
當(dāng)前位置:首(shǒu)頁 > 產品(pǐn)中(zhōng)心 > 新(xīn)品(pǐn)推(tuī)薦 > 絕緣(yuán)電阻劣(liè)化(離子(zǐ)遷(qiān)移)評(píng)估係(xì)統(tǒng) > Huace介(jiè)質絕緣性(xìng)能(néng)劣化(huà)評(píng)估測試(shì)係統簡要(yào)描(miáo)述:華測儀器(qì)介質(zhì)絕(jué)緣(yuán)性(xìng)能劣(liè)化評估測(cè)試係(xì)統通過在印刷(shuā)電路板上(shàng)施(shī)加(jiā)固(gù)定(dìng)的直流電壓(yā),評估絕緣(yuán)材料的劣化程度和(hé)離子遷移現象的(dí)影(yǐng)響(xiǎng)。
產(chǎn)品(pǐn)分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介(jiè)紹
| 品(pǐn)牌(pái) | 華(huá)測(cè)儀器 | 產地(dì)類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領域(yù) | 能源,航空航(háng)天,汽車(chē)及零部件(jiàn),電氣,綜合(hé) |
華測儀(yí)器(qì)介質(zhì)絕緣性能劣(liè)化評(píng)估測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)
價格(gé)僅供參(cān)考,如需獲(huò)取(qǔ)更(gēng)詳盡的產品技術規格(gé)書,定(dìng)製(zhì)方案或應用案例,歡迎致電我司技術工(gōng)程(chéng)師
介(jiè)質絕緣(yuán)性能劣(liè)化(huà)評估測試係統由(yóu)華(huá)測儀(yí)器生(shēng)產(chǎn),是一種信賴性試(shì)驗(yàn)設備,它通過在印刷電路板(bǎn)上(shàng)施(shī)加固(gù)定(dìng)的(dí)直流電壓,並經過(guò)長(cháng)時間的測(cè)試(1~1000小時(shí)可按需(xū)定(dìng)製),觀察綫路(lù)是否有(yǒu)瞬(shùn)間(jiān)短路(lù)的(dí)現象(xiàng)發生,並(bìng)記錄(lù)電阻值的(dí)變化狀(zhuàng)況,從(cóng)而(ér)評估絕(jué)緣材(cái)料的劣化程度和(hé)離子(zǐ)遷(qiān)移現象(xiàng)的(dí)影響(xiǎng)。
產(chǎn)品參(cān)數
技術指標
測量電壓:100 ~ 1500V(可(kě)定(dìng)製)
測試通(tōng)道(dào):128通道(dào)(可定製(zhì)至高960通(tōng)道)
測試時長(cháng):可(kě)連(lián)續(xù)運行1500小時
測試(shì)溫度(dù):85℃(可定製)
測試濕度:85%(可定製(zhì))
測量範(fàn)圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化(huà)電壓:100 ~ 1500V(可定製)
掃描(miáo)周(zhōu)期(qī):至快2分(fēn)鐘(128通道(dào))
環(huán)境試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)(可定製(zhì))
應(yīng)用領(lǐng)域(yù)
電子(zǐ)材料:印BGA,CSP等(děng)節(jié)距(jù)IC封裝件(jiàn);
封裝(zhuāng)材料(liào):助(zhù)焊劑(jì),印(yìn)刷(shuā)電(diàn)路(lù)板,光(guāng)刻膠(jiāo),釺料,樹脂,導電(diàn)膠(jiāo)等有關印(yìn)刷電(diàn)路板,密度高的(dí)封(fēng)裝(zhuāng)材料;
半導(dǎo)體(tǐ):PPV,NDI,OFETs,OSCs,OLEDs等(děng);
電子(zǐ)元器件:電容(róng),連接(jiē)器(qì)等(děng)其(qí)他(tā)電子元器件及材料(liào);
絕(jué)緣材(cái)料(liào):各種(zhǒng)絕(jué)緣(yuán)材料的吸濕性特(tè)性評(píng)估。

產(chǎn)品咨(zī)詢

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