
當(dāng)前位(wèi)置:首頁(yè) > 產品(pǐn)中心 > 新(xīn)品(pǐn)推薦 > 絕緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(離子遷移)評估(gū)係統 > Huace多(duō)通(tōng)道絕緣電阻劣化評價(jià)係統簡要描述(shù):華測(cè)儀器多(duō)通道絕緣(yuán)電阻劣化(huà)評價(jià)係統是觀(guān)察綫(xiàn)路(lù)是(shì)否有(yǒu)瞬間短(duǎn)路的(dí)現(xiàn)象(xiàng)發生,並(bìng)記錄(lù)電阻(zǔ)值的變化狀(zhuàng)況,從而評(píng)估絕緣(yuán)材料(liào)的劣化(huà)程度和離子遷移現象的影響。
產品分類
Product Category相(xiāng)關(guān)文(wén)章
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| 品牌(pái) | 華測儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別(bié) | 國(guó)產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源(yuán),航空航(háng)天(tiān),汽車(chē)及(jí)零(líng)部件(jiàn),電(diàn)氣,綜(zōng)合 |
華測儀器(qì) 多(duō)通道(dào)絕緣(yuán)電阻劣(liè)化(huà)評(píng)價(jià)係統(tǒng)
價格(gé)僅(jǐn)供參考(kǎo),如需獲取(qǔ)更詳(xiáng)盡(jìn)的產(chǎn)品技術規格書(shū),定製方(fāng)案(àn)或應(yīng)用案例,歡迎致電(diàn)我司技術(shù)工程(chéng)師
多通道絕緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(huà)評價(jià)係統由華測(cè)儀器(qì)生產(chǎn),離(lí)子(zǐ)遷移(yí)是指電(diàn)路板(bǎn)上(shàng)的金屬如銅(tóng),銀(yín),錫等(děng)在(zài)一(yī)定(dìng)條件下(xià)發(fā)生離(lí)子(zǐ)化並在電(diàn)場作(zuò)用(yòng)下通(tōng)過絕(jué)緣層(céng)向(xiàng)另一極遷移(yí)而(ér)導致絕緣性能(néng)下(xià)降(jiàng)。華測儀器(qì)的業(yè)務(wù)涵蓋(gài)從(cóng)單台(tái)測試(shì)設(shè)備供應到整體(tǐ)實驗(yàn)室規劃建(jiàn)設的(dí)全(quán)過(guò)程。建(jiàn)設(shè)絕緣材(cái)料或(huò)功(gōng)能材料電性能檢測(cè)實驗(yàn)室,華(huá)測儀器可提(tí)供從(cóng)方(fāng)案(àn)設(shè)計到(dào)交付(fù)驗收的完整(zhěng)服務。
產品(pǐn)參數
測量(liáng)電(diàn)壓:100 ~ 1500V(可定(dìng)製)
測試通道:128通(tōng)道(dào)(可定製(zhì)至(zhì)高(gāo)960通(tōng)道(dào))
測(cè)試時長(cháng):可(kě)連(lián)續(xù)運行1500小(xiǎo)時
測試溫(wēn)度:85℃(可定(dìng)製(zhì))
測試(shì)濕(shī)度:85%(可定(dìng)製(zhì))
測量(liáng)範(fàn)圍(wéi):1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極(jí)化(huà)電(diàn)壓:100 ~ 1500V(可(kě)定製)
掃(sǎo)描周期(qī):至快2分鐘(zhōng)(128通道)
應(yīng)用領域(yù)
電(diàn)子材料:印刷BGA,CSP等節(jié)距IC封(fēng)裝件
封(fēng)裝(zhuāng)材料(liào):助焊(hàn)劑(jì),印刷(shuā)電路板(bǎn),光刻(kè)膠,釺(qiān)料(liào),樹(shù)脂,導電膠(jiāo)等有關印(yìn)刷(shuā)電路(lù)板,密度高的封(fēng)裝材料
半導(dǎo)體:PPV,NDI,OFETs,OSCs,OLEDs等(děng)
電子元器件:電容,連接器等其他電(diàn)子(zǐ)元(yuán)器(qì)件及(jí)材料
絕緣(yuán)材(cái)料:各(gè)種(zhǒng)絕緣材料的(dí)吸(xī)濕性(xìng)特性評估

產品咨詢(xún)

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