MLCC多通(tōng)道(dào)介電(diàn)溫(wēn)譜儀/陶瓷薄(báo)膜半(bàn)導(dǎo)體塊狀

一(yī)
，升溫迅速高(gāo)溫(wēn)介電溫(wēn)譜儀組(zǔ)成(chéng)部(bù)分(fēn)

它由(yóu)硬(yìng)件設備(bèi)和測(cè)量軟(ruǎn)件(jiàn)組成(chéng)，包括高(gāo)溫測試(shì)平(píng)台(tái)
，高(gāo)溫測試夾具
，阻(zǔ)抗分(fēn)析儀(yí)和高溫介(jiè)電(diàn)測(cè)量係統(tǒng)軟件四個組成(chéng)部分。它(tā)為(wéi)樣(yàng)品(pǐn)提(tí)供(gōng)一(yī)個(gè)高溫環境(jìng)；高溫測(cè)試(shì)夾具(jù)提(tí)供待測(cè)試樣品(pǐn)的測試平台；阻抗分析儀(yí)則負責(zé)測試各組參(cān)數數據。後，再通(tōng)過測量(liáng)軟件(jiàn)將這些(xiē)硬(yìng)件(jiàn)設(shè)備(bèi)的功(gōng)能(néng)整(zhěng)合(hé)在一(yī)起(qǐ)，形(xíng)成(chéng)一套(tào)由(yóu)實驗(yàn)方(fāng)案(àn)設(shè)計(jì)到溫(wēn)度(dù)控(kòng)製
，參數(shù)測(cè)量
，圖形數據顯示與(yǔ)數(shù)據(jù)分(fēn)析於(yú)一體的(dí)測(cè)量(liáng)係(xì)統。

      二
，升(shēng)溫迅(xùn)速(sù)高(gāo)溫(wēn)介電溫譜儀特點(diǎn)

　　可(kě)以實現常溫(wēn)
，高(gāo)溫(wēn)
，低頻條件(jiàn)下(xià)測量塊(kuài)體(tǐ)樣(yàng)品的介(jiè)電(diàn)；

　　可(kě)以測量阻(zǔ)抗(kàng)Z
，電抗X
，導納Y
，電(diàn)導(dǎo)G
，電納(nà)B
，電(diàn)感L
，介電損(sǔn)耗D等(děng)物理(lǐ)量(liáng)；

　　可以直接測(cè)量介(jiè)電常數和損(sǔn)耗，阻抗(kàng)譜(pǔ)Cole-Cole圖；

　　集成(chéng)一體化設計(jì)，觸摸屏控製和顯示，具(jù)有易(yì)用性(xìng)；

　　電動(dòng)升降平台(tái)，彈簧電(diàn)極係(xì)統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單(dān)，使(shǐ)用(yòng)方便；

　　係(xì)統(tǒng)自(zì)帶溫度功能(néng)，讓測(cè)量溫度(dù)盡可能與(yǔ)樣(yàng)品(pǐn)實際溫度保持(chí)一致；

　　係統采(cǎi)用(yòng)PID模糊算法，具(jù)有(yǒu)控(kòng)溫(wēn)
，超溫(wēn)保護
，一鍵自整定
，故障(zhàng)診斷功(gōng)能(néng)；

高(gāo)溫條(tiáo)件(jiàn)下(xià)模(mó)擬(nǐ)導(dǎo)綫，可有效(xiào)增(zēng)加(jiā)測(cè)試的(dí)頻率帶(dài)寬，減(jiǎn)小電爐絲(sī)的交流(liú)幹(gān)擾

三(sān)
，技術(shù)指標

溫(wēn)度範圍(wéi)
：室溫-800℃，（反射爐(lú)加(jiā)溫(wēn)）配水(shuǐ)冷(lěng)機）；

控(kòng)溫精度
：±0.5℃；

測(cè)量精(jīng)度
：±0.25℃；

升(shēng)溫斜率
：1-800℃/min（*快(kuài)可(kě)10秒(miǎo)達800度）；

降(jiàng)溫斜(xié)率
：1-200℃/min（可自(zì)調整）；

頻率(shuài)範圍(wéi)
：20Hz-1MHz；

測(cè)量精度
：0.05%；

樣品規(guī)格
：直(zhí)徑(jìng)
：20mm以內(nèi)；厚(hòu)度(dù)
：5mm以內(nèi)；

電(diàn)極(jí)材料
：鉑金；

測量方式(shì)
：2綫(xiàn)-4綫測量(liáng)方式；

供電(diàn)
：220V±10%，50Hz；

工作環境(jìng)
：0℃-55℃；

存(cún)儲條件
：-40℃-70℃；

尺(chǐ)寸(cùn)
：750mmX660mm×360mm；

重量(liáng)
：25kg

四
，產品優勢

華測公(gōng)司(sī)為(wéi)針對新材(cái)料電檢(jiǎn)測(cè)儀(yí)器(qì)全(quán)係列廠家(jiā)，試(shì)驗(yàn)效(xiào)率(shuài)高。

可實(shí)現高溫下的匀速(sù)
，階梯
，降(jiàng)溫下(xià)的(dí)全溫(wēn)度範圍(wéi)的測試(shì)。

可(kě)實現(xiàn)小於±0.5℃溫(wēn)度測量誤(wù)差(chà)（限(xiàn)反(fǎn)射爐），jing度控製在±0.25℃以內。

五(wǔ)
，使用範圍

可(kě)測量(liáng)陶(táo)瓷
，薄膜
，半導體(tǐ)等塊(kuài)狀材(cái)料高溫(wēn)介電(diàn)特性(xìng)，可(kě)同(tóng)時測量及輸出頻率譜(pǔ)
，電(diàn)壓譜(pǔ)
，偏(piān)壓(yā)譜(pǔ)
，溫度譜
，介電溫譜(pǔ)的(dí)測量數(shù)據與圖(tú)形(xíng)。