華(huá)測(cè)儀器SIR-450半導(dǎo)體材(cái)料高低(dī)溫(wēn)絕緣(yuán)電阻率測(cè)試(shì)係(xì)統

價(jià)格僅供參(cān)考，如需(xū)獲取(qǔ)更詳盡的產(chǎn)品技術規(guī)格書，定製方(fāng)案(àn)或(huò)應用(yòng)案(àn)例，歡(huān)迎致電(diàn)我司技(jì)術工(gōng)程(chéng)師

SIR-450半導體(tǐ)材料(liào)高低溫(wēn)絕(jué)緣(yuán)電阻率測試係統(tǒng)由華測儀(yí)器(qì)生(shēng)產(chǎn)，介質樣品(pǐn)暴露在(zài)高電場強(qiáng)度和高溫環境(jìng)下(xià)，在(zài)這(zhè)種(zhǒng)情(qíng)況下(xià)，高(gāo)分(fēn)子聚合(hé)物材料在高(gāo)溫環境下具有負(fù)阻性的(dí)特征，電阻(zǔ)（率(shuài)）隨著溫(wēn)度(dù)的(dí)上(shàng)升而(ér)下(xià)降，HTRB性(xìng)能之間的相關性表(biǎo)明，隨著溫度(dù)的上(shàng)升(shēng)電阻(zǔ)率越(yuè)下(xià)降嚴重(zhòng)，而HTRB性能(néng)越(yuè)差，因(yīn)此，材(cái)料的電(diàn)阻(zǔ)率是(shì)HTRB失效(xiào)測量的(dí)一個(gè)測(cè)量手段。

產(chǎn)品參(cān)數

溫(wēn)度範(fàn)圍(wéi)：-100~350°C

控溫(wēn)精度(dù)：0.5°C

升(shēng)溫斜(xié)率：10℃/min（可設定(dìng)）

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣(yàng)品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

測試功(gōng)能：高低溫(wēn)電阻率(shuài)

應(yīng)用(yòng)領域

電子元器件(jiàn)：在電子產品(pǐn)中，電(diàn)容器，電(diàn)阻器，半導體(tǐ)器件等需(xū)要在不(bù)同溫(wēn)度下進行(háng)試驗，評估(gū)其(qí)性(xìng)能(néng)和可(kě)靠(kào)性(xìng)

新(xīn)能源(yuán)材(cái)料(liào)：對於新(xīn)能源材(cái)料如(rú)鋰電池(chí)和太陽能電池，高低(dī)溫(wēn)試(shì)驗(yàn)尤(yóu)為(wéi)重要

汽(qì)車(chē)零部件：汽(qì)車(chē)零(líng)部件(jiàn)需(xū)在(zài)不同(tóng)的(dí)氣候(hòu)條(tiáo)件下進行(háng)試驗，評(píng)估(gū)其(qí)耐用性和(hé)可靠性

半(bàn)導體材(cái)料：半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料的(dí)電阻率測試(shì)在(zài)高低溫條件下(xià)進行(háng)，可用(yòng)於(yú)測(cè)量(liáng)矽（Si），鍺（Ge）等材(cái)料(liào)的電阻率