
當前(qián)位置:首頁 > 產(chǎn)品(pǐn)中(zhōng)心(xīn) > 半導體封裝材(cái)料(liào)測試係統(tǒng) > TSDC測試係統(tǒng) > Huace-TSDC熱刺激(jī)去(qù)極化(huà)電(diàn)流(liú)(TSDC)測試(shì)係統簡(jiǎn)要(yào)描述(shù):華(huá)測儀(yí)器(qì)熱刺激去(qù)極化電流(TSDC)測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)采用(yòng)了(liǎo)直流(liú)加熱(rè)方(fāng)式進行(háng)加熱,加入濾波等(děng)方(fāng)式以更好的減(jiǎn)少測量(liáng)過(guò)程中(zhōng)的(dí)影響因素(sù),提(tí)高了測量的精度。
產(chǎn)品分(fēn)類
Product Category相(xiāng)關文章(zhāng)
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| 品(pǐn)牌(pái) | 華測儀器 | 產地類別(bié) | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空(kōng)航天(tiān),汽(qì)車及零部(bù)件,電氣(qì),綜(zōng)合 |
華測(cè)儀(yí)器(qì)熱刺激(jī)去(qù)極化電(diàn)流(TSDC)測(cè)試(shì)係統
價格(gé)僅(jǐn)供參(cān)考(kǎo),如(rú)需獲取(qǔ)更(gēng)詳(xiáng)盡的(dí)產品技(jì)術規(guī)格(gé)書(shū),定製(zhì)方案(àn)或(huò)應用(yòng)案(àn)例,歡(huān)迎致(zhì)電我司技術(shù)工程(chéng)師
熱刺激去極化(huà)電流(TSDC)測(cè)試係(xì)統由華測儀器(qì)生(shēng)產,采(cǎi)用平(píng)行板(bǎn)電極(jí)法測量原理,支持(chí)測(cè)試電(diàn)壓上限10kV,通過冷熱(rè)台的方式(shì)進行(háng)加溫與製冷,測量使(shǐ)用低(dī)噪(zào)聲綫纜,減少(shǎo)測試導(dǎo)綫(xiàn)的影(yǐng)響誤差,電(diàn)極加熱(rè)采用直流電極(jí)加(jiā)熱(rè)方式(shì),減少(shǎo)電(diàn)網諧波對測(cè)量(liáng)儀表(biǎo)的(dí)幹擾。在測試(shì)功能(néng)上增加了高阻(zǔ)測試,擊穿(chuān)測試等(děng)測量功能,滿足多(duō)樣(yàng)化測試需(xū)求,僅用一台TSDC熱刺激(jī)電(diàn)流測試儀就能實現眾(zhòng)多儀器的測量(liáng)功能。
產(chǎn)品參數
溫(wēn)度(dù)範圍:-185~400°C
控(kòng)溫精度(dù):±0.25°C
升溫速率(shuài):0~20℃(可(kě)設(shè)定)
測試(shì)頻率(shuài):電壓(yā)上(shàng)限:±10kV
加(jiā)熱(rè)方式:直(zhí)流(liú)電(diàn)極加熱
降(jiàng)溫(wēn)方式:水(shuǐ)冷(lěng)
輸入電(diàn)壓:AC:220V
測量(liáng)方(fāng)法(fǎ):平行(háng)板電(diàn)極(jí)法
樣品尺(chǐ)寸(cùn):φ≤25mm,d≤2mm
電(diàn)極材料:銅(tóng)
夾具輔助材料(liào):99氧化鋁陶(táo)瓷
低(dī)溫製冷:液(yè)氮(dàn)
測(cè)試功能:可實現高低溫環(huán)境下電阻(zǔ),介(jiè)電(diàn)溫譜(pǔ),TSDC,熱釋電(diàn)測量(liáng)
數(shù)據(jù)傳輸(shū):RS-232(配(pèi)有TSDC測(cè)試卡)
應(yīng)用(yòng)領域
應用於電(diàn)力(lì),絕(jué)緣等(děng)材料(liào)領(lǐng)域(yù),用於研(yán)究材料(liào)性能的一些(xiē)關(guān)鍵(jiàn)因素,諸如分子弛(chí)豫,相(xiāng)轉變,玻璃化溫度(dù)等(děng),通過TSDC電流可以(yǐ)比較(jiào)直觀地研(yán)究材料(liào)的弛豫時間(jiān)等相關的(dí)介(jiè)電特(tè)性(xìng)。

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