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功能(néng)材料電學綜(zōng)合(hé)測試(shì)

簡(jiǎn)要描述(shù):功能(néng)材料電(diàn)學綜合測(cè)試係(xì)統可完(wán)成功能(néng)材料(liào)鐵(tiě)電,壓電(diàn),熱釋電,介(jiè)電,絕緣電(diàn)阻(zǔ)等電(diàn)學(xué)測(cè)試,以及高,低溫(wēn)環(huán)境下(xià)的(dí)電學(xué)測試。與(yǔ)電(diàn)學檢(jiǎn)測(cè)儀(yí)器(qì)在(zài)通訊(xùn)協(xié)議,數(shù)據庫(kù)處理,軟(ruǎn)件(jiàn)兼容性做(zuò)了大量(liáng)的接口。無(wú)論(lùn)在軟件(jiàn)與(yǔ)硬件(jiàn)方(fāng)麵(miàn),使本套儀(yí)器在(zài)未來易(yì)於(yú)擴展。節省(shěng)改造時間與硬(yìng)件(jiàn)成(chéng)本。

  • 產品型(xíng)號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生(shēng)產(chǎn)廠家
  • 更(gēng)新(xīn)時(shí)間:2024-05-31
  • 訪  問(wèn)  量(liáng):3332

產品(pǐn)分(fēn)類

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詳細介(jiè)紹

品牌華測儀器產地類別國(guó)產(chǎn)

功(gōng)能材料電學綜合測試(shì)係(xì)統

鐵電參(cān)數(shù)測(cè)試(shì)功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態電滯回綫(xiàn)測試(shì)頻(pín)率(shuài);Static Hysterestic 靜態電滯(zhì)回(huí)綫測試;

PUND 脈(mài)衝測(cè)試(shì);Fatigue 疲勞測試(shì);Retention保(bǎo)持力;

Imprint印跡(jì);Leakage current漏(lòu)電流(liú)測試(shì);Thermo Measurement 變(biàn)溫(wēn)測(cè)試功能。

壓電參數(shù)測試(shì)功(gōng)能(néng)

可進(jìn)行壓(yā)電陶瓷的準靜態d33等(děng)參(cān)數(shù)測試,也可(kě)通(tōng)過高(gāo)壓放(fàng)大(dà)器與位移(yí)傳(chuán)感器(如(rú)激(jī)光幹涉儀)動態(tài)法(fǎ)測(cè)量(liáng)壓電係數(shù)測(cè)量。

功(gōng)能材(cái)料電學綜(zōng)合測(cè)試(shì)

熱釋電(diàn)測(cè)試(shì)功(gōng)能

主要用(yòng)於(yú)薄(báo)膜及塊體材(cái)料變(biàn)溫(wēn)的熱釋電測試。采(cǎi)用電流(liú)法進行測量(liáng)材(cái)料的熱(rè)釋(shì)電(diàn)電流(liú),熱(rè)釋電(diàn)係數,剩餘極化強度(dù)對溫度和時間的曲綫。

薄膜材(cái)料(liào)變(biàn)溫範(fàn)圍:-196℃到+600℃;

塊體材(cái)料變溫範(fàn)圍(wéi):室(shì)溫(wēn)到(dào)200℃,室(shì)溫到600℃,室溫到800

功(gōng)能材料(liào)電學(xué)綜合測試(shì)

介電溫譜(pǔ)測試(shì)功(gōng)能(néng)

用於(yú)分析寬頻,高低溫環境條(tiáo)件(jiàn)下(xià)功(gōng)能材料的阻抗Z,電抗X,導納Y,電導(dǎo)G,電(diàn)納B,電感L,介電損(sǔn)耗(hào)D,因數Q等物(wù)理量,同時(shí)還可(kě)以(yǐ)分(fēn)析(xī)被測(cè)樣(yàng)品隨(suí)溫(wēn)度,頻(pín)率,時(shí)間,偏(piān)壓變化(huà)的曲綫。也(yě)可進(jìn)行壓電(diàn)陶瓷的居(jū)裏(lǐ)溫(wēn)度(dù)測試(shì)。

功(gōng)能(néng)材料電學綜合(hé)測試(shì)

熱激發極化電(diàn)流測(cè)試儀 TSDC

 用(yòng)於研究材(cái)功材(cái)料(liào)的(dí)一(yī)些(xiē)關(guān)鍵因素,諸(zhū)如分子(zǐ)弛(chí)豫,相(xiāng)轉變(biàn),玻璃(lí)化(huà)溫度等等,通過(guò)TSDC技(jì)術也可以(yǐ)比較(jiào)直觀的研(yán)究(jiū)材(cái)料(liào)的弛豫時間,活化能(néng)等相(xiāng)關的(dí)介(jiè)電(diàn)特(tè)性(xìng)。

絕緣(yuán)電阻(zǔ)測(cè)試功(gōng)能

電(diàn)壓輸出與電(diàn)流測量,保障測(cè)試(shì)的,適用(yòng)於(yú)功能材料在(zài)高(gāo)溫環境材料的(dí)數據的檢(jiǎn)測。例如(rú):陶瓷材料,矽橡(xiàng)膠(jiāo)測(cè)試(shì),PCB,雲(yún)母,四氟(fú)材料電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試,也(yě)可做(zuò)為科研(yán)院(yuàn)所(suǒ)新材(cái)料的高(gāo)溫絕(jué)緣電(diàn)阻的測(cè)試。

高(gāo)溫四探針(zhēn)測試(shì)功能

符合(hé)功(gōng)能材料(liào)導體(tǐ),半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料(liào)與其它新材料在高溫(wēn)環(huán)境下測試(shì)多(duō)樣(yàng)化的需求。雙電測數字式四(sì)探針測(cè)試儀(yí)是運用(yòng)直(zhí)綫(xiàn)或(huò)方形四探(tàn)針(zhēn)雙位(wèi)測量。

塞(sāi)貝克係數(shù)/電阻(zǔ)測量係統

適用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體,陶(táo)瓷材料,金屬(shǔ)材(cái)料等多(duō)種(zhǒng)材料的(dí)多(duō)種熱電(diàn)分(fēn)析(xī);可(kě)根(gēn)據(jù)用戶(hù)需求配(pèi)置薄(báo)膜測量(liáng)選件,低(dī)溫(wēn)選(xuǎn)件溫(wēn)度範圍-100℃到200℃,高阻選(xuǎn)件高至10MΩ

電卡(qiǎ)效應(yīng)測試(shì)功能

還可以用(yòng)於測(cè)試(shì)材料在(zài)寬溫(wēn)度範圍(wéi)內的電(diàn)卡。

溫(wēn)度(dù)範圍(wéi):-50℃到(dào)200℃,熱(rè)流時間(jiān)範圍(wéi):1s-1000s,大電壓(yā)可(kě)達(dá)10kV

波(bō)形:用(yòng)戶自定,脈衝(chōng),三(sān)角波,正(zhèng)弦波,任(rèn)意(yì)波形(xíng),預定義波形(xíng)。

功(gōng)能材(cái)料電(diàn)學(xué)綜合測(cè)試係(xì)統(tǒng)








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