
當前位置:首(shǒu)頁 > 產品中(zhōng)心(xīn) > 功能(néng)材料測試儀(yí)器 > 高(gāo)溫介電溫譜(pǔ)測試(shì)儀 > HCJD高低(dī)溫寬(kuān)頻(pín)介(jiè)電(diàn)溫(wēn)譜測(cè)試(shì)儀(yí)係統(tǒng)


簡(jiǎn)要(yào)描(miáo)述(shù):華測(cè)高低溫介(jiè)電(diàn)溫譜測試(shì)儀係統運用三(sān)電極(jí)法(fǎ)設計(jì)原理(lǐ)測量(liáng)。重復性與穩定性好,采(cǎi)用雙(shuāng)屏蔽高(gāo)頻(pín)測試(shì)綫(xiàn)纜,提(tí)高(gāo)測試參數的(dí)準確(què)度(dù),同(tóng)時(shí)抗擾(rǎo)能(néng)力(lì)強(qiáng)。本(běn)設(shè)備(bèi)也可(kě)應用於產品檢測(cè)以及新材(cái)料電(diàn)學研(yán)究(jiū)等用途。
產(chǎn)品(pǐn)分(fēn)類(lèi)
Product Category相關(guān)文章(zhāng)
Related Articles詳(xiáng)細介紹
| 品牌(pái) | 華測儀器 | 價格(gé)區間(jiān) | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域(yù) | 化(huà)工,建(jiàn)材/家具,電(diàn)子/電池,紡織(zhī)/印(yìn)染 |
| 溫度(dù)範圍(wéi) | RT-800(最高1650)°C | 控溫(wēn)精(jīng)度 | ±0.25°C |
| 樣品尺(chǐ)寸(cùn) | φ<25mm,d<4mm | 測(cè)試(shì)頻率 | 10Hz~120MHz |
| 加熱(rè)方式 | 近紅(hóng)外(wài)加熱(rè) | 測(cè)試(shì)功能 | 介電(diàn)溫譜,頻(pín)譜(pǔ) |
華(huá)測高(gāo)低(dī)溫介(jiè)電(diàn)溫譜測試儀(yí)係(xì)統(tǒng)
一,華測(cè)高低溫介電(diàn)溫(wēn)譜測(cè)試(shì)儀係統簡介:
華測高(gāo)溫介電溫(wēn)譜(pǔ)測(cè)試儀係(xì)統運(yùn)用三電(diàn)極(jí)法(fǎ)設計原理測量(liáng)。重復性(xìng)與穩(wěn)定(dìng)性(xìng)好,采用雙屏蔽(bì)高頻測試(shì)綫纜,提高測試(shì)參(cān)數(shù)的準(zhǔn)確(què)度。本設(shè)備也(yě)可應(yīng)用(yòng)於產(chǎn)品檢測以及(jí)新材料電(diàn)學研(yán)究等(děng)用途。
搭(dā)配(pèi)Labview係統(tǒng)開(kāi)發的(dí)Huacepro軟件,具備(bèi)彈性(xìng)的自定義(yì)功(gōng)能,可(kě)進(jìn)行介電溫譜,頻(pín)譜(pǔ),升溫(wēn)速(sù)度(dù),測量參(cān)數等(děng)設(shè)置(zhì),符合壓電(diàn)陶(táo)瓷與其它新材料測(cè)試多樣化(huà)的(dí)需(xū)求。電(diàn)壓,過(guò)電流(liú),超(chāo)溫等異常情況(kuàng)以(yǐ)保(bǎo)證(zhèng)測(cè)試(shì)過(guò)程的;資料保(bǎo)存機(jī)製(zhì),當(dāng)遇到(dào)電(diàn)腦異(yì)常瞬時斷(duàn)電可將資(zī)料(liào)保(bǎo)存於(yú)控製器中,不(bù)丟失(shī)試驗(yàn)數(shù)據,設備重新啟動後(hòu)可恢復原(yuán)有(yǒu)試(shì)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
目前電(diàn)網中大量(liáng)使用變頻器等高頻,高(gāo)功率(shuài)設(shè)備,將(jiāng)對(duì)電(diàn)網(wǎng)造(zào)成諧波幹(gān)擾(rǎo)。從而在(zài)高頻(pín),弱信號測量(liáng)過程中(zhōng)影響弱信(xìn)號(hào)的采集,從而(ér)滿足(zú)了很多半導(dǎo)體,功(gōng)能材(cái)料(liào)和(hé)納米(mǐ)器件的測(cè)試需(xū)求(qiú).
消(xiāo)除電(diàn)網諧波對采(cǎi)集(jí)精(jīng)度的影(yǐng)響(xiǎng)
消(xiāo)除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平(píng)均(jūn)值功(gōng)能 強數(shù)據(jù)處(chǔ)理及內(nèi)部(bù)屏(píng)蔽(bì)
華(huá)測(cè)係(xì)列阻(zǔ)抗(kàng)分(fēn)析(xī)儀是(shì)華測(cè)儀(yí)器(qì)電子(zǐ)事業部采用(yòng)自(zì)動(dòng)平衡電橋原理(lǐ)研製成(chéng)功(gōng)的(dí)新(xīn)一代(dài)阻(zǔ)抗測試儀(yí)器,為(wéi)國產(chǎn)阻抗(kàng)測試儀器(qì)的新的(dí)高(gāo)度。解(jiě)決(jué)同類儀(yí)器,在測量(liáng)10Hz-50MHz的(dí)頻率瓶(píng)頸(jǐng);采(cǎi)用單測(cè)和(hé)分(fēn)析(xī)兩(liǎng)種界麵(miàn),讓測試(shì)簡單。得(dé)益(yì)於(yú)自(zì)動平衡(héng)電(diàn)橋(qiáo)技術(shù),在10Hz-50MHz的頻率範(fàn)圍可(kě)以保證0.05%的基本精(jīng)度(dù)。 快達5ms的(dí)測試(shì)速(sù)度及高(gāo)達(dá)50M的阻抗(kàng)測(cè)試(shì)範圍(wéi)可(kě)以滿足元件(jiàn)與材(cái)料的測量要(yào)求,特別有利(lì)於低損耗(D)電容器和高(gāo)因(yīn)數(Q)電感器的(dí)測量(liáng)。四端對的(dí)端(duān)口(kǒu)配置方式可有效(xiào)消(xiāo)除測試綫(xiàn)電磁耦(ǒu)合的影響,將低阻(zǔ)抗(kàng)測試能(néng)力(lì)的(dí)下(xià)限比常規(guī)端配(pèi)置的儀器(qì)向下(xià)擴展了(liǎo)十倍。


專(zhuān)用高(gāo)頻測(cè)試綫(xiàn)纜(lǎn),適合(hé)高頻(pín)測量(liáng)
測試引綫(xiàn)使用(yòng)4端(duān)子對(duì)配置以擴展(zhǎn)測量(liáng)端(duān)口,附(fù)帶(dài)BNC陽頭連(lián)接板,用於(yú)連(lián)接(jiē)高(gāo)溫爐的測試(shì)夾(jiā)具(jù),同時測試(shì)綫采用(yòng)高(gāo)頻測試專用(yòng)測(cè)試綫,設計兩(liǎng)層(céng)屏蔽(bì)。適合高(gāo)頻(pín)介電(diàn)參(cān)數測量。

儀(yí)器優勢:
1,它(tā)可(kě)以匀速,階梯(升降(jiàng)溫(wēn)),循(xún)環衝(chōng)擊,真空,氣氛(fēn)等多種(zhǒng)的加熱(rè)方式。
2,采用(yòng)移相(xiāng)觸(chù)發(fā)技術,可(kě)實現控製精度波(bō)動(dòng)±0.25°c 以(yǐ)內(nèi),溫控度高(gāo)。
3,加熱(rè)速度快,同(tóng)時(shí)它可以提供(gōng)了(liǎo)材料的多(duō)的(dí)測(cè)試環境。
設(shè)備(bèi)優勢
1,高(gāo)速加熱與冷卻(què)方式(shì)
高(gāo)能(néng)量的(dí)紅外(wài)燈(dēng)和(hé)鍍金反射(shè)方式允許高(gāo)速(sù)加熱到(dào)高溫(wēn)。同時爐(lú)體可配置(zhì)水(shuǐ)冷係(xì)統,增(zēng)設(shè)氣(qì)體冷卻(què)裝(zhuāng)置,可(kě)實現快速(sù)冷卻。
2,溫度(dù)控(kòng)製(zhì)
近紅外鍍(dù)金聚焦(jiāo)爐和溫(wēn)度(dù)控製器的組(zǔ)合(hé)使用(yòng),可以準確(què)控製樣(yàng)品的(dí)溫(wēn)度(遠比(bǐ)普通加(jiā)溫方(fāng)式)。
3,不同(tóng)環(huán)境下(xià)的加熱與冷卻
加(jiā)熱(rè)/冷卻(què)可(kě)用(yòng)真(zhēn)空,氣氛(fēn)環境(jìng),低溫(wēn),操作(zuò)簡(jiǎn)單,使用(yòng)石(shí)英(yīng)玻璃(lí)製(zhì)成。紅外綫可傳送到加熱(rè)/冷卻(què)室(shì)。
█ 多(duō)功(gōng)能(néng)真空加熱 爐(lú),可實(shí)現高溫(wēn),真(zhēn)空,氣氛環境(jìng)下(xià)電(diàn)學測(cè)試
█ 采用鉑金材料作為測(cè)量(liáng)導(dǎo)綫,以減少信號(hào)衰(shuāi)減(jiǎn),提(tí)高(gāo)測(cè)試(shì)精(jīng)度
█ 設備配(pèi)置(zhì)水冷(lěng)裝(zhuāng)置(zhì),降(jiàng)溫(wēn)速(sù)度(dù)快,效率(shuài)高(gāo)
█ 可(kě)實(shí)現(xiàn)介(jiè)電溫(wēn)譜,介(jiè)電頻(pín)譜(pǔ)等測(cè)量功能(néng)
█近(jìn)紅外加熱(rè),樣品受(shòu)熱均匀(yún),不存在(zài)感應(yīng)電(diàn)流,達(dá)到(dào)準確測(cè)量(liáng)
█ 10寸觸摸(mō)屏(píng)設計(jì),一(yī)體(tǐ)化(huà)設計機械結(jié)構,穩定,可靠(kào)
█ 采(cǎi)用高(gāo)頻測試(shì)綫(xiàn),抗(kàng)擾能(néng)力強(qiáng),采(cǎi)集度高
█ 99氧化(huà)鋁陶(táo)瓷絕(jué)緣,配(pèi)和(hé)鉑金電(diàn)極夾(jiā)具(jù)
█ huace pro 控(kòng)製(zhì)分析(xī)軟件與功能(néng)測(cè)試平(píng)台(tái)係(xì)統(tǒng)相(xiāng)互(hù)兼(jiān)容(róng)

不(bù)一(yī)樣的加(jiā)溫方(fāng)式及多(duō)的(dí)應用場(cháng)景(jǐng)

設備測(cè)量參數
溫度範(fàn)圍: RT-800 (最高1650)°C
樣品尺(chǐ)寸:φ<25mm,d<4mm
控溫精(jīng)度(dù):±0.25°C
電極(jí)材(cái)料:鉑金
升溫斜(xié)率(shuài):10°C/min(可(kě)設定(dìng))
夾具(jù)輔助材料(liào):99氧(yǎng)化鋁陶(táo)瓷
測(cè)試頻(pín)率 : 10Hz~120MHz
絕(jué)緣材(cái)料(liào):99氧化鋁(lǚ)陶瓷
加熱方(fāng)式:近(jìn)紅外加熱
測試(shì)功能(néng):介(jiè)電(diàn)溫(wēn)譜,頻譜
冷(lěng)卻方式(shì):水冷
數據傳(chuán)輸:4個(gè)USB接口
輸入(rù)電壓:110~220V
設(shè)備(bèi)尺(chǐ)寸(cùn):600x500x350mm
ε介(jiè)電常數(shù),(ε',ε''介電常數實部與虛部(bù)),C電(diàn)容,(C’,C''電容實(shí)部與虛部,D損(sǔn)耗(hào),R電(diàn)阻(zǔ),(R',R''電(diàn)阻(zǔ)實部與虛部),Z,(Z',Z''阻(zǔ)抗(kàng)實部(bù)與虛(xū)部),
Y導納,Y’,Y''(導(dǎo)納(nà)實部與(yǔ)虛部),X電(diàn)抗(kàng),Q因(yīn)數,cole-cole圖譜(pǔ),機(jī)電耦合係(xì)數Kp,等(děng)一係(xì)列測量參數(shù)及介電(diàn)溫(wēn)譜與頻譜(pǔ)等測試功能。
操作軟(ruǎn)件(jiàn)

測(cè)試係(xì)統(tǒng)的(dí)軟(ruǎn)件(jiàn)平(píng)台 Huacepro ,采(cǎi)用labview係統(tǒng)開發(fā),符合(hé)功(gōng)能材(cái)料的(dí)各項測試(shì)需求,具(jù)備穩定(dìng)性與(yǔ)操作an全(quán)性,並具(jù)備(bèi)斷電資(zī)料(liào)的(dí)保(bǎo)存功能,圖像資(zī)料也(yě)可保(bǎo)存(cún)恢復(fù)。
█ 多語(yǔ)介麵(miàn):支持(chí)中(zhōng)文/英文(wén) 兩種語言界麵;
█ 即時監控(kòng):係(xì)統測試狀(zhuàng)態(tài)即(jí)時瀏(liú)覽,無(wú)須(xū)等待;
█ 圖例(lì)管理(lǐ):通(tōng)過(guò)軟(ruǎn)件中的(dí)狀態圖示,一目了(liǎo)然(rán),立即(jí)對狀(zhuàng)態說明,了(liǎo)解(jiě)測試(shì)狀態;
█ 使用(yòng)權(quán)限:可設定使(shǐ)用者(zhě)的(dí)權限,方便(biàn)管(guǎn)理(lǐ);
█ 故(gù)障(zhàng)狀態(tài):軟件(jiàn)具(jù)有設備的故障報警(jǐng)功能(néng)。
█ 試驗(yàn)報告:自(zì)定義(yì)報(bào)表(biǎo)格式,一鍵(jiàn)打印試(shì)驗報告(gào),可(kě)導出(chū)EXCEL,PDF格(gé)式(shì)報表(biǎo)
硬件配置
軟件兼容:Huace(6500,6800),Keysight( E4990,E4991,E4980A),
waynekerr(6500B,6530,4235)同惠(2983, 2838,2851)等(děng)阻抗(kàng)分析儀(yí)表。
█ 集成(chéng)Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙(shuāng)核(hé)處(chǔ)理器(qì)
█ 集成(chéng)打(dǎ)機(jī)印(yìn)接(jiē)口,可(kě)擴充(chōng)8個(gè)USB接(jiē)口
█ 支持16G內存(cún),60G固態硬(yìng)盤(pán),讓(ràng)係統(tǒng)運(yùn)行(háng)流暢(chàng)
阻(zǔ)抗(kàng)分析儀係(xì)列:





模式選擇(zé):根據(jù)等效電路可選(xuǎn)擇並(bìng)聯模(mó)式和串(chuàn)聯模式;
測(cè)量方(fāng)式:軟件可(kě)進行介電(diàn)溫(wēn)譜與介電頻(pín)譜;
溫度設置:可(kě)設置升(shēng)溫速(sù)度(dù),降溫速度(dù),最(zuì)大溫度,測(cè)量(liáng)等待(dài)時間(jiān)等;
測量(liáng)參(cān)數:ε介電常數,(ε',ε''介電(diàn)常(cháng)數(shù)實部(bù)與(yǔ)虛部(bù)),C電容,(C’,C''電容實(shí)部與虛(xū)部(bù),D損耗,阻(zǔ),(R',R''電(diàn)阻實(shí)部與(yǔ)虛(xū)部),Z,(Z',Z''阻(zǔ)抗實部(bù)與虛(xū)部),Y導(dǎo)納(nà),Y’,Y''(導納實(shí)部(bù)與虛部(bù)),X電抗,Q因數,cole-cole圖譜(pǔ),機電(diàn)耦(ǒu)合係數Kp,等;
測(cè)量頻(pín)率(shuài):軟(ruǎn)件可設置測試的(dí)頻率;
數(shù)據(jù)處(chǔ)理(lǐ):測(cè)量數據生(shēng)成Excel及(jí)pdf兩種文件格式(shì);
圖像處(chǔ)理(lǐ):測量(liáng)曲綫(xiàn)可(kě)保存(cún)。



產品咨詢(xún)

微信掃(sǎo)一(yī)掃