
當(dāng)前(qián)位置(zhì):首頁(yè) > 產品中(zhōng)心 > 功能材(cái)料(liào)測試(shì)儀(yí)器(qì) > TSDC熱刺激電(diàn)流(liú)測試儀 > Huace-TSDC熱刺激(jī)去極(jí)化(huà)電(diàn)流(liú)測試係(xì)統





簡要描(miáo)述:華測儀器(qì)Huace-TSDC熱刺激去(qù)極化電流測(cè)試(shì)係統是一(yī)種研究電(diàn)荷存(cún)儲(chǔ)特(tè)性的(dí)試驗(yàn)技術(shù),用於確定初(chū)始(shǐ)電荷(hé)和捕獲(huò)電荷的(dí)活化能以(yǐ)及(jí)弛豫。
產品(pǐn)分類
Product Category相(xiāng)關文章(zhāng)
Related Articles詳細(xì)介紹
| 品(pǐn)牌 | 華(huá)測儀器 | 產地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能(néng)源,航空(kōng)航天(tiān),汽車(chē)及零(líng)部件(jiàn),電氣,綜合 |
Huace-TSDC熱刺(cì)激去(qù)極(jí)化電流測試係(xì)統
價格僅供參考(kǎo),如需獲取(qǔ)更(gēng)詳盡的產品技術(shù)規(guī)格書(shū),定(dìng)製方(fāng)案(àn)或應用(yòng)案例(lì),歡(huān)迎致(zhì)電(diàn)我(wǒ)司(sī)技術(shù)工程師(shī)
Huace-TSDC熱(rè)刺激(jī)去(qù)極化(huà)電(diàn)流(liú)測試係(xì)統(tǒng)由華測(cè)儀器(qì)生產(chǎn),是用(yòng)於預測(cè)EMC的HTRB性(xìng)能(néng),TSDC方法(fǎ)包(bāo)括(kuò)極化(huà)過(guò)程,在該過程中(zhōng),電介質(zhì)樣品暴露在高(gāo)電場強(qiáng)度(dù)和高(gāo)溫環境下(xià),在這(zhè)種(zhǒng)情(qíng)況下(xià),電荷被分離並在介(jiè)電材(cái)料電(diàn)子(zǐ)元(yuán)件(jiàn)中移動(dòng)。
產(chǎn)品優勢(shì)
除(chú)去(qù)電(diàn)網(wǎng)諧(xié)波(bō)對(duì)采集精(jīng)度(dù)的影(yǐng)響
抗(kàng)幹擾模塊(kuài)以(yǐ)及(jí)測(cè)試(shì)分析技術,實(shí)現(xiàn)了高達1fA(10-15A)的測(cè)量(liáng)分辨(biàn)率(shuài),從而滿(mǎn)足(zú)了很多(duō)半導體(tǐ),功(gōng)能材(cái)料(liào)等器(qì)件的測試(shì)需求
除去(qù)不規則輸(shū)入的自動平均值功(gōng)能(néng)
自動平(píng)均值是檢(jiǎn)測(cè)電流的(dí)變化,並自動將(jiāng)其進行平均(jūn)化(huà)的功能(néng),在查(chá)看(kàn)測量結果的同(tóng)時不需要改(gǎi)變設(shè)置(zhì),通(tōng)過(guò)自(zì)動(dòng)排除充電電流的(dí)過渡響(xiǎng)應(yīng)時(shí)或接(jiē)觸(chù)不穩定(dìng)導致偏(piān)差(chà)較大,電(diàn)流輸入端口(kǒu)采用大口(kǒu)徑三(sān)軸連接器(qì)
產品(pǐn)參數(shù)
溫(wēn)度範(fàn)圍:-100~300°C
控溫(wēn)精(jīng)度(dù):±0.25°C
升溫斜(xié)率:10℃/min(可(kě)設(shè)定)
測試頻率(shuài):電(diàn)壓(yā)上(shàng)限:±10kV
加熱方式:空(kōng)氣加(jiā)熱
降溫(wēn)方(fāng)式:液氮
樣(yàng)品尺(chǐ)寸(cùn):φ≤50mm,d≤3mm
電(diàn)極材料(liào):黃(huáng)銅
夾(jiā)具輔助材料(liào):99氧化鋁陶(táo)瓷/peek
低溫製冷(lěng):液氮(dàn)
測(cè)試(shì)功(gōng)能(néng):TSDC
數據傳輸:RS-232

產(chǎn)品(pǐn)咨(zī)詢

微信掃一(yī)掃(sǎo)