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當(dāng)前位(wèi)置：首頁(yè) > 產品中心 > 新品推(tuī)薦 > 絕緣電(diàn)阻(zǔ)劣化（離(lí)子遷移）評(píng)估係統 > Huace絕緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)劣化(huà)與離子(zǐ)遷(qiān)移(yí)綜合(hé)評估係統簡要(yào)描述(shù)：華(huá)測儀器(qì)絕緣電阻劣化與離(lí)子遷移綜合評估係統，離子遷(qiān)移(yí)是(shì)指電路(lù)板(bǎn)上的金屬如(rú)銅，銀，錫等(děng)在一(yī)定條(tiáo)件下發生(shēng)離子(zǐ)化(huà)並(bìng)在(zài)電(diàn)場作(zuò)用下(xià)通過絕(jué)緣(yuán)層(céng)向另一(yī)極遷(qiān)移(yí)而導致絕緣(yuán)性(xìng)能下(xià)降。
產品型(xíng)號(hào)：Huace廠(chǎng)商性(xìng)質：生產廠家更新時(shí)間(jiān)：2026-06-11訪 問 量(liáng)：198產品(pǐn)分類
Product Category詳細(xì)介紹(shào)
| 品牌 | 華(huá)測儀(yí)器(qì) | 產(chǎn)地(dì)類(lèi)別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用(yòng)領域 | 能源(yuán),航空航天,汽車及零部件(jiàn),電氣,綜合 |
華測(cè)儀器絕緣電(diàn)阻(zǔ)劣(liè)化與離子(zǐ)遷(qiān)移綜(zōng)合評估(gū)係統
價格僅(jǐn)供參考(kǎo)，如需獲取更詳(xiáng)盡的產品技術規格(gé)書，定(dìng)製(zhì)方案或應用案例(lì)，歡(huān)迎(yíng)致電我(wǒ)司技(jì)術(shù)工程師
絕緣電阻(zǔ)劣(liè)化(huà)與(yǔ)離子(zǐ)遷移(yí)綜(zōng)合(hé)評估(gū)係統由華(huá)測(cè)儀(yí)器生產，是(shì)一(yī)種信(xìn)賴性(xìng)試(shì)驗設(shè)備(bèi)，它通(tōng)過(guò)在印刷電(diàn)路(lù)板上施加固定的(dí)直流(liú)電(diàn)壓，並經(jīng)過(guò)長時間的測試(shì)（1~1000小(xiǎo)時(shí)可按(àn)需定製(zhì)），觀(guān)察綫路是(shì)否(fǒu)有(yǒu)瞬(shùn)間短路的現象發(fā)生，並記錄(lù)電阻值(zhí)的(dí)變化(huà)狀況，從(cóng)而(ér)評估絕緣材(cái)料(liào)的劣化程(chéng)度(dù)和(hé)離子遷移(yí)現象的影響(xiǎng)。
產品(pǐn)參數
測(cè)量(liáng)電(diàn)壓(yā):100 ~ 1500V（根據用(yòng)戶(hù)需(xū)求定(dìng)製）
測試通(tōng)道:128通(tōng)道（可定製至高(gāo)960通(tōng)道(dào)）
測試時(shí)長:可連續運行1500小時
測(cè)試(shì)溫(wēn)度(dù):85℃（可定製(zhì)）
測(cè)試濕(shī)度:85%（可定製(zhì)）
測(cè)量(liáng)範(fàn)圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化電(diàn)壓(yā):100 ~ 1500V（可(kě)定製）
掃描周期(qī):至快(kuài)2分鐘(zhōng)（128通道）
應(yīng)用(yòng)領域(yù)
1.電(diàn)子材料：印(yìn)BGA，CSP等(děng)節距IC封(fēng)裝(zhuāng)件(jiàn)；
2.封(fēng)裝材(cái)料：助焊劑(jì)，印刷電(diàn)路(lù)板，光(guāng)刻膠，釺料，樹(shù)脂，導電(diàn)膠等有(yǒu)關(guān)印(yìn)刷電(diàn)路(lù)板，密度(dù)高的(dí)封裝材料；
3.半導體：PPV，NDI，OFETs，OSCs，OLEDs等；
4.電子元(yuán)器件：電容(róng)，連(lián)接器等(děng)其(qí)他電子(zǐ)元器件及材(cái)料；
5.絕(jué)緣材料(liào)：各(gè)種絕緣(yuán)材(cái)料的吸濕性特(tè)性評估。
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