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簡(jiǎn)要描述(shù):儲能新材料電學(xué)綜合測試(shì)係(xì)統可(kě)進行電壓(yā)擊穿(chuān)(介(jiè)電(diàn)場強(qiáng)),高低頻(pín)介(jiè)電頻(pín)譜,溫(wēn)譜,高溫(wēn)絕(jué)緣電阻,熱釋(shì)電測(cè)試,TSDC熱(rè)刺激(jī)極化電流(liú),充放(fàng)電儲(chǔ)能密度(dù)測(cè)試(shì),電(diàn)聲(shēng)脈衝法空間(jiān)電荷測量(liáng),靜電(diàn)電(diàn)壓等。儲能(néng)新材(cái)料電學(xué)測試/TSDC熱刺激極(jí)化(huà)電(diàn)流(liú)
產品分類(lèi)
Product Category詳(xiáng)細(xì)介(jiè)紹
| 品牌 | 華(huá)測儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域(yù) | 環保(bǎo),石(shí)油,製藥/生(shēng)物製藥(yào),電氣(qì),綜(zōng)合 |
隨著能源需求的(dí)不斷增(zēng)加以及對環境友(yǒu)好能源(yuán)的需(xū)求(qiú),新型能源儲能材(cái)料(liào)的研(yán)究成為(wéi)了當前(qián)的熱門(mén)領(lǐng)域之(zhī)一(yī)。在開(kāi)發新(xīn)一代的儲能新材(cái)料時,對(duì)其性(xìng)能的測試與(yǔ)分(fēn)析(xī)是至關重要(yào)的(dí)一(yī)環,儲能(néng)新材(cái)料(liào)電(diàn)學(xué)綜(zōng)合(hé)測(cè)試係統可以通過(guò)各功能(néng)測試模塊(kuài),係統(tǒng)的(dí)幫組科研人員從能量(liáng)密度,功率密度(dù),循環壽命,安(ān)全性四(sì)個方(fāng)麵(miàn)對新材料(liào)性能(néng)進(jìn)行(háng)分析檢測(cè),評(píng)估材(cái)料的(dí)性能(néng)指(zhǐ)標(biāo),判斷是(shì)否(fǒu)符合(hé)應(yīng)用要求(qiú)。

01.電壓(yā)擊穿(介電場(cháng)強(qiáng))
由(yóu)能(néng)量密(mì)度(dù)可知(zhī),擊(jī)穿(chuān)場強相(xiāng)對(duì)於介電(diàn)常數對於材(cái)料能量密度的影(yǐng)響更為突出(chū),獲(huò)得高能量(liáng)密(mì)度(dù)對復合材料擊(jī)穿場(cháng)強提出了(liǎo)更高的要求。
通過上位機係統(tǒng)控製高壓(yā)擊穿(chuān)測試模塊,可以(yǐ)安全(quán),便捷,準(zhǔn)確的(dí)對測試(shì)樣(yàng)品(pǐn)進(jìn)行工(gōng)頻(pín)下(xià)的交(jiāo)流,高(gāo)壓(yā)直流擊(jī)穿試(shì)驗,測(cè)試出擊(jī)穿(chuān)場強。甚至可(kě)以(yǐ)通過(guò)測試軟(ruǎn)件設(shè)置直(zhí)流(liú)輸出時間,以完(wán)成樣(yàng)品的極化(huà)過(guò)程。
02.高低頻介電(diàn)頻(pín)譜(pǔ),溫譜(pǔ)
用(yòng)於分(fēn)析寬頻,高低(dī)溫(wēn)環(huán)境下(xià)儲(chǔ)能新材料(liào)的(dí)阻抗Z,電抗X,導納(nà)Y,電導(dǎo)G,電納(nà)B,電感(gǎn)L,介電損耗D,品質(zhì)因(yīn)數Q等(děng)物(wù)理量(liáng),同時還可(kě)以分析被(bèi)測樣品隨溫(wēn)度,頻(pín)率(shuài),時(shí)間,偏壓變化的(dí)曲綫。
03.高(gāo)溫(wēn)絕(jué)緣電阻(zǔ)
高精(jīng)度(dù)的電壓輸出與電流(liú)測量(liáng),即(jí)使(shǐ)在高(gāo)低溫環(huán)境下可(kě)能很(hěn)好(hǎo)的(dí)屏蔽背景(jǐng)電流(liú),保障測(cè)試(shì)品(pǐn)質,適用與(yǔ)儲能(néng)新(xīn)材(cái)料(liào)在(zài)不同環境溫度(dù)下(xià)絕緣性(xìng)能的(dí)檢測(cè)。
04.熱釋電測(cè)試
不(bù)論是(shì)薄(báo)膜還(huán)是塊體(tǐ)形(xíng)式的儲能材料(liào),都可對(duì)其進行熱釋電(diàn)性(xìng)能測試。采(cǎi)用電(diàn)流法(fǎ)進行(háng)測量(liáng),材料的(dí)熱釋(shì)電電流(liú),熱(rè)釋電係數(shù),剩餘(yú)極化(huà)強度對(duì)溫度和時間的(dí)曲(qū)綫(xiàn)。
05.TSDC熱(rè)刺激極化(huà)電(diàn)流
熱刺激(jī)電流(TSC)是研究熱釋(shì)電(diàn)材料中(zhōng)陷阱(jǐng)結構和(hé)陷阱結(jié)構所(suǒ)控(kòng)製(zhì)的空間電荷存貯及(jí)運(yùn)輸(shū)特性的(dí)工(gōng)具,同時(shí)也是研(yán)究(jiū)熱點材(cái)料結(jié)構轉變和(hé)分子(zǐ)運動(dòng)的重要(yào)手(shǒu)段。諸如:分(fēn)子(zǐ)弛豫,相(xiāng)轉變(biàn),玻璃(lí)化(huà)溫(wēn)度等等,通(tōng)過TSDC技(jì)術(shù)也可以(yǐ)直觀(guān)的(dí)研(yán)究材(cái)料的(dí)弛(chí)豫時間,活化能等相關介電特性,
06.充放電(diàn)儲能密(mì)度(dù)測試(shì)
用於研(yán)究(jiū)介電儲能材(cái)料(liào)高電壓(yā)放(fàng)電(diàn)性能(néng),同目(mù)前常(cháng)見(jiàn)的(dí)方法是通過電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫計算高(gāo)壓(yā)下(xià)電(diàn)介質(zhì)能量密(mì)度(dù),測(cè)試時,樣(yàng)品的(dí)電荷釋放(fàng)至高(gāo)壓(yā)源上(shàng),而(ér)非釋放(fàng)至(zhì)負(fù)載上,也就是說,通過電滯回(huí)綫測(cè)得(dé)的能量密度會大(dà)與樣(yàng)品實際釋放(fàng)的(dí)能量(liáng)密度,不(bù)能正(zhèng)確(què)評估(gū)儲能材料的正常(cháng)放電性(xìng)能(néng)。華(huá)測充放(fàng)電測試具有(yǒu)專(zhuān)門設計(jì)的電(diàn)容放電電(diàn)路來測(cè)量,首先將測試材料(liào)充電到給定電壓(yā),之後(hòu)通(tōng)過閉合(hé)高(gāo)速MOS高壓(yā)開關(guān),將存(cún)儲在儲能材(cái)料(liào)中的能(néng)量(liáng)釋(shì)放(fàng)到電阻(zǔ)器(qì)負載(zǎi)中(zhōng),更(gēng)符合電(diàn)介質(zhì)充放電(diàn)原理(lǐ)。
07.電聲脈衝(chōng)法空(kōng)間(jiān)電荷測(cè)量
空(kōng)間電荷是(shì)指(zhǐ)在材料特定區(qū)域內電荷(hé)分布(bù)不均匀的現象。該現(xiàn)象是由(yóu)於(yú)載流子(zǐ)的擴散和漂移運動所導致的(dí),在材(cái)料的局部區(qū)域(yù)產(chǎn)生了電荷累積,從而使材料改(gǎi)變了原(yuán)本的(dí)電中(zhōng)性(xìng)狀(zhuàng)態(tài)。空(kōng)間電荷的(dí)存(cún)在對材料的電學性能(néng)有著重(zhòng)要(yào)的影(yǐng)響,可能(néng)導致電(diàn)場畸(jī)變(biàn),絕緣(yuán)性能(néng)下(xià)降等問題。
電聲(shēng)脈衝(chōng)法(PEA)空(kōng)間電(diàn)荷測試(shì)可(kě)以(yǐ)便捷(jié)準(zhǔn)確(què)地測量固(gù)體儲(chǔ)能材(cái)料內部空間電(diàn)荷(hé)分布(bù),電(diàn)聲(shēng)脈(mài)衝(chōng)法(fǎ)可以(yǐ)測量(liáng)較厚的介(jiè)質(zhì),可(kě)以在帶(dài)電(diàn)狀(zhuàng)態下直接測量絕緣測(cè)試(shì)樣品(pǐn)中的(dí)空間(jiān)電荷分(fēn)布(bù),最小可(kě)測空(kōng)間電荷密(mì)度為(wéi)4μC·cm-3,最(zuì)小可測試樣厚(hòu)度為(wéi)0.2mm。
08.靜電(diàn)電壓
靜電是(shì)一(yī)種處於靜止狀態(tài)的電(diàn)荷,雖(suī)然(rán)其總電荷量不(bù)大,但(dàn)其(qí)瞬間(jiān)釋放(fàng)所產生(shēng)的高(gāo)電壓(yā)與大電流非常容易對周邊電路(lù),設備乃至人員造(zào)成損害。對(duì)儲能(néng)材(cái)料(liào)的靜(jìng)電性(xìng)能(包(bāo)括麵電荷(hé)密度(dù)與電(diàn)阻)進行(háng)測(cè)試(shì),可(kě)以(yǐ)對(duì)後期防(fáng)靜(jìng)電工程設計和改(gǎi)善儲(chǔ)能係統的(dí)抗靜(jìng)電(diàn)性(xìng)能(néng)設(shè)計提供數據支持(chí),對周(zhōu)圍電路的靜(jìng)電敏感電(diàn)子元器(qì)件選型提供參考依(yī)據。
功能(néng) | 測試(shì)儀表 | 測(cè)試環境配件(jiàn)/夾(jiā)具(jù) | ||
電壓擊(jī)穿(介電場(cháng)強) | 高(gāo)壓電(diàn)源 | 變溫油(yóu)浴(yù)槽 溫度(dù)範(fàn)圍:RT~250℃(視(shì)絕緣介(jiè)質性(xìng)能) | ||
高(gāo)低頻(pín)介電溫(wēn)譜(pǔ) | 阻抗分析儀(yí) | 高(gāo)低(dī)溫(wēn)冷(lěng)熱台 溫度範(fàn)圍:-185℃~600℃ | 高溫近紅(hóng)外爐 溫(wēn)度(dù)範圍:RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度範圍:-185℃~450℃ |
高(gāo)溫(wēn)絕緣電阻測試 | 高阻計(jì)/源(yuán)表(biǎo) | 高低(dī)溫冷熱(rè)台(tái) 溫度(dù)範圍(wéi):-185℃~600℃ | 高溫(wēn)近紅外(wài)爐 溫度範圍(wéi):RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度(dù)範圍(wéi):-185℃~450℃ |
熱釋電測試 | 高阻計(jì)/靜電計(jì) | 高(gāo)低溫冷(lěng)熱台 溫(wēn)度範圍:-185℃~600℃ | 高低(dī)溫環境(jìng)箱 溫度(dù)範圍(wéi):-185℃~450℃ | |
TSDC熱刺(cì)激電流(liú)測試 | 高(gāo)阻(zǔ)計(jì)/靜(jìng)電計 | 高低溫冷熱台 溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍:-185℃~600℃ | 高(gāo)低溫環境(jìng)箱(xiāng) 溫度範圍:-185℃~450℃ | |
充(chōng)放電(diàn)儲(chǔ)能密度測試 | 充放電(diàn)測試(shì)模塊 | 變溫(wēn)測試(shì)盒 溫(wēn)度範圍(wéi):RT~250℃(絕(jué)緣(yuán)介質性能) | ||
靜電電壓(yā) | 高阻計(jì)/靜電(diàn)計 | 靜電變(biàn)溫測試罐 溫度(dù)範圍(wéi): | ||
空(kōng)間電荷測試 | 示波器(qì)+高壓電(diàn)源+功(gōng)率放(fàng)大(dà)器 | 電聲(shēng)脈衝(chōng)法空(kōng)間電荷測試夾具 | ||
儲(chǔ)能新(xīn)材(cái)料(liào)電學(xué)綜(zōng)合測試(shì)係統可進行(háng)電壓擊穿(介電場強(qiáng)),高低頻介(jiè)電頻譜,溫譜,高(gāo)溫(wēn)絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻,熱釋(shì)電測試(shì),TSDC熱(rè)刺(cì)激極化電流(liú),充放(fàng)電儲能密度(dù)測試,電聲脈衝(chōng)法(fǎ)空間電荷測(cè)量,靜電電(diàn)壓等。







儲(chǔ)能新(xīn)材(cái)料(liào)電(diàn)學測(cè)試(shì)/TSDC熱刺(cì)激極化(huà)電流
儲能(néng)新材料電學(xué)測(cè)試/TSDC熱(rè)刺激(jī)極化(huà)電流(liú)
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