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簡(jiǎn)要描述：華(huá)測儀器 國產定製鐵(tiě)電性能(néng)綜合(hé)測量(liáng)儀，內置(zhì)完(wán)整的(dí)專(zhuān)用工(gōng)控(kòng)計算(suàn)機主機(jī)，測(cè)試版路，運算(suàn)放(fàng)大器，數(shù)據(jù)處(chǔ)理(lǐ)單元(yuán)等(děng)，包括專(zhuān)用工控(kòng)計算(suàn)機主板，CPU(i5 或(huò)較高)，RAM(8G 或(huò)較大)，固(gù)態(tài)硬盤(pán)(250G 或較(jiào)大)，網卡，USB 接口，DVD 光驅， VGA 接口(kǒu)，預裝(zhuāng) Windows 7 操(cāo)作(zuò)係統(tǒng)，鐵(tiě)電(diàn)分析儀專用(yòng)測試(shì)軟件(jiàn)等(děng)。
產品(pǐn)型號(hào)：Huace FE廠商(shāng)性(xìng)質：生產廠家(jiā)更(gēng)新時間：2024-12-12訪 問 量：3399產(chǎn)品分類
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| 品(pǐn)牌(pái) | 華(huá)測(cè)儀器(qì) | 應用(yòng)領(lǐng)域(yù) | 環保,能源,電子(zǐ)/電池,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 內置電壓 (可外(wài)接(jiē)高壓放大(dà)器(qì)) | ±10V （可外(wài)接(jiē)不(bù)同型號放大(dà)器(qì)） | 可(kě)外(wài)接(jiē)高(gāo)壓放大器(qì) （最大可外(wài)接20KV高壓(yā)放(fàng)大(dà)器(qì)需(xū)配置(zhì)高壓防(fáng)護(hù)模(mó)塊） | ±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV |
| ADC位(wèi)數 | 18位(wèi) | zui小電荷分辨率(shuài) | <10fC |
| zui大電(diàn)荷分辨(biàn)率(shuài) | 27.6mC | zui小麵積分辨(biàn)率 | <1μ2 |
| zui大(dà)麵積分辨(biàn)率(shuài) | >100cm2 | zui大(dà)電滯(zhì)回綫測試(shì)頻(pín)率 | 270KHz @10V |
| zui低(dī)測(cè)試頻率(shuài) | 0.03Hz | 最小脈衝寬度 (此項指(zhǐ)標優(yōu)於(yú)進口(kǒu)設備(bèi)) | 0.5us |
華測儀器(qì) 鐵電性(xìng)能綜合(hé)測量(liáng)儀
產(chǎn)品介(jiè)紹(shào)：
華(huá)測儀器(qì) 鐵電性能綜(zōng)合測(cè)量儀有著(zhuó)寬(kuān)頻率響(xiǎng)應(yīng)範(fàn)圍及(jí)寬測(cè)試電壓範(fàn)圍。在(zài)內置(zhì)±10V電壓下，電滯回綫測試頻(pín)率可(kě)高(gāo)達(dá)500KHz；此(cǐ)係(xì)統包含HuacePro基(jī)本(běn)鐵電管理測(cè)試軟件。此(cǐ)外(wài)還(huán)可外部擴(kuò)展(zhǎn)電壓(yā)到(dào)4kV，10kV，20kV， Huace FE主機在不改變樣(yàng)品(pǐn)連(lián)接的(dí)情況下(xià)可(kě)執行電滯(zhì)回綫(xiàn)， 脈衝(chōng)，漏(lòu)電(diàn)流，IV，CV，擊穿測試，也(yě)可加(jiā)載選件實現(xiàn)壓(yā)電，熱釋電，TSDC和電卡(qiǎ)，阻抗(kàng)分(fēn)析，電阻(zǔ)測量(liáng)等特性測試功(gōng)能。內(nèi)置(zhì)完整(zhěng)的(dí)專(zhuān)用(yòng)工(gōng)控計(jì)算機(jī)主機，測(cè)試版(bǎn)路，運(yùn)算放大器，數據(jù)處理單元等(děng)，包(bāo)括(kuò)專(zhuān)用(yòng)工控(kòng)計算機主(zhǔ)板，CPU(i5 或較高(gāo))，RAM (8G 或較(jiào)大)，固態硬盤(250G 或(huò)較(jiào)大(dà))，網卡(qiǎ)，USB 接(jiē)口(kǒu)，DVD 光(guāng)驅， VGA 接(jiē)口，預裝 Windows 7 操(cāo)作係統，鐵(tiě)電分(fēn)析儀(yí)專(zhuān)用測(cè)試軟件等。
可擴展部(bù)件：
可(kě)與高低溫冷(lěng)熱(rè)台(tái)，高溫測試(shì)裝置，探(tàn)針(zhēn)台，高壓(yā)放大器，高(gāo)阻計，阻抗分析(xī)儀(yí)， 激(jī)光(guāng)幹(gān)涉儀，溫控控製器，數(shù)字源表(biǎo)等擴(kuò)展。
塊體(tǐ)測試夾(jiā)具(jù)： 用於厚膜，塊(kuài)體(tǐ)鐵(tiě)電，擊(jī)穿測(cè)試(shì)可(kě)擴展(zhǎn)變(biàn)溫(wēn)功(gōng)能。
薄(báo)膜四探針探針(zhēn)台(tái)：室溫到 250℃ 可用於厚膜(mó)鐵(tiě)電(diàn)，壓電(diàn) （e31），熱(rè)釋電(diàn)測試。
薄(báo)膜寬溫區探(tàn)針(zhēn)冷(lěng)熱(rè)台(tái)： -196℃到(dào)+600℃ 可用於薄膜和厚膜(mó)變溫(wēn)的鐵(tiě)電(diàn)和熱(rè)釋電測試。
薄膜(mó)探(tàn)針(zhēn)台(tái)（國產(chǎn)）： 室溫鐵電測(cè)試(shì) 可用於(yú)薄膜和(hé)厚膜室溫(wēn)鐵(tiě)電(diàn)性能測(cè)試(shì)
產(chǎn)品係列(liè)：
功能材(cái)料(liào)電學(xué)綜合(hé)測試係統，絕(jué)緣(yuán)診斷測(cè)試係統，高低溫介電(diàn)溫譜(pǔ)測試儀(yí)，極化裝置與(yǔ)電源，高(gāo)壓放大器，PVDV薄膜極化，高低溫(wēn)冷熱(rè)台(tái)，鐵電壓電熱釋電測(cè)試(shì)儀，絕緣材料(liào)電學(xué)性(xìng)能綜合測試平台(tái)，電擊穿強度試驗儀，耐(nài)電弧試(shì)驗儀(yí)，高壓漏電起(qǐ)痕(hén)測試(shì)儀(yí)，衝(chōng)擊電壓(yā)試(shì)驗儀(yí)，儲能(néng)材(cái)料電學測控(kòng)係(xì)統，壓電(diàn)傳(chuán)感器測(cè)控係(xì)統。
華(huá)測(cè)儀器(qì) 國(guó)產定製(zhì)鐵(tiě)電(diàn)性能綜合測量儀(yí)
華(huá)測(cè)儀(yí)器 國(guó)產定製鐵(tiě)電(diàn)性(xìng)能綜合測(cè)量(liáng)儀(yí)
華(huá)測(cè)儀器 國(guó)產定製鐵電(diàn)性能綜(zōng)合(hé)測量儀
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