高(gāo)電(diàn)場(cháng)介(jiè)電，損耗，漏電流(liú)測(cè)試係(xì)統(tǒng)

高電(diàn)場(cháng)介電(diàn)，損耗(hào)，漏(lòu)電流(liú)測(cè)試(shì)係(xì)統可實(shí)現從(cóng)低頻(pín)到(dào)高頻(pín)信號(hào)的輸(shū)出(chū)與(yǔ)測量(liáng)，係(xì)統由工控機發(fā)出(chū)指令，單(dān)片機(jī)控(kòng)製(zhì)FPGA發出測量波形(xíng)，FPGA一路(lù)信(xìn)號控(kòng)製(zhì)不同頻率幅值(zhí)的信(xìn)號由高(gāo)壓放(fàng)大(dà)器進行電(diàn)壓放(fàng)大(dà)後(hòu)，施(shī)加(jiā)在樣品上，另一路施加(jiā)在鎖(suǒ)相(xiāng)放(fàng)大(dà)器(qì)作為參(cān)考信(xìn)號(hào)，不同頻(pín)率幅(fú)值(zhí)的高(gāo)壓(yā)信號加(jiā)載(zǎi)樣樣品上，樣(yàng)品測量(liáng)的(dí)信號測量後(hòu)，再回傳(chuán)FPGA測試板卡(qiǎ)。測(cè)量的數據再由單片(piàn)機回傳(chuán)工(gōng)控機(jī)進(jìn)行(háng)數據(jù)處(chǔ)理。

它使用真(zhēn)正的 AC DFR（介(jiè)電頻(pín)率響(xiǎng)應），保(bǎo)持出色的準(zhǔn)確(què)性和(hé)提(tí)供(gōng)可(kě)靠數據的(dí)能力，可在高(gāo)幹擾(rǎo)環(huán)境中(zhōng)獲得(dé)可靠的(dí)測試(shì)結果。 該軟件(jiàn)使測(cè)試(shì)既簡單(dān)又快(kuài)捷，它(tā)可在進行不同溫度，頻(pín)率(shuài)下測(cè)量材(cái)料的介電常數及(jí)介質損耗因(yīn)數。本(běn)套係(xì)統可以在任(rèn)意電(diàn)壓激(jī)勵下的介(jiè)電(diàn)響應測試(shì)根(gēn)據需(xū)要自(zì)定(dìng)義(yì)輸(shū)出任意電(diàn)壓(yā)波形激勵，滿足(zú)對不(bù)同條件下不同絕緣(yuán)材料(liào)不同方(fāng)麵的測(cè)試(shì)需(xū)求(qiú)，較(jiào)好(hǎo)地適(shì)應用戶需(xū)求。

設計(jì)框圖

產(chǎn)品優勢

對被測信號進行調整的信號(hào)源，由鎖相放大器的信號(hào)輸(shū)出(chū)端提(tí)供，采(cǎi)用內(nèi)部參考(kǎo)模式(shì)，這種模(mó)式(shì)幅(fú)於鎖相(xiāng)放(fàng)大器對直(zhí)接(jiē)可以(yǐ)獲(huò)取的(dí)參考(kǎo)信號的(dí)幅度及相(xiāng)位，測量精度(dù)更(gēng)高。數(shù)字鎖相放(fàng)大器(qì)不會由於算(suàn)法計算(suàn)而引(yǐn)入或(huò)考(kǎo)增加(jiā)噪聲，並(bìng)且基(jī)本不(bù)受(shòu)外(wài)界環境的(dí)幹擾。