HC功能材料(liào)綜合測(cè)試係統

HC功能材料(liào)綜合測(cè)試(shì)係統(tǒng)-國(guó)產/定製產(chǎn)品(pǐn)簡(jiǎn)介

HC功能材(cái)料(liào)綜(zōng)合測試係統-國(guó)產/定(dìng)製可完成功(gōng)能材(cái)料(liào)鐵電(diàn)，壓電，熱(rè)釋電(diàn)，介(jiè)電，絕緣(yuán)電阻等(děng)電(diàn)學測(cè)試，以及高(gāo)，低溫環(huán)境下的(dí)電(diàn)學測試(shì)。與電(diàn)學(xué)檢(jiǎn)測儀器在通訊協議，數據庫處理，軟(ruǎn)件兼容性(xìng)做(zuò)了大(dà)量的(dí)接口。無(wú)論(lùn)在軟件(jiàn)與(yǔ)硬件(jiàn)方麵(miàn)，使本(běn)套儀(yí)器在未來(lái)更(gēng)易(yì)於擴展。更加節省(shěng)改造時間與(yǔ)硬件(jiàn)成(chéng)本(běn)。

*的(dí)測試功能

鐵(tiě)電(diàn)參數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回綫(xiàn)測(cè)試頻率(shuài);

Static Hysterestic 靜態電(diàn)滯(zhì)回(huí)綫測(cè)試；

PUND 脈衝測試；

Fatigue 疲(pí)勞(láo)測試(shì)；

Retention保(bǎo)持力(lì)；

Imprint印跡；

Leakage current漏(lòu)電(diàn)流(liú)測試(shì)；

Thermo Measurement 變(biàn)溫測(cè)試功能

壓(yā)電(diàn)參數(shù)測試功(gōng)能

可進(jìn)行(háng)壓電(diàn)陶(táo)瓷的(dí)準(zhǔn)靜(jìng)態(tài)d33等參數測試(shì)，也(yě)可通過高壓放(fàng)大器與位移(yí)傳(chuán)感器（如激(jī)光幹(gān)涉儀(yí)）動態法測(cè)量(liáng)壓(yā)電(diàn)係數測量。

熱釋電測試(shì)功(gōng)能

主要用於(yú)薄(báo)膜及塊體材(cái)料變(biàn)溫(wēn)的熱釋電性能(néng)測試。采(cǎi)用電(diàn)流(liú)法進行測量材(cái)料(liào)的(dí)熱(rè)釋電電(diàn)流，熱釋電係(xì)數，剩(shèng)餘(yú)極化強(qiáng)度(dù)對(duì)溫度和時(shí)間(jiān)的曲綫。

薄(báo)膜材料變溫(wēn)範(fàn)圍
：-196℃到(dào)+600℃；

塊(kuài)體材(cái)料變溫範圍
：室溫(wēn)到200℃，室(shì)溫(wēn)到(dào)600℃，室(shì)溫(wēn)到(dào)800℃

介(jiè)電溫譜(pǔ)測試(shì)功(gōng)能

用於(yú)分析(xī)寬頻，高低溫(wēn)環境條件下(xià)功(gōng)能材料的阻抗Z，電抗(kàng)X，導(dǎo)納Y，電導G，電納(nà)B，電(diàn)感(gǎn)L，介電損耗D，品(pǐn)質(zhì)因(yīn)數Q等物(wù)理量，同(tóng)時(shí)還(huán)可(kě)以分析(xī)被(bèi)測(cè)樣品隨(suí)溫(wēn)度(dù)，頻(pín)率，時(shí)間(jiān)，偏(piān)壓變化的曲綫。也(yě)可進行壓電(diàn)陶瓷的(dí)居(jū)裏溫(wēn)度(dù)測(cè)試(shì)。

熱(rè)激發極化(huà)電流測(cè)試(shì)儀 TSDC

用於研究材功材料性能的(dí)一些關(guān)鍵因素，諸(zhū)如分子弛(chí)豫，相(xiāng)轉變(biàn)，玻璃化溫度(dù)等(děng)等，通(tōng)過TSDC技(jì)術(shù)也可(kě)以(yǐ)比較直(zhí)觀的(dí)研究(jiū)材料的弛(chí)豫時間，活(huó)化(huà)能等相(xiāng)關的介電(diàn)特性。

絕緣電阻(zǔ)測(cè)試功(gōng)能

高(gāo)精zhun度的(dí)電壓(yā)輸(shū)出(chū)與電(diàn)流測(cè)量(liáng)，保障(zhàng)測(cè)試的品質，適用(yòng)於(yú)功能材(cái)料在高溫(wēn)環境材(cái)料的數據的檢測(cè)。例如
：陶(táo)瓷(cí)材料，矽橡膠測試(shì)，PCB，雲母，四氟材料(liào)電(diàn)阻測試(shì)，也可(kě)做為科研院(yuàn)所新材料的(dí)高溫(wēn)絕緣(yuán)電阻的性(xìng)能測(cè)試。

高(gāo)溫四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試功能

符合(hé)功能材(cái)料導體(tǐ)，半導體材(cái)料與其(qí)它新(xīn)材(cái)料在(zài)高(gāo)溫環境下測(cè)試多樣化的(dí)需求。雙(shuāng)電(diàn)測數字式四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀是(shì)運(yùn)用直綫(xiàn)或(huò)方形四(sì)探針雙(shuāng)位(wèi)測(cè)量(liáng)。該儀(yí)器(qì)設計符合單(dān)晶矽物理測(cè)試(shì)方法(fǎ)國家(jiā)標準並參考(kǎo)美國(guó)A.S.T.M標準(zhǔn)。也(yě)可應用(yòng)於產品檢(jiǎn)測以(yǐ)及(jí)新材料電(diàn)學性能研究(jiū)等用途。

塞(sāi)貝克(kè)係(xì)數/電(diàn)阻測量(liáng)係統

適(shì)用於半導(dǎo)體，陶瓷(cí)材料，金屬材料等(děng)多種材(cái)料(liào)的多種熱(rè)電性能分(fēn)析(xī)；可根據用戶(hù)需(xū)求配(pèi)置薄(báo)膜(mó)測量選件，低溫選件溫(wēn)度範圍(wéi)-100℃到(dào)200℃，高阻(zǔ)選(xuǎn)件高至10MΩ。

電(diàn)卡效應測(cè)試功能

還可以(yǐ)用於(yú)測(cè)試材料在寬溫(wēn)度(dù)範圍內的(dí)電(diàn)卡(qiǎ)性能(néng)。

溫度(dù)範(fàn)圍
：-50℃到(dào)200℃，熱流時間(jiān)範圍
：1s-1000s，

zui大(dà)電壓可(kě)達10kV，

波形
：用戶自定，脈衝(chōng)，三角波，正弦(xián)波(bō)，任意波形(xíng)，預定義(yì)波形。

價(jià)格(gé)說明(míng)
：所標價格均為參考價(jià)格(gé)，可聯係客服或銷售人員具體報(bào)價。

售後(hòu)服(fú)務:

1，保修(xiū)期(qī)內(nèi)零部件免費換(huàn)，保證有(yǒu)充足的部件或(huò)配件，並承(chéng)擔修理(lǐ)，調(tiáo)換(huàn)或(huò)退貨(huò)的實際費用，超(chāo)過(guò)保修期後，如需(xū)要(yào)換零部(bù)件時，已(yǐ)優(yōu)惠價格(gé)8折提(tí)供(gōng)，僅(jǐn)收取配件費，在(zài)退換過程中(zhōng)我公(gōng)司(sī)最(zuì)多不(bù)超過(guò)2天(tiān)，24小(xiǎo)時服(fú)務(wù)熱(rè)綫，1小(xiǎo)時(shí)內響(xiǎng)應，維修(xiū)人員及(jí)時(shí)到(dào)達現場維修，排除(chú)故障(zhàng)；如(rú)在12小(xiǎo)時內(nèi)不(bù)能將(jiāng)故障(zhàng)設(shè)備(bèi)修好(hǎo)，將提(tí)供(gōng)同等(děng)型號的備(bèi)用設備(bèi)，待(dài)設(shè)備修好後，在收回備(bèi)用設備(bèi)。

2，提供(gōng)完整的隨機資料(liào)，包(bāo)括完整(zhěng)的使用手(shǒu)冊等，並(bìng)提(tí)供(gōng)免(miǎn)費的(dí)培訓和(hé)資料(liào)。

華測國產功能材料(liào)綜(zōng)合測試(shì)係(xì)統(tǒng)鐵電儀定製

華(huá)測國(guó)產功(gōng)能材料(liào)綜合測(cè)試(shì)係統鐵(tiě)電儀定(dìng)製(zhì)

華(huá)測國(guó)產功能材料綜合測(cè)試(shì)係統(tǒng)鐵(tiě)電儀(yí)定(dìng)製