功能材(cái)料(liào)電學綜(zōng)合(hé)測試係(xì)統(tǒng)

鐵電參(cān)數測(cè)試功(gōng)能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態電滯回(huí)綫測(cè)試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回(huí)綫(xiàn)測試；

PUND 脈衝測試；Fatigue 疲(pí)勞測(cè)試；Retention保持(chí)力(lì)；

Imprint印(yìn)跡(jì)；Leakage current漏電流(liú)測(cè)試(shì)；Thermo Measurement 變(biàn)溫(wēn)測試功能。

壓(yā)電參數(shù)測試(shì)功能(néng)

可進(jìn)行壓電陶瓷的(dí)準靜態d33等(děng)參數測(cè)試，也(yě)可(kě)通(tōng)過高壓放大器(qì)與(yǔ)位(wèi)移傳(chuán)感(gǎn)器（如激(jī)光(guāng)幹涉(shè)儀(yí)）動(dòng)態(tài)法測量壓(yā)電(diàn)係數測量。

熱(rè)釋電(diàn)測(cè)試功能

主要用於(yú)薄(báo)膜及塊(kuài)體材(cái)料變溫(wēn)的熱(rè)釋電測(cè)試(shì)。采用電流法進行測(cè)量材(cái)料(liào)的熱釋(shì)電(diàn)電流，熱(rè)釋電係數，剩餘(yú)極化(huà)強度對(duì)溫度和時間(jiān)的曲綫。

薄膜材料(liào)變(biàn)溫範(fàn)圍(wéi)：-196℃到+600℃；

塊體材(cái)料變溫(wēn)範圍(wéi)：室(shì)溫到200℃，室溫到600℃，室(shì)溫(wēn)到(dào)800℃

介電(diàn)溫(wēn)譜(pǔ)測(cè)試功(gōng)能

用(yòng)於(yú)分析(xī)寬頻，高(gāo)低溫(wēn)環境條(tiáo)件下功(gōng)能(néng)材料的阻(zǔ)抗Z，電抗X，導納Y，電導G，電(diàn)納(nà)B，電(diàn)感L，介(jiè)電損(sǔn)耗(hào)D，因數Q等(děng)物理量(liáng)，同(tóng)時(shí)還(huán)可(kě)以(yǐ)分(fēn)析被測(cè)樣品隨(suí)溫(wēn)度，頻率，時(shí)間(jiān)，偏壓(yā)變化(huà)的曲(qū)綫。也可進行壓電(diàn)陶(táo)瓷的(dí)居(jū)裏(lǐ)溫度測試(shì)。

熱(rè)激(jī)發極化電流測(cè)試儀 TSDC

 用於(yú)研(yán)究材功(gōng)材料的一些(xiē)關(guān)鍵因(yīn)素，諸如(rú)分(fēn)子(zǐ)弛豫，相(xiāng)轉變(biàn)，玻璃(lí)化(huà)溫度等(děng)等(děng)，通(tōng)過(guò)TSDC技術(shù)也可以比(bǐ)較直(zhí)觀(guān)的研究材(cái)料(liào)的弛(chí)豫時(shí)間(jiān)，活化(huà)能(néng)等(děng)相(xiāng)關(guān)的(dí)介(jiè)電特(tè)性。

絕(jué)緣電(diàn)阻測試功能

電壓(yā)輸(shū)出與電流測量(liáng)，保障測(cè)試的，適用於(yú)功(gōng)能(néng)材料在高溫(wēn)環(huán)境(jìng)材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例(lì)如：陶瓷(cí)材(cái)料(liào)，矽橡膠測(cè)試，PCB，雲母(mǔ)，四氟材料(liào)電阻測試，也可(kě)做為(wéi)科(kē)研院(yuàn)所新材(cái)料(liào)的高溫(wēn)絕緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)的測試(shì)。

高溫(wēn)四探(tàn)針測試(shì)功(gōng)能

符(fú)合(hé)功能(néng)材(cái)料(liào)導體，半導體材(cái)料(liào)與其它新(xīn)材(cái)料在高(gāo)溫環境下(xià)測(cè)試多(duō)樣(yàng)化(huà)的需求。雙(shuāng)電(diàn)測(cè)數字式(shì)四(sì)探(tàn)針測試儀是(shì)運用(yòng)直綫或方(fāng)形(xíng)四探(tàn)針(zhēn)雙(shuāng)位測量。

塞貝(bèi)克係數(shù)/電阻測量(liáng)係(xì)統

適用(yòng)於(yú)半導(dǎo)體，陶(táo)瓷材(cái)料，金屬(shǔ)材料等(děng)多種材(cái)料的多(duō)種熱電(diàn)分析(xī)；可根據用(yòng)戶需(xū)求配(pèi)置薄膜測量(liáng)選(xuǎn)件，低(dī)溫選件(jiàn)溫度範圍-100℃到200℃，高阻選件高至(zhì)10MΩ。

電卡(qiǎ)效應測試功能

還可以用於測試材料(liào)在寬(kuān)溫(wēn)度(dù)範(fàn)圍(wéi)內(nèi)的電卡。

溫度(dù)範(fàn)圍(wéi)：-50℃到200℃，熱流時間範圍：1s-1000s，大(dà)電(diàn)壓可達(dá)10kV，

波形：用戶自定(dìng)，脈(mài)衝，三角(jiǎo)波，正弦波，任(rèn)意波形(xíng)，預定(dìng)義(yì)波形。

功能材料電學綜合(hé)測試(shì)係(xì)統