MLCC電(diàn)容(róng)器溫度特(tè)性測試(shì)係統(tǒng)  

（電容(róng)器溫度特(tè)性評(píng)估係統）

電化(huà)學(xué)遷移評價(jià)係(xì)統

電(diàn)化學(xué)遷(qiān)移評(píng)估(gū)係統(tǒng)可(kě)以(yǐ)輕(qīng)鬆有(yǒu)效(xiào)地(dì)評估產品壽(shòu)命和(hé)絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)，從低(dī)壓測試(shì)到高壓測試(shì)都(dū)有許多應用(yòng)。

l 評(píng)價目(mù)標

l 印刷電路(lù)板

l 絕緣材料

l 半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料

容(róng)器(qì)泄漏測試係(xì)統

電容(róng)器泄漏(lòu)測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)自動評估(gū)高溫和(hé)高(gāo)溫(wēn)/高濕環境下電容(róng)器(qì)的絕(jué)緣退化特性。

l 評價目(mù)標

l 電容(róng)器

Platinous J 係(xì)列(liè)恒(héng)溫試(shì)驗(yàn)箱

作(zuò)為行(háng)業(yè)標準試驗箱的(dí)一條(tiáo)綫(xiàn)，Platinous係(xì)列除(chú)了可(kě)靠性，性(xìng)能(néng)，可操作(zuò)性和安(ān)全性外(wài)，還(huán)追(zhuī)求(qiú)理(lǐ)想的(dí)，生態(tài)友好(hǎo)的(dí)環境試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)的新環境標(biāo)準。

型號

範圍(wéi) 迷(mí)你(nǐ)零下Compact 超低溫(wēn)室

Mini Subzero 支持覆蓋(gài)超(chāo)低(dī)溫(wēn)範圍的較(jiào)寬(kuān)溫度(dù)範(fàn)圍（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高溫範(fàn)圍(wéi)（+ 100℃/+ 180℃）。該(gāi)滅(miè)菌(jūn)室(shì)還提供(gōng)遠(yuǎn)程(chéng)監(jiān)測和(hé)操作(zuò)。

內部容積(jī) (L)

特征

該係(xì)統(tǒng)可用(yòng)於評(píng)估特定溫度(dù)環(huán)境下電容器和(hé)各種材料(liào)的靜電容量(liáng) (C)，損耗因(yīn)子 (D) 和(hé)阻抗 (Z)。

☆ 最多64個通道(dào)的(dí)自動測量(liáng)

該(gāi)係統(tǒng)可以(yǐ)測量不同溫(wēn)度環(huán)境下(xià)的靜電(diàn)容量(liáng) (C)，損(sǔn)耗因子 (D) 和阻抗(kàng) (Z) 的(dí)多通(tōng)道。

您(nín)可(kě)以(yǐ)選(xuǎn)擇(zé)8個通(tōng)道(dào)的(dí)倍(bèi)數(shù)，最多(duō)64個(gè)通(tōng)道。

☆ 圖形(xíng)功能允許實(shí)時查看(kàn)測量結果

收集(jí)的(dí)數據，包括不(bù)同(tóng)溫(wēn)度，頻率(shuài)和時間下(xià)的(dí)電特性值(zhí)和變化率(shuài)，可以通過各種圖(tú)形函數進行實時審查(chá)。

☆ 可從不(bù)同測試(shì)模式選擇

溫度(dù)特性評價試(shì)驗，恒(héng)定(dìng)運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。

<溫度特性評(píng)估(gū)測(cè)試(shì)>

在(zài)此(cǐ)測試模(mó)式下(xià)，自動(dòng)記(jì)錄特(tè)性(xìng)數據(jù)，並與(yǔ)溫度變化同(tóng)步(bù)，最多40步。

<持續(xù)運行(háng)測試>

該(gāi)測試模式(shì)測(cè)量以下參(cān)數的(dí)變(biàn)化(huà)特(tè)定(dìng)中隨時間(jiān)推移(yí)的(dí)特征自動(dòng)記錄數據(jù)。

<頻率特(tè)性評價試驗>

該試驗模式(shì)在特(tè)定溫(wēn)度(dù)環境下(xià)改(gǎi)變(biàn)頻(pín)率的同時，自動記(jì)錄不同(tóng)頻率(shuài)下(xià)的特性數據。測(cè)試可(kě)與溫(wēn)度特(tè)性評價(jià)測(cè)試或(huò)恒(héng)定運行(háng)測試相結合。

☆ 多(duō)種可選(xuǎn)夾(jiā)具(jù) 適(shì)用於(yú)不(bù)同(tóng)的(dí)試驗樣本(běn)（可(kě)選(xuǎn)）

除了(liǎo) SMD 組件的(dí)專用夾具外，我(wǒ)們還(huán)提(tí)供了(liǎo)根據離散設(shè)備形(xíng)狀(zhuàng)定(dìng)製的夾(jiā)具。

應(yīng)用程序

l 電(diàn)容(róng)器

l 靜(jìng)電容量 (C)

l 損失(shī)因(yīn)子(zǐ) (D)

l 阻抗的(dí)溫(wēn)度特(tè)性 (Z)

l 頻(pín)率特征(zhēng)

l 電子材料(liào)

l 印刷(shuā)電路板

l 通量

l 絕緣材料（樹脂(zhī)，薄(báo)膜(mó)等）

l 介(jiè)電材料（鈦，陶(táo)瓷(cí)，鉭，鋁電(diàn)解(jiě)材料等）

①係(xì)統(tǒng)控製(zhì)器(qì)

用(yòng)於(yú)登記(jì)係統(tǒng)管理的(dí)計(jì)算機和(hé)監(jiān)視器測試條件，檢查工作 狀態，並進(jìn)行數(shù)據處理。

②不(bù)間斷電源(yuán)

係(xì)統控(kòng)製(zhì)器的(dí)備用(yòng)電源(yuán)。

③ RS-232C

操(cāo)作員(yuán)控(kòng)製(zhì)並(bìng)監測來自(zì)係統控(kòng)製(zhì)器的(dí)環境(jìng)測(cè)試係統。

④ 掃(sǎo)描裝(zhuāng)置

該(gāi)裝置測量靜電容量(liáng) (C)，損(sǔn)耗因子(D) 和(hé)帶(dài)有(yǒu)測(cè)量電纜前(qián)沿的標準(zhǔn)8通道(dào)的(dí)阻抗 (Z)。

您(nín)可(kě)以(yǐ)將每(měi)台(tái)器械的通(tōng)道數增加到64個，增(zēng)量為(wéi)8個通道(dào)。

⑤ 測(cè)量(liáng)電纜

由(yóu)聚(jù)四氟乙(yǐ)烯製(zhì)成的同軸電纜連接(jiē)到樣(yàng)品或(huò)試驗(yàn)係統內部夾具。

⑥ 繼電器(qì)單元

該裝置將測量(liáng)電(diàn)纜連(lián)接(jiē)到樣本(běn)上或測試係統(tǒng)內部(bù)夾具至掃(sǎo)描(miáo)儀裝置(zhì)。繼電(diàn)器(qì)單元使(shǐ)連接變得(dé)容(róng)易(yì)。

⑦ 樣(yàng)品連接(jiē)夾(jiā)具（可選）

用(yòng)於(yú)連接(jiē) SMD 組件(jiàn)或(huò)離散設(shè)備的(dí)卡(qiǎ)扣(kòu)式(shì)夾(jiā)具。

⑧ LCR儀表

該儀表測(cè)量(liáng)靜電(diàn)容(róng)量(liáng) (C)，損(sǔn)耗(hào)因子 (D)，和阻抗(Z)。

⑨ 絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀(yí)（選配(pèi)）

該(gāi)測(cè)試人(rén)員(yuán)測量絕(jué)緣(yuán)電阻(zǔ)。您(nín)可以將每台器械的通道(dào)數增加到(dào)64個(gè)，增量為8個通道。

⑩RS-485（可(kě)選）

從(cóng)環(huán)境測(cè)試(shì)係統(tǒng)選(xuǎn)項菜(cài)單(dān)，RS-485可(kě)將(jiāng)通(tōng)信(xìn)選(xuǎn)作係(xì)統控製器(qì)和(hé)環境測試(shì)係(xì)統(tǒng)的通信協議。

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