目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)計算(suàn)高壓(yā)下(xià)電(diàn)介質的(dí)能量密(mì)度，測試(shì)時，樣品(pǐn)的電荷是放(fàng)回到高(gāo)壓源上(shàng)，而不是釋放到負載(zǎi)上(shàng)，通過電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫(xiàn)測得的(dí)儲能密度一般會大(dà)於樣(yàng)品(pǐn)實際釋(shì)放(fàng)的能量密度(dù)，無法(fǎ)正確評(píng)估電介(jiè)質(zhì)材(cái)料的正(zhèng)常(cháng)放(fàng)電。

     儲(chǔ)能電介(jiè)質充放電測(cè)試係(xì)統采(cǎi)用特殊高壓(yā)開(kāi)關，通(tōng)過單(dān)刀雙擲控製(zhì)充電和放電過程，開關(guān)可(kě)以承受10kV高壓(yā)，寄生電容(róng)小，動(dòng)作時間短；

內(nèi)置直(zhí)流高(gāo)壓模塊，電壓可達(dá)10kV，電流(liú)6mA；

通過(guò)電(diàn)流探頭(tóu)監測(cè)放電電流，可達100A；

可以實現欠阻(zǔ)尼(ní)和過阻尼(ní)兩種測試模(mó)式(shì)，欠(qiàn)阻尼測試(shì)時，放(fàng)電回路(lù)短(duǎn)路，不(bù)使用電阻(zǔ)負載，過(guò)阻尼測(cè)試時，使用較大(dà)的無感電(diàn)阻作(zuò)為(wéi)放(fàng)電負(fù)載；

通(tōng)過示波器(qì)采集(jí)數據(jù)，並能(néng)直(zhí)接計(jì)算儲(chǔ)能密(mì)度；

定製載(zǎi)樣(yàng)平(píng)台，適(shì)用(yòng)於陶瓷和(hé)薄(báo)膜(mó)樣品測(cè)試；

可(kě)以變溫測試，RT-250℃；

可以疲勞(láo)測試。

►主要參數(shù)

產(chǎn)品名稱： 儲能電(diàn)介質(zhì)充放電測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)

型號(hào)：HCCF-10KV

電流探(tàn)頭帶寬：120MHz

峰(fēng)值(zhí)電流：100A

電流采(cǎi)集jing度：1mA

高壓(yā)源(yuán)模(mó)塊(kuài)：DC 10kV（6mA）

開(kāi)關(guān)適(shì)用：100萬(wàn)次，耐(nài)壓至15kV

溫控範圍：RT-250℃

溫度(dù)穩(wěn)定性(xìng)和(hé)jing度(dù)：0.1℃

測試(shì)樣(yàng)品(pǐn)：薄膜，厚膜(mó)，陶瓷，玻璃(lí)等

►配置(zhì)

控製主機(jī)（含(hán)10kV高壓(yā)源模(mó)塊）  1台  

電流探(tàn)頭  1根

示波器（350M 5GSa/s）1台(tái) 可選(xuǎn)配(pèi)

電腦(nǎo)主(zhǔ)機（含(hán)數(shù)據采集(jí)係統）1台(tái) 可選(xuǎn)配(pèi)

儲(chǔ)能電(diàn)介(jiè)質充放(fàng)電(diàn)測(cè)試係(xì)統/檢(jiǎn)測(cè)設備

儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試係(xì)統/檢(jiǎn)測(cè)設(shè)備