MLCC高(gāo)壓(yā)電(diàn)容(róng)器高(gāo)電場介(jiè)電，損(sǔn)耗(hào)，電滯(zhì)回綫測試係(xì)統

MLCC高壓電(diàn)容器高電(diàn)場介(jiè)電(diàn)損耗(hào)電滯回綫(xiàn)係(xì)統可實現(xiàn)從低頻到(dào)高(gāo)頻信號的輸出與(yǔ)測量，係統(tǒng)由工(gōng)控機發出(chū)指(zhǐ)令(líng)，單片機(jī)控製FPGA發(fā)出測(cè)量波(bō)形，FPGA一路(lù)信(xìn)號控製不同(tóng)頻(pín)率幅值(zhí)的信號(hào)由高壓放大器進行電壓放(fàng)大後(hòu)，施加在樣品(pǐn)上，另(lìng)一(yī)路施加(jiā)在(zài)鎖相放大器作為參考(kǎo)信(xìn)號(hào)，不同(tóng)頻率(shuài)幅值(zhí)的高(gāo)壓(yā)信號加載樣樣(yàng)品上(shàng)，樣(yàng)品測(cè)量的(dí)信(xìn)號(hào)測(cè)量後(hòu)，再(zài)回傳FPGA測試板卡。測量的數據(jù)再由單片(piàn)機(jī)回傳(chuán)工(gōng)控(kòng)機(jī)進(jìn)行數(shù)據處理。

它(tā)使用(yòng)真(zhēn)正的(dí) AC DFR（介電頻(pín)率響應），保(bǎo)持出色(sè)的準(zhǔn)確(què)性(xìng)和提供可(kě)靠數據(jù)的能力，可在(zài)高幹擾環(huán)境(jìng)中(zhōng)獲得可(kě)靠(kào)的測試(shì)結(jié)果。 該(gāi)軟件(jiàn)使測試既簡單又快捷(jié)，它可在(zài)進行(háng)不同溫(wēn)度，頻率下(xià)測(cè)量(liáng)材料(liào)的介電(diàn)常數及介質損耗(hào)因數(shù)。本套係(xì)統(tǒng)可(kě)以(yǐ)在任意電壓(yā)激(jī)勵下的介電(diàn)響應測試根據(jù)需要(yào)自(zì)定義輸出任意(yì)電壓(yā)波形(xíng)激勵，滿(mǎn)足對不同條件(jiàn)下不同絕緣(yuán)材料不(bù)同(tóng)方麵的測(cè)試需求，較好(hǎo)地(dì)適(shì)應(yīng)用(yòng)戶需求(qiú)。

設(shè)計框(kuàng)圖

產(chǎn)品(pǐn)優勢

MLCC高壓電容(róng)器(qì)高電(diàn)場介(jiè)電損耗電滯回綫(xiàn)係統對被(bèi)測信號進行調整的(dí)信號源(yuán)，由鎖相放大器(qì)的信號(hào)輸(shū)出(chū)端提供(gōng)，采(cǎi)用內(nèi)部參(cān)考模式，這(zhè)種模式(shì)幅(fú)於(yú)鎖(suǒ)相放(fàng)大器(qì)對(duì)直(zhí)接可(kě)以(yǐ)獲取的(dí)參考(kǎo)信號(hào)的幅(fú)度及(jí)相位(wèi)，測量精(jīng)度更高。數字(zì)鎖相放大器不會(huì)由於(yú)算法計算而(ér)引(yǐn)入(rù)或(huò)考增(zēng)加(jiā)噪聲(shēng)，並且基本(běn)不(bù)受外界環(huán)境的幹擾。