鐵電材(cái)料綜(zōng)合測試係(xì)統

優(yōu)點

可測量壓電陶(táo)瓷(cí)居裏溫(wēn)度(dù)，靜態壓電常(cháng)數；

測(cè)量壓電(diàn)材(cái)料(liào)介電(diàn)-1KHZ下的(dí)介電(diàn)常數及介質損耗(hào)測(cè)試；

可(kě)測(cè)量壓電材料(liào)積分電荷法(fǎ)熱(rè)釋電(diàn)係(xì)數測試(shì)

它可(kě)測量壓電(diàn)陶瓷的(dí)因數及機(jī)電(diàn)耦合(hé)係數

可(kě)選(xuǎn)配不(bù)同(tóng)的測(cè)試裝(zhuāng)置進行(háng)不同(tóng)環境下(xià)的壓(yā)電陶瓷參數(shù)測試        

本儀(yí)器(qì)可配合高壓(yā)放(fàng)大(dà)器(qì)實現壓電及鐵電(diàn)材(cái)料(liào)的(dí)綜合測(cè)

HCTD-2000x                                                

產品(pǐn)介紹

產(chǎn)品(pǐn)簡(jiǎn)介(jiè)

鐵(tiě)電材(cái)料綜(zōng)合測試(shì)係(xì)統既可(kě)適用(yòng)於(yú)壓電陶瓷材料居(jū)裏溫度，縱向(xiàng)壓電(diàn)應(yīng)變常(cháng)數(靜態)，強場(cháng)介電(diàn)，熱釋(shì)電係(xì)數(shù)，因(yīn)數及(jí)機電耦(ǒu)合(hé)係(xì)數(shù)等(děng);如增加高(gāo)壓(yā)放大器模塊(kuài)，也可實(shí)現鐵電(diàn)材料的(dí)電(diàn)學測試；配合高低溫測(cè)試環(huán)境同(tóng)時可以測(cè)量不同環(huán)境(jìng)溫度下(xià)的(dí)材(cái)料(liào)參數。該係統可(kě)廣(guǎng)泛(fàn)地(dì)應(yīng)用(yòng)於(yú)如(rú)各種(zhǒng)鐵(tiě)電(diàn)/壓(yā)電/熱釋電薄(báo)膜(mó)，厚膜，塊(kuài)體材料(liào)和電子陶(táo)瓷(cí)，鐵(tiě)電傳(chuán)感器/執行(háng)器/存儲器等(děng)領(lǐng)域(yù)的(dí)研究(jiū)。為一體的(dí)綜(zōng)合測試係(xì)統。

設(shè)備內置完(wán)整的(dí)工(gōng)控計(jì)算機(jī)主機(jī)，測試版路(lù)，運算放大器(qì)，數(shù)據處(chǔ)理(lǐ)單元等，包括(kuò)工控(kòng)計算機主(zhǔ)板，CPU(i3 或以上(shàng))，RAM(4G 或以上(shàng))，硬盤(pán)(120G 固態硬盤)，網(wǎng)卡(qiǎ)，USB 接口(kǒu)，VGA 接口，預裝Windows 7 操作係統，鐵電分析儀測試軟(ruǎn)件(jiàn)等。

鐵(tiě)電模塊(kuài)測試(shì)功能

鐵電模(mó)塊(kuài)標(biāo)準測(cè)試功能(néng)：
動(dòng)態電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)測(cè)試頻(pín)率（0.001Hz~150kHz）；
脈衝測試：min脈衝(chōng)寬度2μs，小(xiǎo)上升(shēng)時(shí)間1μs；
疲(pí)勞(láo)測試:max頻(pín)率300kHz；
保持(chí)力測試；
靜態電滯(zhì)回(huí)綫測(cè)試；
印跡測試(shì)；
漏電流測試(shì)：1pA to 1A。

高(gāo)壓(yā)放(fàng)大器模塊參數(shù)

高壓(yā)電(diàn)源：DC~150kHz
輸(shū)出電壓(yā)： 1600Vp-p（±800Vp）(可選)
輸(shū)出電(diàn)流(liú)：40mA
輸出(chū)波形(xíng)：正弦(xián)波，三(sān)角波，梯形(xíng)波等

壓電(diàn)模塊(kuài)測試功(gōng)能

電(diàn)容-電壓曲綫，損耗(hào)曲綫；
壓電(diàn)測(cè)試（蝴蝶曲綫(xiàn)，d33 曲綫(xiàn)）；
熱釋電測試；
e31，h31 測試；
靜態(tài)加(jiā)載力條(tiáo)件下(xià)的測(cè)試(shì)；
測(cè)量範(fàn)圍(wéi)(D33）：2至(zhì)4000pC/N
測試(shì)頻率：20HZ-10M;
測(cè)試精度：0.05%
測(cè)量參(cān)數(shù):Cp/Cs，Lp/Ls，Rp/Rs，|Z|，|Y|，R，X，G，B，θ，D，Q，Vac，Iac
施(shī)力裝置(zhì)：約4公斤(jīn)

電(diàn)滯回綫和(hé)蝴蝶(dié)曲綫

典(diǎn)型(xíng)的PZT樣(yàng)品(pǐn)的(dí)d33曲綫

薄膜探針(zhēn)台

（室(shì)溫測試）（可用於薄膜(mó)和厚膜(mó)室溫鐵電(diàn)測(cè)試(shì)）

薄膜(mó)變(biàn)溫探(tàn)針(zhēn)台
（室(shì)溫(wēn)到(dào)200℃）（可(kě)用(yòng)於(yú)厚膜(mó)鐵電，壓電（d33），熱釋(shì)電測(cè)試(shì)）

薄(báo)膜四(sì)探針探針台(tái)

（室(shì)溫(wēn)到(dào)200℃）（可(kě)用於(yú)厚膜(mó)鐵電，壓電(diàn)（e31），熱釋(shì)電(diàn)測試(shì)）

薄(báo)膜(mó)寬溫(wēn)區(qū)探針(zhēn)冷(lěng)熱台(tái)

（-196℃到(dào)+600℃）（可用(yòng)於薄(báo)膜(mó)和厚膜(mó)變溫的鐵(tiě)電(diàn)和熱釋電(diàn)測試）

壓電常(cháng)數測試原理

1，5－加壓裝(zhuāng)置絕緣(yuán)座(zuò)；2，4－加壓裝(zhuāng)置(zhì)引(yǐn)出電(diàn)極; 3-試樣(yàng); c-並聯電容(róng)器(qì) F3 -試加試(shì)樣上的力; K- 短路開關(guān);6，靜電(diàn)計

熱釋(shì)電係(xì)數(shù)測(cè)試原理

1，冰點；2，熱電偶；3，屏(píng)蔽溫(wēn)度室；4，試樣；5，絕(jué)緣保(bǎo)溫(wēn)層；6，積(jī)分電容；7，靜電計(jì)；8，函數(shù)分析儀(yí)；9，加(jiā)熱(rè)器；10，絕緣(yuán)支架(jià)；11，絕緣(yuán)油

高(gāo)壓放大器(qì)

輸出形(xíng)式：差分(fēn)輸出

輸(shū)出帶寬(kuān)：DC～150kHz

大輸出(chū)電(diàn)壓：1600Vp-p（±800Vp）

大(dà)輸出(chū)電(diàn)流(liú)：40mAp

大輸出功(gōng)率(shuài)：32W

選擇(zé)TREK高壓放大器

Trek 610E
電(diàn)壓範(fàn)圍(wéi)±10kV

電流(liú)範圍(wéi)0-2mA

大頻率600Hz

Trek 609E-6
電(diàn)壓(yā)範圍±4kV

電流範圍0-20mA

max頻(pín)率6000Hz