
當前位(wèi)置(zhì):首頁(yè) > 產品(pǐn)中心(xīn) > 新(xīn)品(pǐn)推薦(jiàn) > 絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(離(lí)子遷移(yí))評估係(xì)統 > Huace多通道(dào)離子遷移(yí)絕(jué)緣(yuán)電阻監(jiān)測(cè)係(xì)統簡(jiǎn)要(yào)描述:華測(cè)儀器(qì)多(duō)通(tōng)道(dào)離子(zǐ)遷(qiān)移絕緣(yuán)電阻監測(cè)係統(tǒng)是指電(diàn)路板(bǎn)上(shàng)的(dí)金(jīn)屬如(rú)銅,銀,錫等(děng)在一(yī)定條(tiáo)件(jiàn)下(xià)發生離子化並(bìng)在(zài)電場(cháng)作用(yòng)下通(tōng)過絕(jué)緣層向另一(yī)極(jí)遷(qiān)移(yí)而(ér)導致(zhì)絕緣(yuán)性能(néng)下(xià)降。
產品(pǐn)分(fēn)類(lèi)
Product Category相(xiāng)關文章(zhāng)
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| 品牌(pái) | 華測儀器 | 產地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領(lǐng)域(yù) | 能源(yuán),航空航(háng)天,汽(qì)車及(jí)零部件,電氣(qì),綜(zōng)合(hé) |
華測儀(yí)器多通(tōng)道(dào)離(lí)子(zǐ)遷(qiān)移絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)監測係統
價格僅供(gōng)參考(kǎo),如需獲取更詳盡(jìn)的產品(pǐn)技(jì)術規(guī)格書,定製方(fāng)案或應用案例(lì),歡(huān)迎致(zhì)電(diàn)我司技術(shù)工程師(shī)
多(duō)通道離子(zǐ)遷移(yí)絕緣電阻監測係統由華測(cè)儀器(qì)生產(chǎn),是一種信(xìn)賴性(xìng)試(shì)驗(yàn)設備(bèi),它通過在印刷(shuā)電(diàn)路(lù)板上(shàng)施(shī)加固定的(dí)直(zhí)流電壓,並經過長時(shí)間的測試(1~1000小(xiǎo)時可(kě)按(àn)需定製),觀(guān)察綫路是否有瞬間(jiān)短路(lù)的(dí)現象(xiàng)發生(shēng),並記錄(lù)電(diàn)阻值的變(biàn)化(huà)狀況,從而(ér)評估(gū)絕緣材(cái)料的劣化程(chéng)度(dù)和(hé)離(lí)子遷移現象(xiàng)的影響(xiǎng)。
技術指標(biāo)
1,測(cè)量(liáng)電(diàn)壓(yā):100 ~ 1500V(可定製(zhì))
2,測試通道(dào):128通(tōng)道(dào)(可定製至高960通道)
3,測試時(shí)長(cháng):可連續運(yùn)行1500小時
4,測試(shì)溫(wēn)度: 85℃(可定製)
5,測試(shì)濕度(dù): 85%(可(kě)定製)
6,測(cè)量(liáng)範(fàn)圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
7,極(jí)化(huà)電(diàn)壓(yā):100 ~ 1500V(可(kě)定製(zhì))
8,掃(sǎo)描(miáo)周(zhōu)期:至(zhì)快 2分鐘(128通道)
應用領(lǐng)域(yù)
電(diàn)子材(cái)料(liào):印BGA,CSP等節(jié)距IC封裝(zhuāng)件(jiàn);
封裝材(cái)料(liào):助焊(hàn)劑,印刷(shuā)電路板(bǎn),光刻(kè)膠(jiāo),釺(qiān)料,樹(shù)脂(zhī),導(dǎo)電膠(jiāo)等有(yǒu)關(guān)印刷(shuā)電路(lù)板,密度(dù)高的封裝材料;
半(bàn)導體:PPV,NDI,OFETs,OSCs,OLEDs等;
電(diàn)子(zǐ)元器(qì)件(jiàn):電容,連(lián)接器等(děng)其他電(diàn)子元(yuán)器(qì)件(jiàn)及(jí)材料;
絕緣(yuán)材料:各(gè)種絕(jué)緣材料(liào)的吸濕(shī)性特(tè)性評(píng)估;

產(chǎn)品(pǐn)咨(zī)詢(xún)

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