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多通道(dào)離(lí)子(zǐ)遷移(yí)評(píng)估(gū)係(xì)統(tǒng)

簡要(yào)描述：華測儀(yí)器多(duō)通道(dào)離子遷移(yí)評(píng)估(gū)係(xì)統離子(zǐ)遷移(yí)是(shì)指電(diàn)路(lù)板(bǎn)上的金屬如銅，銀(yín)，錫(xī)等在一定條(tiáo)件(jiàn)下(xià)發生離子(zǐ)化並(bìng)在電場作用(yòng)下通過(guò)絕緣層向(xiàng)另(lìng)一(yī)極(jí)遷移而導致絕緣(yuán)性能(néng)下(xià)降。

產(chǎn)品型號：Huace
廠商(shāng)性(xìng)質(zhì)：生(shēng)產廠家(jiā)
更(gēng)新(xīn)時間(jiān)：2026-03-19
訪(fǎng) 問(wèn) 量：475

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高(gāo)壓(yā)直(zhí)流(liú)電導(dǎo)測試係統原(yuán)位(wèi)拉(lā)伸台原(yuán)位(wèi)光(guāng)學冷熱台(tái) 高(gāo)溫(wēn)油浴(yù)表麵體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)率測(cè)試儀非接觸(chù)式靜電電壓(yā)表多功能任意(yì)波高壓薄(báo)膜(mó)極化裝置(zhì) 真(zhēn)空晶圓退火爐(lú) 電阻分壓器(qì) 高(gāo)壓(yā)探頭低(dī)頻(pín)，變頻電壓擊穿(chuān)試驗儀絕緣(yuán)電阻測試係統(tǒng) 多(duō)通(tōng)道(dào)電(diàn)流(liú)矩(jǔ)陣模塊高壓(yā)功(gōng)率(shuài)放大器鐵(tiě)電分析儀塞(sāi)貝克(kè)係(xì)數電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀(yí) 先進功能(néng)材(cái)料電(diàn)測(cè)綜(zōng)合(hé)測試係(xì)統(tǒng)- 絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)劣化（離子(zǐ)遷移）評估係統儲(chǔ)能新材(cái)料(liào)電學(xué)綜合(hé)測(cè)試(shì)係統半導(dǎo)體封裝(zhuāng)材(cái)料真(zhēn)空(kōng)探針台(tái) 空間電荷(hé)測試係統電容器(qì)溫(wēn)度特(tè)性評(píng)估係統高頻高壓絕緣(yuán)電阻(zǔ)，介電多通道(dào)極(jí)化裝置(zhì) 高(gāo)低溫(wēn)冷熱台測(cè)試係統絕緣電(diàn)阻率(shuài)測(cè)試(shì)儀(yí) 電(diàn)壓(yā)擊穿測定(dìng)儀(yí) 50點(diǎn)耐壓測試(shì)儀(yí) 耐電(diàn)弧試(shì)驗儀(yí) 探針(zhēn)台(tái) 漏電(diàn)起痕試驗(yàn)儀(yí) 多通道介(jiè)電與(yǔ)電阻(zǔ)測(cè)試係統

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詳細介(jiè)紹(shào)

品(pǐn)牌	華(huá)測儀器	產(chǎn)地(dì)類別	國產
應用(yòng)領(lǐng)域(yù)	能(néng)源(yuán),航空(kōng)航天,汽車及零部件,電(diàn)氣,綜合

華測(cè)儀(yí)器多通道離子遷(qiān)移評(píng)估(gū)係統

價(jià)格僅(jǐn)供參考，如(rú)需獲(huò)取更(gēng)詳盡(jìn)的(dí)產(chǎn)品技術規格(gé)書，定製方案或應(yīng)用案(àn)例，歡迎致電我司(sī)技術(shù)工程師

多(duō)通(tōng)道離(lí)子(zǐ)遷移評(píng)估係統(tǒng)由(yóu)華(huá)測儀器生產，離(lí)子(zǐ)遷移(yí)是指(zhǐ)電(diàn)路(lù)板上的金屬如銅，銀，錫等(děng)在一(yī)定(dìng)條件下發(fā)生離子化(huà)並在(zài)電場(cháng)作(zuò)用下(xià)通(tōng)過(guò)絕緣層向另(lìng)一極(jí)遷移(yí)而導(dǎo)致絕(jué)緣性能(néng)下降，它(tā)通(tōng)過(guò)在印(yìn)刷(shuā)電(diàn)路(lù)板(bǎn)上施加(jiā)固定(dìng)的直(zhí)流(liú)電壓，並經過(guò)長(cháng)時間的(dí)測試（1~ 1000小(xiǎo)時(shí)可按需定製(zhì)），觀(guān)察(chá)綫路(lù)是否有瞬間短路(lù)的(dí)現象(xiàng)發生，並記錄電(diàn)阻值(zhí)的變化狀況(kuàng)，從而評(píng)估絕緣材(cái)料(liào)的(dí)劣化(huà)程度和(hé)離子遷(qiān)移現象的(dí)影響。

技術(shù)指標

測(cè)量電壓:100 ~ 1500V（可定(dìng)製(zhì)）

測試通(tōng)道(dào):128通(tōng)道(dào)（可(kě)定(dìng)製(zhì)至高(gāo)960通道(dào)）

測(cè)試時長:可連續運行(háng)1500小(xiǎo)時(shí)

測試(shì)溫(wēn)度(dù):85℃（可定(dìng)製）

測(cè)試(shì)濕度:85%（可定製）

測(cè)量範(fàn)圍(wéi):1×10^5 ~ 1×10^15Ω

極化(huà)電壓:100 ~ 1500V（可定製）

掃描(miáo)周期(qī):至(zhì)快2分鐘（128通道）

應(yīng)用(yòng)領(lǐng)域(yù)

電(diàn)子材(cái)料：印BGA，CSP等節(jié)距(jù)IC封(fēng)裝件；

封裝材(cái)料(liào)：助(zhù)焊劑(jì)，印(yìn)刷電(diàn)路(lù)板(bǎn)，光刻(kè)膠，釺料，樹(shù)脂，導(dǎo)電(diàn)膠(jiāo)等有關印(yìn)刷電路板，密(mì)度高的封裝材料(liào)；

電子(zǐ)元器件(jiàn)：電容，連接器等其(qí)他(tā)電子(zǐ)元(yuán)器件及材料(liào)；

絕(jué)緣(yuán)材料：各種絕(jué)緣材料(liào)的吸濕性(xìng)特性評估(gū)。

多(duō)通道(dào)離子(zǐ)遷移評估係(xì)統(tǒng)

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