guò)電滯回綫(xiàn)計(jì)算高(gāo)壓下電(diàn)介質能(néng)量密度
，測試(shì)時
，樣品(pǐn)的(dí)電荷(hé)釋放(fàng)至高壓源上
，而非釋(shì)放至(zhì)負載上(shàng)
，也(yě)就(jiù)是(shì)說
，通(tōng)過電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測(cè)得的能量(liáng)密度會大與(yǔ)樣(yàng)品實際(jì)釋(shì)放的能量密(mì)度(dù)
，不能正確(què)評估(gū)儲(chǔ)能材料(liào)的(dí)正常(cháng)放電性(xìng)能
。華測充(chōng)放(fàng)電測試(shì)具有專門(mén)設計的電(diàn)容(róng)放(fàng)電電(diàn)路來測(cè)量
，首(shǒu)先將(jiāng)測(cè)試(shì)材料充電到給(gěi)定(dìng)電壓
，之後通過(guò)閉(bì)合(hé)高(gāo)速(sù)MOS高(gāo)壓(yā)開關
，將存儲在儲能(néng)材(cái)料(liào)中的(dí)能量釋放到電阻器負載中(zhōng)
，更(gēng)符(fú)合(hé)電(diàn)介質充(chōng)放電(diàn)原(yuán)理
。

07.電聲脈衝法(fǎ)空間(jiān)電荷(hé)測(cè)量

空間電荷(hé)是指在材(cái)料特(tè)定區域(yù)內電荷分布(bù)不(bù)均(jūn)匀的現象(xiàng)
。該現象是由於載(zǎi)流子的擴散(sàn)和(hé)漂移(yí)運動所導(dǎo)致(zhì)的(dí)
，在(zài)材(cái)料的局(jú)部區域產(chǎn)生了(liǎo)電(diàn)荷累(léi)積
，從而使材料(liào)改變了(liǎo)原本的(dí)電中性狀態(tài)
。空間電荷(hé)的(dí)存在對材料的電學性能有著重要(yào)的(dí)影響
，可(kě)能(néng)導(dǎo)致電場畸變(biàn)，絕(jué)緣(yuán)性(xìng)能下(xià)降等(děng)問題(tí)
。

電(diàn)聲(shēng)脈(mài)衝法（PEA）空(kōng)間電荷測試可以(yǐ)便捷準確(què)地測(cè)量(liáng)固體(tǐ)儲能(néng)材料內部(bù)空間電荷分布,電聲脈衝法(fǎ)可以測量(liáng)較(jiào)厚的(dí)介質(zhì)
，可以在(zài)帶電(diàn)狀(zhuàng)態(tài)下(xià)直接測量絕緣測(cè)試樣(yàng)品中的空(kōng)間(jiān)電荷(hé)分布
，最(zuì)小可(kě)測(cè)空(kōng)間電(diàn)荷密(mì)度為(wéi)4μC·cm^-3,最(zuì)小可測(cè)試(shì)樣厚度為0.2mm
。

08.靜電電(diàn)壓(yā)

靜電是(shì)一種處於靜止狀態的電(diàn)荷
，雖然(rán)其總電(diàn)荷量不(bù)大(dà)
，但其瞬間釋放(fàng)所產生(shēng)的(dí)高電壓(yā)與大電流非常容(róng)易對(duì)周邊電(diàn)路，設備乃至人員造(zào)成損(sǔn)害
。對(duì)儲(chǔ)能材料(liào)的(dí)靜(jìng)電性(xìng)能（包(bāo)括麵(miàn)電荷密(mì)度與電(diàn)阻）進行(háng)測(cè)試(shì)
，可(kě)以(yǐ)對(duì)後期防靜(jìng)電(diàn)工(gōng)程設(shè)計和(hé)改(gǎi)善儲能(néng)係統的抗靜(jìng)電性(xìng)能(néng)設(shè)計提(tí)供(gōng)數據(jù)支(zhī)持
，對(duì)周(zhōu)圍電路(lù)的靜(jìng)電敏感電子元器(qì)件(jiàn)選(xuǎn)型(xíng)提供(gōng)參(cān)考(kǎo)依據
。

配置模(mó)塊

儲(chǔ)能(néng)新材料(liào)電學(xué)綜(zōng)合測試係統(tǒng)可進(jìn)行(háng)電壓擊(jī)穿（介電(diàn)場(cháng)強(qiáng)），高低(dī)頻介電頻(pín)譜(pǔ)，溫譜，高溫絕(jué)緣電阻(zǔ)，熱(rè)釋(shì)電(diàn)測(cè)試(shì)，TSDC熱刺激(jī)極(jí)化電(diàn)流(liú)，充放電儲能密度測(cè)試(shì)，電聲(shēng)脈(mài)衝(chōng)法(fǎ)空(kōng)間電荷測(cè)量，靜電電壓等
。

儲能新(xīn)材料電(diàn)學(xué)綜(zōng)合測試係統/高(gāo)溫絕(jué)緣(yuán)電阻(zǔ)

儲(chǔ)能新(xīn)材料電學(xué)綜合(hé)測(cè)試係統/高溫絕緣電阻