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簡要描(miáo)述:華(huá)測(cè)儀器SIR-450寬(kuān)溫域絕緣電(diàn)阻測試(shì)係統(tǒng)在電子產品(pǐn)中,電容(róng)器,電(diàn)阻(zǔ)器,半(bàn)導體器件等需要在不同溫(wēn)度下(xià)進行試(shì)驗,以(yǐ)評(píng)估(gū)其(qí)性(xìng)能和(hé)可靠性。
產品分(fēn)類
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| 品牌(pái) | 華測儀器 | 產地類別 | 國(guó)產 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 能(néng)源,航空航天(tiān),汽車及零部件,電氣(qì),綜合 |
華測儀(yí)器SIR-450寬溫(wēn)域絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)係(xì)統(tǒng)
價格僅供(gōng)參考,如需獲取更詳盡的(dí)產品技術規格書,定(dìng)製(zhì)方案(àn)或應(yīng)用(yòng)案例,歡(huān)迎(yíng)致電(diàn)我司(sī)技(jì)術(shù)工程(chéng)師
SIR-450寬溫域絕緣電阻測試(shì)係(xì)統(tǒng)由華(huá)測儀(yí)器生產,高低溫環(huán)境下(xià)的(dí)絕(jué)緣電(diàn)阻測(cè)試(shì)技術用於預(yù)測EMC的HTRB性(xìng)能。電(diàn)介(jiè)質(zhì)樣(yàng)品暴露(lòu)在(zài)高電(diàn)場強(qiáng)度和(hé)高(gāo)溫環境下,在這種情況(kuàng)下(xià),高分子(zǐ)聚(jù)合物(wù)材(cái)料(liào)在高(gāo)溫環(huán)境(jìng)下具有負阻性(xìng)的特(tè)征(zhēng),電(diàn)阻(zǔ)(率)隨(suí)著(zhuó)溫度(dù)的(dí)上升而下(xià)降(jiàng),HTRB性能之間(jiān)的相關(guān)性表明,隨著(zhuó)溫度(dù)的(dí)上升電(diàn)阻(zǔ)率越下降嚴(yán)重(zhòng),而HTRB性(xìng)能越(yuè)差,因(yīn)此,材(cái)料的電(diàn)阻率(shuài)是(shì)HTRB失效測量(liáng)的(dí)手段。
產(chǎn)品參(cān)數
溫度範圍(wéi):-100~350°C
控溫精(jīng)度(dù):0.5°C
升溫斜率:10℃/min(可(kě)設定(dìng))
電阻:1×1016Ω
電阻率(shuài):1×103Ω~1×1016Ω
輸入(rù)電(diàn)壓(yā):220V
樣(yàng)品尺寸(cùn):φ<25mm,d<4mm
電極材料:黃銅(tóng)
夾具輔(fǔ)助材(cái)料(liào):99氧化(huà)鋁(lǚ)陶瓷(cí)
絕緣(yuán)材料:99氧(yǎng)化(huà)鋁陶(táo)瓷
測(cè)試功(gōng)能(néng):高(gāo)低溫(wēn)電阻率(shuài)
數據傳(chuán)輸(shū):RS-232
支(zhī)持的硬(yìng)件
1.多核(hé)高性(xìng)能處(chǔ)理器
2.集成打印接口(kǒu),可(kě)擴充(chōng)8個USB接(jiē)口
3.支(zhī)持(chí)16g內(nèi)存(cún),250g固態硬(yìng)盤
多種(zhǒng)加(jiā)溫(wēn)方(fāng)式
匀速度加熱(rè)試驗
階(jiē)梯(tī)式(shì)加熱(rè)試驗
熱循環試驗(yàn)(僅(jǐn)供(gōng)反射爐)
降溫試(shì)驗(yàn)
加速(sù)度升溫(僅供(gōng)反射爐(lú))

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