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多(duō)通(tōng)道介電絕(jué)緣電阻測(cè)試模塊(kuài)

簡(jiǎn)要描述(shù)：華測(cè)儀器HCMP多(duō)通道介電(diàn)絕緣電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)模(mó)塊此測試(shì)模塊精(jīng)度高(gāo)，穩(wěn)定(dìng)性(xìng)強，實(shí)現智能化與(yǔ)自(zì)動化，可靠(kào)耐用(yòng)，模塊(kuài)化設(shè)計，可用(yòng)於(yú)多(duō)通(tōng)道(dào)介電(diàn)與(yǔ)電阻(zǔ)測(cè)量，使其(qí)在材(cái)料科學，新能源(yuán)，半導(dǎo)體領域(yù)中被(bèi)普(pǔ)遍(biàn)應(yīng)用。

產(chǎn)品(pǐn)型號：HCMP
廠商(shāng)性質：生(shēng)產廠(chǎng)家
更(gēng)新時(shí)間(jiān)：2026-03-24
訪(fǎng) 問量：401

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品牌(pái)	華(huá)測(cè)儀(yí)器(qì)	產(chǎn)地類(lèi)別(bié)	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	能(néng)源(yuán),航空(kōng)航天,汽(qì)車(chē)及(jí)零部(bù)件(jiàn),電氣,綜(zōng)合(hé)

華測(cè)儀器HCMP多通(tōng)道介(jiè)電絕緣電阻測(cè)試模塊

價格(gé)僅供(gōng)參考，如需(xū)獲(huò)取更詳盡的產品(pǐn)技術規格(gé)書(shū)，定製方(fāng)案(àn)或應用案(àn)例(lì)，歡迎致(zhì)電我司技術(shù)工程(chéng)師

HCMP多通道介電絕(jué)緣電(diàn)阻測試(shì)模塊由(yóu)華(huá)測儀器(qì)生(shēng)產，是一種集成(chéng)化測試係統(tǒng)，主要用於評(píng)估材(cái)料的介電(diàn)性能與(yǔ)電阻特(tè)性，可以搭載阻(zǔ)抗(kàng)分析儀，高(gāo)阻計(jì)等設備使(shǐ)用；可應用於半導(dǎo)體(tǐ)與電(diàn)子器(qì)件(jiàn)研發，新能(néng)源與電(diàn)力設(shè)備(bèi)，材料(liào)科(kē)學研究，工業(yè)質量(liáng)控製(zhì)。

軟(ruǎn)件功(gōng)能

LCR 多路(lù)測(cè)試軟件(jiàn)

1.掃描(miáo)，比較(jiào)器(qì)

針(zhēn)對全(quán)部通道設置測(cè)試條件(量程，頻(pín)率(shuài)，比(bǐ)較器(qì)等(děng))

可(kě)選定(dìng)某(mǒu)個通道的 ON 與(yǔ) OFF

可循(xún)環(huán)進行(háng)掃(sǎo)描(miáo)測試

同(tóng)時可在(zài)本(běn)地(dì)保(bǎo)存測試條件

2.OPEN&SHORT 補償(cháng)

可(kě)對應(yīng)各通(tōng)道(dào)的開短(duǎn)路補償

如若利用(yòng) LCR 的設(shè)置切(qiē)換功能則需要較長的(dí)切(qiē)換時(shí)間(jiān)，在(zài)軟(ruǎn)件(jiàn)內進行(háng)開短路(lù)補償計(jì)算，可(kě)維持高速(sù)的掃描時(shí)間

3.數據(jù)保存

掃描的數據(jù)可(kě)根據通道進行保存

電(diàn)氣(qì)參數(shù)

通道(dào)數(shù)：10 通(tōng)道（可定(dìng)製）

回路電(diàn)阻：0.5 Ω( 輸(shū)入 - 輸出(chū)端子(zǐ)，參考值(zhí))

靜(jìng)電電容：0.2 pF( 輸入端子 -OFF 通(tōng)道間，有 Guard，參(cān)考(kǎo)值(zhí))

接(jiē)點(diǎn)規格：輸(shū)入(rù)電壓(yā) 1000V

允許電流(liú)容(róng)量(liáng)：200 mA (AC peak/DC)

絕(jué)緣電阻：100 TΩ以上(通道(dào)-外殼(ké)之間/通(tōng)道屏(píng)障層-外殼之間(jiān)(LCUR除(chú)外(wài))

多通道介(jiè)電絕(jué)緣電阻測試模塊(kuài)

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