
當(dāng)前(qián)位(wèi)置(zhì):首頁 > 產(chǎn)品中(zhōng)心(xīn) > 功能材料測(cè)試儀器 > 鐵(tiě)電分析儀(yí) > HCTD-800鐵電測(cè)量(liáng)分(fēn)析儀





簡要描(miáo)述:鐵電測量(liáng)分析儀即(jí)可(kě)適(shì)用於壓電陶(táo)瓷材(cái)料居裏溫度,縱向(xiàng)壓電應變(biàn)常(cháng)數(shù)(靜態(tài)),強場介電,熱釋電係(xì)數,因(yīn)數(shù)及(jí)機電(diàn)耦合係數等;如增(zēng)加(jiā)高(gāo)壓放大(dà)器(qì)模(mó)塊,也(yě)可實(shí)現鐵電材料的(dí)電學測(cè)試;配合(hé)高低溫(wēn)試環境同(tóng)事可以測(cè)量不(bù)同(tóng)環境(jìng)溫度下(xià)的材料參數。
產品分類(lèi)
Product Category功能材(cái)料(liào)測(cè)試(shì)儀器(qì)
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| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 應(yīng)用領域(yù) | 化工(gōng),能源,電子/電池(chí),鋼(gāng)鐵/金(jīn)屬(shǔ),電氣 |
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產品(pǐn)簡介:
鐵(tiě)電測量分析(xī)儀(yí)即可適用於(yú)壓(yā)電(diàn)陶(táo)瓷材料(liào)居裏溫度,縱(zòng)向壓(yā)電(diàn)應(yīng)變常(cháng)數(靜態),強場(cháng)介(jiè)電,熱釋電係數(shù),因(yīn)數及(jí)機(jī)電耦合係(xì)數等;如增(zēng)加(jiā)高壓(yā)放大(dà)器(qì)模塊(kuài),也(yě)可實(shí)現(xiàn)鐵(tiě)電(diàn)材(cái)料的(dí)電(diàn)學測試(shì);配(pèi)合高低溫試(shì)環(huán)境同(tóng)事(shì)可以測量不(bù)同環境(jìng)溫(wēn)度(dù)下的材料(liào)參(cān)數。該係統可(kě)廣(guǎng)泛地應用(yòng)於(yú)如各種鐵電(diàn)/壓(yā)電/熱(rè)釋點薄膜(mó),厚膜(mó),塊(kuài)體材(cái)料和電(diàn)子(zǐ)陶(táo)瓷,鐵(tiě)電傳(chuán)感(gǎn)器/執(zhí)行(háng)器/存儲(chǔ)器等(děng)領(lǐng)域(yù)的研究(jiū)。為一體的綜(zōng)合(hé)測(cè)試係(xì)統。
鐵電(diàn)測(cè)量(liáng)分析(xī)儀(yí)內置完整的(dí)工控計算機主機,測試版(bǎn)路,運算(suàn)放大(dà)器,數據處理單(dān)元等,包括工控計算機主(zhǔ)板,CPU/(i3或以上),RAM(4G或(huò)以上(shàng)),硬盤(120G固態硬盤),網(wǎng)卡(qiǎ),USB接口,VGA接口,預裝Windows7操(cāo)作係統,鐵電分(fēn)析(xī)儀測試軟(ruǎn)件等。
鐵電模塊(kuài)測試功能:
鐵(tiě)電模塊標準測試(shì)功(gōng)能(néng):動態電滯回綫測(cè)試(shì)頻率(shuài)(0.001Hz~150KHz);
脈(mài)衝(chōng)測試(shì):mix脈(mài)衝(chōng)寬(kuān)度(dù)2μs,小上(shàng)升時間1μs;
保持(chí)力(lì)測試(shì);
靜態(tài)電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測(cè)試;
印跡測(cè)試;
漏(lòu)電(diàn)流(liú)測(cè)試:1pA to 1A。
高壓(yā)放大(dà)器模塊參(cān)數:
高壓(yā)電源(yuán) | 150kHz |
輸(shū)出電(diàn)壓 | 1600Vp-p(±800Vp)(可選) |
輸出(chū)電流(liú) | 40mA |
輸(shū)出(chū)波(bō)形 | 正(zhèng)弦波,三角波(bō),梯形波等 |
壓(yā)電模塊(kuài)測試功能:
電容(róng)-電壓曲綫(xiàn),損耗(hào)曲綫;
壓電(diàn)測(cè)試(shì)(蝴蝶曲綫(xiàn),d33曲(qū)綫);
熱(rè)釋電測(cè)試(shì);
e31,h31測試(shì);
靜態(tài)加載力條件下(xià)的(dí)測(cè)試;
測試範(fàn)圍(D33):2至4000pC/N;
測(cè)試頻率:20HZ-10M;
測試(shì)精度:0.05%;
測(cè)量參(cān)數:Cp/Cs,Lp/Ls,Rp/Rs,|Z|,|Y|,R,X,G,B,θ,D,Q,Vac,Lac;
施(shī)力(lì)裝置:約(yuē)4kg。
壓電(diàn)常(cháng)數(shù)測(cè)試原(yuán)理:

1,5—加壓裝(zhuāng)置(zhì)絕(jué)緣座 2,4—加(jiā)壓(yā)裝(zhuāng)置引出電極
3—試樣 C—並聯電容(róng)器(qì)
K—短(duǎn)路開關 6—靜(jìng)電(diàn)計
熱釋電係數(shù)測試(shì)原(yuán)理:

冰(bīng)點(diǎn) 2,熱電偶 3,屏(píng)蔽溫(wēn)度室 4,試(shì)樣 5,絕(jué)緣保溫(wēn)層(céng)
6,積(jī)分(fēn)電容 7,靜(jìng)電計(jì) 8,函(hán)數(shù)分(fēn)析儀 9,加熱器 10,絕(jué)緣(yuán)支(zhī)架
產品優(yōu)勢:
它(tā)可(kě)測(cè)壓電陶(táo)瓷(cí)居裏溫(wēn)度(dù),靜態壓電(diàn)常(cháng)數(shù);
測量壓電材(cái)料(liào)介(jiè)電-1KHZ下的(dí)介(jiè)電常(cháng)數及介質(zhì)損(sǔn)耗測試(shì);
可測量壓(yā)電材料(liào)積分電(diàn)荷法熱釋(shì)電(diàn)係數(shù)測試(shì);
它可(kě)測量(liáng)壓(yā)電陶瓷(cí)的因數及機電(diàn)耦(ǒu)合(hé)係數(shù);
可(kě)選(xuǎn)配(pèi)不(bù)同的測試(shì)裝置(zhì)進行(háng)不(bù)同(tóng)環(huán)境下(xià)的壓(yā)電陶瓷(cí)參(cān)數測(cè)試(shì);
本(běn)儀(yí)器可配合(hé)高壓(yā)放大(dà)器(qì)實現壓電(diàn)及(jí)鐵電材料的綜合測試。
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