多通道電(diàn)流(liú)矩陣(zhèn)模塊 電阻率/漏(lòu)電流測試

產品介(jiè)紹：

 多通(tōng)道(dào)電(diàn)流(liú)切換矩陣(zhèn)模塊(kuài)是一種(zhǒng)模塊(kuài)化(huà)，高密度的(dí)電流控(kòng)製解(jiě)決方(fāng)案(àn)，支持(chí)獨立控製多(duō)路(lù)電(diàn)流通道(dào)（典型8~128通道(dào)），可(kě)同時輸(shū)出/吸(xī)入(rù)精確可調的直(zhí)流電流(liú)。通過優良的矩陣(zhèn)開(kāi)關架(jià)構(gòu)，用(yòng)戶可自由配(pèi)置各(gè)通(tōng)道的(dí)電(diàn)流值（pA至mA 級），工作模式（恒(héng)流/脈(mài)衝/掃(sǎo)描(miáo)）及(jí)通斷(duàn)時(shí)序，適用(yòng)於並(bìng)行(háng)化測試(shì)，自動化產綫及復雜實驗(yàn)場景。 高的精度多通道電流切換矩陣(zhèn)模塊是專為要(yào)求(qiú)苛刻(kè)的微弱(ruò)電(diàn)流（低(dī)至皮安(ān)級）和中(zhōng)等(děng)電流(liú)（高達(dá)100mA）信(xìn)號路徑切換而設(shè)計的核(hé)心組(zǔ)件。它本(běn)身不(bù)進行電流(liú)測(cè)量，而是(shì)為您高(gāo)的精度靜電(diàn)計（如(rú) Keithley 6517B, 6430, 6485/6487）或(huò)源測(cè)量單(dān)元(yuán)提供可靠(kào)，低噪聲(shēng)，低(dī)熱電動勢（EMF）的通道擴(kuò)展能(néng)力，將單台昂貴的高的精度(dù)儀(yí)表擴展(zhǎn)為高效的(dí)多通(tōng)道自動化測(cè)試(shì)係(xì)統。無(wú)論是研(yán)發(fā)實驗室(shì)的材料特性分析(xī)，還(huán)是(shì)生產(chǎn)綫上半導體(tǐ)器(qì)件的批量(liáng)測試(shì)，都是提(tí)升測試效率，保證(zhèng)數據(jù)一(yī)致(zhì)性(xìng)的(dí)理想選擇(zé)。

多通(tōng)道電流矩陣模(mó)塊 電阻(zǔ)率/漏(lòu)電流(liú)測試(shì)產(chǎn)品(pǐn)特點(diǎn)：

01高(gāo)密度(dù)集(jí)成：單機(jī)箱支(zhī)持(chí)較(jiào)高128通道，節(jié)省90%設(shè)備(bèi)空間，降低機櫃(guì)與綫纜成本。

02毫秒級切(qiē)換(huàn);高(gāo)速矩陣開關(guān)（20ms切換(huàn)時間）支(zhī)持(chí)動態負載(zǎi)切換與(yǔ)高速(sù)掃描測(cè)試。

03模塊化擴(kuò)展(zhǎn)：支持(chí)熱(rè)插(chā)拔(bá)通道卡(qiǎ)，可(kě)按需擴展通道(dào)數(shù)（較(jiào)小(xiǎo)8通(tōng)道起，以8為增量擴(kuò)展）。

04信號(hào)完(wán)整(zhěng)性：低(dī)電容設計(jì)，支持(chí)快(kuài)速(sù)建立穩(wěn)定(dìng)的(dí)測量(liáng)信(xìn)號，減少(shǎo)測(cè)試時間(jiān)。

05 寬電流(liú)範圍(wéi)：精(jīng)心設計的(dí)信(xìn)號路(lù)徑(jìng)確保(bǎo)設(shè)備在(zài) ±1 pA 至(zhì) ±100 mA 的寬動態範(fàn)圍(wéi)內(nèi)切換(huàn)信號時，引入的幹擾(rǎo)和(hé)誤差極小(xiǎo)，滿足(zú)從超高阻值(zhí)材料(liào)漏電測試到一(yī)般(bān)電子元件(jiàn)特性分(fēn)析(xī)的需(xū)求(qiú)。

  06 精度與(yǔ)低(dī)噪(zào)聲：超(chāo)低熱電(diàn)動(dòng)勢 (< 1 μV) 設計，消(xiāo)除熱電(diàn)效應對微弱直流(liú)測(cè)量(liáng)的(dí)影響(xiǎng)。極(jí)低(dī)漏電(diàn)流(liú)路徑(jìng) (< 1 fA @ 典(diǎn)型值)，確保(bǎo)pA 級微弱電流(liú)測(cè)量的(dí)準(zhǔn)確性(xìng)。 優(yōu)化的(dí)屏蔽與布(bù)綫(xiàn)設計，較大限度降低串擾和(hé)外(wài)部(bù)噪聲(shēng)幹(gān)擾(rǎo)。

應(yīng)用(yòng)領域(yù)

l 高(gāo)阻材料與(yǔ)元件測試(shì)： 絕緣(yuán)材料(liào)，陶瓷，薄(báo)膜，高阻(zǔ)值電阻(zǔ)的電(diàn)阻率/漏(lòu)電(diàn)流(liú)自動化測量。

l 半導體(tǐ)器件特(tè)性分析： 晶體管/二極(jí)管(guǎn)漏(lòu)電流 (Ioff, Gate Leakage), 電容漏電(diàn)，晶圓級(jí)可(kě)靠(kào)性測(cè)試 (WLR)。 傳感器測試(shì)與標定(dìng)： 光電(diàn)二極管暗電流，電化學/生物傳(chuán)感器電(diàn)流，輻射探測(cè)器電流(liú)。

l 電池(chí)與儲能測(cè)試： 電(diàn)池(chí)自放電(diàn)電(diàn)流監(jiān)測，模(mó)組/Pack絕(jué)緣電阻測(cè)試。

l 靜電(diàn)與(yǔ)ESD研(yán)究： 防(fáng)靜(jìng)電材(cái)料電(diàn)阻率測(cè)量，靜電(diàn)荷(hé)衰(shuāi)減測(cè)試。 光(guāng)電與光伏(fú)器(qì)件(jiàn)測(cè)試(shì)： 太陽(yáng)能電(diàn)池暗(àn)電(diàn)流(liú)，LED/OLED微(wēi)弱漏(lòu)電(diàn)流(liú)，探測(cè)器陣列測試(shì)。

l 環境監測與(yǔ)科(kē)學儀器： 電離室(shì)電(diàn)流(liú)采(cǎi)集(jí)，多(duō)通(tōng)道(dào)微弱信號切換。 多(duō)器件並(bìng)行(háng)參數測試： 配(pèi)合源(yuán)表進行(háng)批量器(qì)件(jiàn)的I-V掃(sǎo)描(miáo)，導通電(diàn)阻測(cè)量(liáng)等。

應(yīng)用案(àn)例

可(kě)以(yǐ)構建出極其(qí)*的(dí)高(gāo)通(tōng)道(dào)數，高的(dí)精度(dù)微弱電流(liú)/高阻(zǔ)自動(dòng)化(huà)測(cè)試係統。

• 將單(dān)台昂(áng)貴的(dí)高的精(jīng)度靜(jìng)電計擴(kuò)展(zhǎn)為多(duō)通道(dào)測(cè)試係統，顯著提(tí)高(gāo)設(shè)備利用(yòng)率和測試(shì)效率(shuài)。

• 實現無人(rén)值(zhí)守的(dí)長(cháng)時間(jiān)，多(duō)樣品連續測試，保(bǎo)證數據(jù)一致性(xìng)和可(kě)比性(xìng)。

• 精確(què)捕(bǔ)捉 pA 級(jí)甚至 fA 級(jí)的(dí)微(wēi)弱(ruò)電(diàn)流變(biàn)化(huà)，滿較(jiào)苛刻的(dí)測(cè)試要求(qiú)。

主要(yào)技(jì)術指標

l 產(chǎn)品型號：HC-PAX

l 通(tōng)道(dào)數(shù)量(liáng):基(jī)礎(chǔ)單元8通道，單機箱128通道，可拓(tuò)展8機箱1024通道(dào)

l 電(diàn)流(liú)範圍(wéi):±1pA ~ ±100mA

l 電(diàn)流(liú)接口：分(fēn)口(kǒu)是(shì)8芯(xīn)雷莫，總口(kǒu)是BNC

l 通信接口:RS485

l 外形尺寸:長×寬×高 44cm×13.5cm×30cm（不含(hán)所有凸(tū)起）

l 供(gōng)電要(yào)求:100-240V AC, 50/60Hz，單機箱較(jiào)大(dà)60W

l 工作溫度(dù)10℃ ~ +50℃

l 工作(zuò)濕(shī)度濕度40%~60% RH 無冷凝