高溫介(jiè)電溫譜(pǔ)儀是為了(liǎo)滿足材料(liào)在(zài)高溫環(huán)境(jìng)下(xià)的介電(diàn)測(cè)量(liáng)需求而(ér)設(shè)計的。它由硬件設備(bèi)和測量(liáng)軟(ruǎn)件組(zǔ)成(chéng)，包括高溫測試平台，高溫(wēn)測試(shì)夾(jiā)具(jù)，阻(zǔ)抗(kàng)分析儀和(hé)高溫(wēn)介(jiè)電(diàn)測(cè)量係統軟件(jiàn)四(sì)個組成部(bù)分(fēn)。
它為(wéi)樣(yàng)品提供一個高溫環境(jìng)；高溫(wēn)測試夾(jiā)具(jù)提(tí)供待測試(shì)樣(yàng)品的(dí)測試平(píng)台(tái)；阻(zǔ)抗(kàng)分析儀(yí)則(zé)負責測試各組(zǔ)參(cān)數(shù)數(shù)據(jù)。後，再通過(guò)三琦測量軟件將這些硬(yìng)件(jiàn)設備的功能整(zhěng)合(hé)在一(yī)起，形成(chéng)一套由實(shí)驗(yàn)方案(àn)設計到溫(wēn)度控製(zhì)，參數(shù)測(cè)量，圖(tú)形數據顯示(shì)與數據(jù)分析於一體的測量(liáng)係統(tǒng)。
高(gāo)溫(wēn)介電溫譜(pǔ)儀特點(diǎn)：
可以(yǐ)實(shí)現常溫，高(gāo)溫，低(dī)頻(pín)條件下測量塊(kuài)體樣品的介(jiè)電(diàn)；
可以(yǐ)測(cè)量阻抗Z，電(diàn)抗X，導(dǎo)納(nà)Y，電導G，電(diàn)納(nà)B，電(diàn)感(gǎn)L，介(jiè)電(diàn)損耗D等(děng)物理量(liáng)；
可以直(zhí)接測(cè)量介(jiè)電常(cháng)數(shù)和損(sǔn)耗(hào)，阻(zǔ)抗譜Cole-Cole圖(tú)；
集成(chéng)一(yī)體化(huà)設(shè)計，觸(chù)摸屏(píng)控製和顯示，具(jù)有易(yì)用性；
電動升降(jiàng)平台，彈(dàn)簧電極係統，操作簡(jiǎn)單，使用方(fāng)便；
係(xì)統自帶溫度(dù)功能(néng)，讓測(cè)量溫(wēn)度盡(jìn)可能與樣(yàng)品(pǐn)實(shí)際(jì)溫度保(bǎo)持一(yī)致(zhì)；
係(xì)統(tǒng)采用(yòng)PID模(mó)糊算(suàn)法，具有控溫，超溫保(bǎo)護(hù)，一(yī)鍵自整定，故障診(zhěn)斷功能(néng)；
高溫(wēn)條件(jiàn)下模擬(nǐ)導(dǎo)綫，可有效(xiào)增(zēng)加(jiā)測試的(dí)頻(pín)率(shuài)帶寬，減小電爐絲(sī)的交流(liú)幹擾(rǎo)
高(gāo)溫(wēn)介電(diàn)溫(wēn)譜儀可測量陶瓷，薄(báo)膜(mó)，半導體(tǐ)等(děng)塊狀材料(liào)高(gāo)溫(wēn)介電(diàn)特性，可同時(shí)測(cè)量及(jí)輸(shū)出頻(pín)率(shuài)譜，電壓譜(pǔ)，偏(piān)壓(yā)譜，溫度譜，介電溫譜的測量數(shù)據與圖形。
地(dì)址(zhǐ)：北(běi)京海澱(diàn)區(qū)
郵箱：LH @163.com
傳(chuán)真：
當(dāng)前(qián)位(wèi)置(zhì)：