多通(tōng)道介電(diàn)譜測試係(xì)統(tǒng)/特(tè)性評(píng)估係(xì)統(tǒng)

（電(diàn)容器(qì)溫(wēn)度特(tè)性(xìng)評估係統）

電(diàn)化(huà)學(xué)遷移(yí)評(píng)價(jià)係統

電(diàn)化(huà)學遷(qiān)移評(píng)估係(xì)統(tǒng)可(kě)以(yǐ)輕鬆(sōng)有效(xiào)地(dì)評估(gū)產品壽命(mìng)和絕緣(yuán)電(diàn)阻
，從(cóng)低壓(yā)測試到高(gāo)壓測試都有(yǒu)許多應用。

l 評價(jià)目標(biāo)

l 印(yìn)刷電路板

l 絕(jué)緣(yuán)材(cái)料(liào)

l 半(bàn)導(dǎo)體材料

容(róng)器泄(xiè)漏測試(shì)係(xì)統

電容器(qì)泄(xiè)漏測(cè)試係統自動(dòng)評估高(gāo)溫和(hé)高溫/高濕環(huán)境下電(diàn)容(róng)器(qì)的(dí)絕緣退化特性(xìng)。

l 評價目標

l 電容(róng)器(qì)

Platinous J 係(xì)列恒(héng)溫(wēn)試驗箱

作(zuò)為行業(yè)標準(zhǔn)試驗箱的(dí)一(yī)條(tiáo)綫
，Platinous係列除了(liǎo)可靠性(xìng)，性能，可(kě)操(cāo)作性和安全性外(wài)
，還(huán)追求理(lǐ)想(xiǎng)的(dí)，生(shēng)態友好的(dí)環境(jìng)試驗箱的(dí)新環(huán)境(jìng)標準(zhǔn)。

型號

範(fàn)圍 迷(mí)你零下Compact 超(chāo)低(dī)溫室

Mini Subzero 支(zhī)持覆蓋(gài)超低(dī)溫範(fàn)圍的(dí)較寬溫度範圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高(gāo)溫範圍（+ 100℃/+ 180℃）。該滅菌(jūn)室(shì)還提(tí)供遠程(chéng)監測(cè)和操作(zuò)。

內(nèi)部(bù)容積 (L)

特征

該係統可用(yòng)於(yú)評估(gū)特定(dìng)溫度環(huán)境下電(diàn)容(róng)器和(hé)各(gè)種材(cái)料(liào)的靜電(diàn)容(róng)量(liáng) (C)，損耗(hào)因(yīn)子 (D) 和(hé)阻抗(kàng) (Z)。

☆ 最多(duō)64個(gè)通(tōng)道的(dí)自(zì)動測量

該係統可(kě)以(yǐ)測量(liáng)不同(tóng)溫(wēn)度環境(jìng)下的靜電容量 (C)，損(sǔn)耗(hào)因(yīn)子 (D) 和阻抗(kàng) (Z) 的多通道。

您可以選(xuǎn)擇(zé)8個通道的(dí)倍(bèi)數(shù)
，最(zuì)多64個(gè)通(tōng)道。

☆ 圖(tú)形功(gōng)能允許(xǔ)實(shí)時查看測(cè)量(liáng)結(jié)果(guǒ)

收(shōu)集的(dí)數據
，包括不同溫度(dù)，頻率(shuài)和時(shí)間下的(dí)電(diàn)特性(xìng)值和變(biàn)化(huà)率(shuài)
，可以(yǐ)通過(guò)各(gè)種圖形函數(shù)進行實時審查。

☆ 可(kě)從不同(tóng)測試(shì)模式選(xuǎn)擇

溫度特性(xìng)評(píng)價試驗(yàn)，恒定運(yùn)行試驗(yàn)和(hé)頻(pín)率特性試驗。

<溫度(dù)特(tè)性(xìng)評(píng)估測(cè)試>

在(zài)此測(cè)試模式(shì)下
，自(zì)動記錄特(tè)性數(shù)據
，並與溫度變化同(tóng)步
，最多40步。

<持(chí)續運行測試(shì)>

該測(cè)試(shì)模(mó)式測(cè)量以下參數的(dí)變化特定中隨(suí)時(shí)間(jiān)推移的(dí)特征(zhēng)自(zì)動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。

<頻率特性評(píng)價(jià)試驗>

該試驗模(mó)式(shì)在特定溫(wēn)度環境(jìng)下改變頻(pín)率的(dí)同時
，自(zì)動記(jì)錄不同(tóng)頻(pín)率下的特性(xìng)數據(jù)。測(cè)試(shì)可與溫(wēn)度特性(xìng)評(píng)價測試或恒(héng)定運(yùn)行測試相(xiāng)結合(hé)。

☆ 多種可選(xuǎn)夾具(jù) 適用於不同的試(shì)驗(yàn)樣(yàng)本(běn)（可選）

除(chú)了 SMD 組(zǔ)件的(dí)專(zhuān)用夾具外(wài)
，我(wǒ)們還(huán)提(tí)供了(liǎo)根據離散設(shè)備形(xíng)狀(zhuàng)定製的(dí)夾具(jù)。

應(yīng)用(yòng)程(chéng)序

l 電(diàn)容器

l 靜電(diàn)容量 (C)

l 損(sǔn)失(shī)因子 (D)

l 阻抗的(dí)溫度(dù)特(tè)性 (Z)

l 頻(pín)率特征

l 電子材(cái)料(liào)

l 印刷(shuā)電(diàn)路板(bǎn)

l 通(tōng)量(liáng)

l 絕緣(yuán)材(cái)料（樹脂(zhī)，薄(báo)膜(mó)等）

l 介電(diàn)材(cái)料（鈦(tài)，陶(táo)瓷，鉭，鋁電解材料等）

①係統控製器(qì)

用(yòng)於登記係統管理的計算(suàn)機(jī)和監(jiān)視(shì)器(qì)測試條件(jiàn)
，檢查工作(zuò) 狀態
，並進行數據處理(lǐ)。

②不間(jiān)斷(duàn)電源

係統(tǒng)控製器的(dí)備(bèi)用(yòng)電(diàn)源。

③ RS-232C

操(cāo)作員控製(zhì)並(bìng)監測來(lái)自係統控(kòng)製(zhì)器(qì)的環境(jìng)測試係統(tǒng)。

④ 掃(sǎo)描(miáo)裝置

該裝置(zhì)測(cè)量靜電(diàn)容量 (C)，損(sǔn)耗(hào)因子(zǐ)(D) 和帶(dài)有(yǒu)測量(liáng)電纜前(qián)沿(yán)的(dí)標準8通道(dào)的阻(zǔ)抗 (Z)。

您可(kě)以(yǐ)將每台器(qì)械的(dí)通道數增加到64個(gè)
，增(zēng)量(liáng)為8個(gè)通(tōng)道。

⑤ 測量電(diàn)纜

由聚四(sì)氟乙(yǐ)烯製成(chéng)的(dí)同軸電(diàn)纜連接(jiē)到樣品(pǐn)或試(shì)驗係統(tǒng)內部夾具。

⑥ 繼(jì)電器(qì)單(dān)元

該(gāi)裝置將(jiāng)測量電纜連接到(dào)樣(yàng)本(běn)上或測試係統內部夾(jiā)具(jù)至掃(sǎo)描儀裝(zhuāng)置。繼(jì)電(diàn)器(qì)單元(yuán)使(shǐ)連接(jiē)變得容易(yì)。

⑦ 樣品(pǐn)連接(jiē)夾具（可(kě)選）

用於連接 SMD 組件(jiàn)或離(lí)散設備的(dí)卡扣式(shì)夾具。

⑧ LCR儀(yí)表(biǎo)

該儀(yí)表測(cè)量靜電容量 (C)，損(sǔn)耗因子 (D)，和阻(zǔ)抗(Z)。

⑨ 絕緣電阻測試儀(yí)（選配）

該(gāi)測試(shì)人員(yuán)測量絕緣電阻。您可(kě)以(yǐ)將每台(tái)器械的通道(dào)數增加到64個
，增(zēng)量為8個(gè)通(tōng)道。

⑩RS-485（可(kě)選）

從環境(jìng)測試(shì)係(xì)統選項(xiàng)菜單
，RS-485可(kě)將(jiāng)通(tōng)信選作係(xì)統(tǒng)控製器和環境(jìng)測試(shì)係統(tǒng)的通信協議。

多(duō)通(tōng)道介電譜測試(shì)係統(tǒng)/特性(xìng)評(píng)估係統(tǒng)