華測儀(yí)器Huace-TSDC高壓(yā)熱刺激去極化電(diàn)流(liú)測試(shì)係統

價(jià)格僅供參考，如(rú)需獲取(qǔ)更(gēng)詳盡的產品(pǐn)技(jì)術(shù)規格書，定製方(fāng)案(àn)或(huò)應(yīng)用案(àn)例(lì)，歡(huān)迎致(zhì)電我司技術(shù)工程(chéng)師(shī)

Huace-TSDC高壓(yā)熱刺激(jī)去極(jí)化(huà)電流(liú)測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)由華測(cè)儀器生產，用於(yú)預(yù)測EMC的(dí)HTRB性(xìng)能(néng)。TSDC方法包(bāo)括(kuò)極化過程(chéng)，在該(gāi)過程中，電介(jiè)質(zhì)樣(yàng)品(pǐn)暴(bào)露在(zài)高電場(cháng)強度和高溫環(huán)境下(xià)。在這(zhè)種情(qíng)況下，電荷(hé)被分離並(bìng)在(zài)介(jiè)電(diàn)材料(liào)電(diàn)子元件中移動(dòng)。

產(chǎn)品(pǐn)優勢

除去電(diàn)網諧波(bō)對(duì)采集(jí)精(jīng)度(dù)的(dí)影(yǐng)響(xiǎng)

在高阻(zǔ)，弱(ruò)信(xìn)號測(cè)量(liáng)過程中，輸入(rù)偏置電(diàn)流和泄(xiè)漏(lòu)電流(liú)都會(huì)引起測量誤(wù)差(chà)。同(tóng)時電(diàn)網中(zhōng)大量使用(yòng)變頻(pín)器(qì)等高頻，高功(gōng)率設備，將對(duì)電(diàn)網造(zào)成(chéng)諧(xié)波(bō)幹(gān)擾(rǎo)。以致於(yú)影響(xiǎng)弱(ruò)信(xìn)號的采集，華(huá)測儀器公司推(tuī)出的(dí)抗(kàng)幹(gān)擾模塊(kuài)以(yǐ)及(jí)測(cè)試(shì)分(fēn)析(xī)技(jì)術,實現了(liǎo)高達1fA(10-15A)的測量分辨(biàn)率(shuài),從而(ér)滿(mǎn)足(zú)了(liǎo)很多(duō)半導體,功能材(cái)料(liào)等(děng)器件的(dí)測(cè)試需(xū)求。

除去(qù)不規則輸(shū)入(rù)的自(zì)動(dòng)平均值功(gōng)能(néng)

自動平均值是(shì)檢(jiǎn)測電流的變(biàn)化，並自動將其進行平均化的功能，在查看測量結果的同時(shí)不(bù)需要(yào)改變設(shè)置。通(tōng)過自動(dòng)排(pái)除充電電(diàn)流(liú)的(dí)過渡響(xiǎng)應(yīng)時或接觸不穩定(dìng)導致偏(piān)差(chà)較(jiào)大。電流輸(shū)入端口采(cǎi)用(yòng)大口徑(jìng)三軸(zhóu)連(lián)接器(qì)。

支持(chí)的(dí)硬件

1.多核高(gāo)性能處(chǔ)理器

2.集成(chéng)打印(yìn)接(jiē)口(kǒu)，可擴充(chōng)8個USB接(jiē)口

3.支持16g內存，250g固(gù)態硬盤