華(huá)測儀(yí)器依托多年高壓控製
，測試方麵多年(nián)的(dí)技(jì)術成(chéng)果(guǒ)，an全保(bǎo)護(hù)：增(zēng)加(jiā)TVS保護過壓
，過流
，過溫(wēn)等(děng)技術，an全(quán)與可(kě)靠。軟件(jiàn)設(shè)計(jì)：在測試(shì)功(gōng)能(néng)
，數(shù)據(jù)處理(lǐ)
，操作等人(rén)性化(huà)等方麵(miàn)做(zuò)了大(dà)量(liáng)的(dí)改進(jìn)
；儀(yí)器做(zuò)了大量(liáng)的(dí)測試(shì)對標，進行(háng)檢測計量。保證數據(jù)的(dí)有(yǒu)效(xiào)與真(zhēn)實。

一(yī)
，設備(bèi)優(yōu)勢(shì)

本(běn)套係(xì)統可完(wán)成功能(néng)材料鐵電(diàn)
，壓電(diàn)
，熱(rè)釋電
，介電(diàn)
，絕緣(yuán)電阻(zǔ)等(děng)電學測試(shì)，以(yǐ)及高
，低溫(wēn)環境下的電學(xué)測試(shì)。與電學檢測儀器在通(tōng)訊協(xié)議(yì)
，數據庫處(chǔ)理
，軟件兼容(róng)性做(zuò)了大量的接口。無論在軟(ruǎn)件與(yǔ)硬件方麵(miàn)，使本(běn)套(tào)儀器(qì)在未(wèi)來易(yì)於(yú)擴展。節(jié)省改(gǎi)造時間(jiān)與硬件(jiàn)成本。

二
，研(yán)發優勢(shì)

研(yán)發團隊擁(yōng)有多(duō)領域(yù)
，多學(xué)科的博士
，碩士專(zhuān)業技術人(rén)員(yuán)，他們致(zhì)力(lì)於材料電學(xué)
，電(diàn)力電(diàn)子(zǐ)
，信號
，測(cè)控
，精密加工方麵的研究

三(sān)
，定製(zhì)化服務

電學(xué)試(shì)驗(yàn)室擁有(yǒu)泰(tài)克
，是(shì)德(dé)科技(jì)品牌(pái)大批(pī)檢測(cè)設備
；生(shēng)產(chǎn)製造方麵(miàn)，公司有(yǒu)4軸(zhóu)
，5軸(zhóu)CNC加(jiā)工中(zhōng)心(xīn)
，超精磨床(chuáng)等一(yī)大(dà)批生(shēng)產
，加(jiā)工(gōng)設(shè)備(bèi)，ISO9001質量(liáng)體係(xì)認(rèn)證(zhèng)，在(zài)工(gōng)裝(zhuāng)
，夾具定製化方麵(miàn)方(fāng)便(biàn)
，高效(xiào)。

HCTD3000鐵(tiě)電測試係(xì)統具有(yǒu)寬頻(pín)率(shuài)響應範圍及(jí)寬測試(shì)電(diàn)壓範圍，性(xìng)價比(bǐ)非(fēi)常高，滿(mǎn)足(zú)了(liǎo)用戶(hù)追求高性價的需(xū)求。主機內置電(diàn)壓檔(dàng)位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可選。在±10V的內置電(diàn)壓(yā)下，電(diàn)滯(zhì)回綫(xiàn)測(cè)試頻(pín)率達到2MHz
；在(zài)±500V的內置(zhì)電(diàn)壓下(xià)，電(diàn)滯回綫(xiàn)測試(shì)頻率(shuài)達到±2kHz。此係統還(huán)可(kě)外部擴展電壓(yā)到(dào)4kV和10kV，也(yě)可加(jiā)載選件(jiàn)實(shí)現(xiàn)壓電(diàn)
，熱釋電(diàn)和磁(cí)電測試功(gōng)能(néng)。此係(xì)統包含(hán)Vision基(jī)本(běn)鐵電管理(lǐ)測試(shì)軟件(jiàn)。此外還可(kě)外部擴展(zhǎn)電(diàn)壓(yā)到4kV和10kV，Premier II在(zài)不改(gǎi)變樣品連(lián)接的情(qíng)況(kuàng)下可(kě)執(zhí)行(háng)電(diàn)滯回綫，脈衝(chōng)，漏電(diàn)流，IV和CV測試(shì)，也可加載(zǎi)選件實(shí)現壓電
，熱(rè)釋電
，磁電測試和晶體(tǐ)管特性測試功能。

四(sì)
，標(biāo)準(zhǔn)配置

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態電滯回綫測(cè)試(shì)頻(pín)率
；

PUND 脈(mài)衝測試(shì)：小脈衝寬度2μs，小(xiǎo)上升時(shí)間(jiān)1 μs
；Fatigue 疲勞(láo)測(cè)試,大(dà)頻(pín)率(shuài)300kHz
；

Retention 保持力(lì)測(cè)試(shì)
；

Static Hysterestic 靜(jìng)態(tài)電(diàn)滯(zhì)回綫測(cè)試(shì)
；

Imprint 印跡
；

Leakage current 漏(lòu)電(diàn)流測試：100fA to 1A

=

華(huá)測功(gōng)能材(cái)料電(diàn)學(xué)綜合(hé)測(cè)試(shì)係統

華(huá)測功能材料(liào)電學綜合測試(shì)係統