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熱電材料Seebeck 係(xì)數(shù)電(diàn)阻測(cè)試儀

簡要(yào)描述：華測儀器HC-RD-1100熱電(diàn)材料(liào)Seebeck 係(xì)數電(diàn)阻測試儀測量半導體，方(fāng)鈷(gǔ)礦等熱電(diàn)材(cái)料(liào)的(dí)塞貝克係(xì)數與電導率，計算(suàn)ZT值(熱電(diàn)優值)；評估(gū)材(cái)料(liào)在高溫(wēn)或(huò)特定(dìng)環(huán)境(jìng)(真空/還原(yuán)氣氛)下的(dí)熱電(diàn)轉(zhuǎn)換效(xiào)率。

產品型號：HC-RD-1100
廠(chǎng)商(shāng)性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更(gēng)新(xīn)時(shí)間(jiān)：2026-03-20
訪(fǎng) 問(wèn) 量(liáng)：542

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高壓直(zhí)流(liú)電導(dǎo)測(cè)試(shì)係統原位拉(lā)伸台(tái) 原(yuán)位(wèi)光學冷熱(rè)台(tái) 高溫油浴表(biǎo)麵體(tǐ)積(jī)電阻率(shuài)測(cè)試(shì)儀非接觸式靜電電壓(yā)表多功(gōng)能(néng)任(rèn)意波(bō)高(gāo)壓(yā)薄膜(mó)極化裝置真空晶(jīng)圓退(tuì)火(huǒ)爐電阻分壓器(qì) 高壓探頭(tóu) 低頻，變頻電壓(yā)擊穿(chuān)試驗儀(yí) 絕緣電阻測試係統多通道電(diàn)流(liú)矩(jǔ)陣(zhèn)模塊(kuài) 高(gāo)壓(yā)功率(shuài)放(fàng)大(dà)器鐵(tiě)電(diàn)分析儀塞(sāi)貝(bèi)克(kè)係數電阻測(cè)試(shì)儀先(xiān)進功能材(cái)料電(diàn)測綜(zōng)合(hé)測試(shì)係統- 絕緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(huà)（離(lí)子(zǐ)遷(qiān)移）評估(gū)係統儲(chǔ)能新材(cái)料電學(xué)綜合(hé)測試係統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝(zhuāng)材料真(zhēn)空探針台空間電(diàn)荷測試係統電容(róng)器溫度(dù)特(tè)性評估係(xì)統高(gāo)頻高壓絕緣電阻，介電多通道極化裝置(zhì) 高低溫(wēn)冷(lěng)熱台(tái)測試(shì)係統絕緣電阻率測試儀電(diàn)壓擊穿測(cè)定儀(yí) 50點耐壓(yā)測試(shì)儀(yí) 耐電(diàn)弧試(shì)驗(yàn)儀(yí) 探針台漏(lòu)電(diàn)起痕(hén)試驗儀(yí) 多通(tōng)道介(jiè)電與電阻測試(shì)係統

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詳細(xì)介紹

品牌(pái)	華(huá)測儀器	產(chǎn)地類別	國產
應(yīng)用領域	能(néng)源(yuán),航空航(háng)天,汽(qì)車及零(líng)部件(jiàn),電氣,綜合(hé)

HC-RD-1100熱電材料(liào)Seebeck 係數電(diàn)阻測試(shì)儀(yí)

價(jià)格(gé)僅供(gōng)參(cān)考(kǎo)，如需獲(huò)取更詳盡(jìn)的產品(pǐn)技術規格書，定製方案或應用(yòng)案例，歡(huān)迎(yíng)致電我司技(jì)術工(gōng)程(chéng)師

HC-RD-1100熱電材料Seebeck 係數電(diàn)阻(zǔ)測試儀由華(huá)測儀(yí)器(qì)生產，是一(yī)款簡單易(yì)用的材料表征(zhēng)儀器，該(gāi)產品具有寬(kuān)溫區(qū)覆(fù)蓋，高(gāo)適應(yīng)性，多(duō)功(gōng)能集成等(děng)特點，主(zhǔ)要(yào)服務於(yú)熱電材(cái)料研發，新能(néng)源器件測試及(jí)半導體(tǐ)性能(néng)分(fēn)析(xī)等(děng)領域。

測試(shì)軟件

該(gāi)軟件集(jí)成(chéng)計(jì)算機控製(zhì)係統(tǒng)，適配Windows 10/11操作(zuò)係(xì)統，可自(zì)動(dòng)完(wán)成信(xìn)號(hào)激勵(lì)，數據采集(jí)，實時(shí)處(chǔ)理及(jí)結(jié)果輸出(chū)全流(liú)程，並通過可視(shì)化界麵直(zhí)觀呈現測試成果，提升了操(cāo)作便捷(jié)性(xìng)與(yǔ)測(cè)試(shì)效率。

產(chǎn)品(pǐn)參數(shù)

溫度(dù)範圍(wéi):RT~800/1100/1200℃

測(cè)量(liáng)原(yuán)理(lǐ)：塞(sāi)貝克係數:靜態直(zhí)流法;電(diàn)阻率:四端法

氣(qì)氛:惰性(xìng)，氧化(huà)，還原，真(zhēn)空(kōng)

樣品支架(jià):三明(míng)治結(jié)構(gòu)夾(jiā)於兩(liǎng)電極(jí)之(zhī)間

樣品尺寸(圓柱(zhù)形或棱柱形):2至5mm(麵寬)，23mm，φ6mm，23mm

樣(yàng)品尺(chǐ)寸(cùn)(圓盤狀(zhuàng)):10，12.7，25.4 mm

可(kě)調探(tàn)頭距(jù)離:4，6，8mm

塞貝克係(xì)數測(cè)量(liáng)範圍(wéi):1~ 2500uV/K準確(què)度(dù)±7%;重復(fù)性±3%

電(diàn)導(dǎo)率(shuài)測量(liáng)範圍(wéi):0.01~2*10⁵s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再(zài)現性(xìng)±3%

電源(yuán):0~ 1A，具有(yǒu)長期穩定性(xìng)

電極材(cái)料:鎳(-100至(zhì)500“C)/鉑(-100至+1500°C)

熱(rè)電(diàn)偶:K/S/C型(xíng)

熱(rè)電(diàn)材料Seebeck 係數(shù)電阻測(cè)試(shì)儀

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