華(huá)測(cè)儀(yí)器Huace-450T電學(xué)測(cè)試(shì)高(gāo)低溫冷熱(rè)台

價(jià)格僅供參考(kǎo)
，如(rú)需(xū)獲取更(gēng)詳(xiáng)盡的(dí)產品技術規格書
，定製(zhì)方案或應用案例
，歡(huān)迎致(zhì)電我(wǒ)司(sī)技(jì)術(shù)工程師

Huace-450T電學(xué)測(cè)試高低(dī)溫(wēn)冷熱台由(yóu)華(huá)測(cè)儀器(qì)生(shēng)產(chǎn)
，可(kě)配合(hé)阻抗分(fēn)析儀
，高阻計(jì)
，電(diàn)化(huà)學工作站
，數(shù)字(zì)原表設備(bèi)進行(háng)功能(néng)材料(liào)電(diàn)學(xué)的相(xiāng)關測試(shì)
，采用(yòng)直(zhí)接聯(lián)接(jiē)測(cè)試儀表以(yǐ)減少測(cè)試(shì)導(dǎo)綫的影響(xiǎng)
，同時(shí)電(diàn)極加(jiā)熱采用直流(liú)電(diàn)極(jí)加熱(rè)方式
，減少(shǎo)電網諧波對測量(liáng)儀(yí)表(biǎo)的幹擾。同(tóng)時(shí)測試功(gōng)能(néng)上也(yě)增(zēng)加了(liǎo)電(diàn)阻測試(shì)
，TSDC等(děng)測量功能。它能(néng)夠在不同測(cè)量條件和(hé)測量模(mó)式(shì)下進行連續(xù)和(hé)高(gāo)速的(dí)測量
，解決(jué)了(liǎo)高(gāo)低(dī)溫環(huán)境(jìng)下的電學測(cè)量的(dí)準確(què)度。

產品(pǐn)優勢(shì)

1
，可(kě)搭配顯微鏡/光(guāng)譜儀使用(yòng)。其可在 -185℃ ~ 550℃ （RT ~ 650℃）範(fàn)圍內控溫
，同(tóng)時允(yǔn)許(xǔ)進(jìn)行電學(xué)測試
，光(guāng)學觀察和樣(yàng)品(pǐn)氣(qì)體環境控製(zhì)。也可搭配阻(zǔ)抗分析(xī)儀(yí)
，高(gāo)阻(zǔ)計(jì)
，源(yuán)表等進行相(xiāng)關電參(cān)數測量。使(shǐ)用(yòng)時(shí)還(huán)可對樣品氣(qì)氛(fēn)進行控製(zhì)；

2
，采(cǎi)用(yòng)了直流(liú)加熱(rè)方式(shì)進(jìn)行(háng)加熱。同時加入濾波等方(fāng)式(shì)以(yǐ)更(gēng)好(hǎo)的(dí)減(jiǎn)少對(duì)測量過(guò)程中(zhōng)的(dí)影響(xiǎng)
，提高測量的準度；

3
，測(cè)量方(fāng)式(shì)采用三電(diàn)極(jí)測量
，減少(shǎo)高(gāo)溫環境(jìng)下測量導綫的阻(zǔ)抗(kàng)影響(xiǎng)及內(nèi)部(bù)屏(píng)障(zhàng)；

4
，通(tōng)過平(píng)行(háng)板(bǎn)電(diàn)極的(dí)測量原理(lǐ)
，在(zài)樣(yàng)品上(shàng)濺(jiàn)射一層導(dǎo)電(diàn)材(cái)質(zhì)
，減少(shǎo)空間(jiān)及雜(zá)散(sàn)電容的影響。